單片機(jī)系統(tǒng)RAM的測(cè)試方法研究

2 基于種子和逐位倒轉(zhuǎn)的RAM測(cè)試方法

基于種子和逐位倒轉(zhuǎn)的測(cè)試方法是在方法3的基礎(chǔ)上進(jìn)一步改進(jìn)獲得的。方法3主要是使用全O和全1兩個(gè)背景數(shù)來移位展開的，與MARCH―G算法相比獲得的故障覆蓋率稍微低些，但使用了較少的地址單元。這里我們把方法3中的背景數(shù)稱為“種子”。以地址線為8根的RAM為例，種子分別取00000000和11111111兩個(gè)數(shù)，取00000000、11111111、0000llll和llll0000四個(gè)數(shù)，以及取00000000、11111111、00001111、11110000、00110011、1100llOO、01010101和10101010八個(gè)數(shù)來移位展開測(cè)試，所達(dá)到的故障覆蓋率是不一樣的。種子數(shù)為2的改進(jìn)方法要低于MARCH―G算法的故障覆蓋率，種子數(shù)為4的改進(jìn)方法與MARCH―G算法相當(dāng)，種子數(shù)為8的改進(jìn)方法能夠超過MARCH―G算法的效果。整體上基于種子和逐位倒轉(zhuǎn)的改進(jìn)方法是可以代替MARCH―G算法的，但是種子數(shù)目不同所需要的尋址次數(shù)也是不同的。設(shè)地址線為n根，種子數(shù)為2時(shí)需要訪問RAM共計(jì)4”+4次，種子數(shù)為4時(shí)需要訪問RAM共計(jì)8n+8次，種子數(shù)為8時(shí)需要訪問RAM共計(jì)16n+16次，而MARCH―G算法需要訪問RAM共計(jì)6×2n次?？梢姡诜N子和逐位倒轉(zhuǎn)的改進(jìn)方法比MARCH―G算法的測(cè)試時(shí)間開銷大大降低。同時(shí)，故障覆蓋率會(huì)隨著種子數(shù)目的增加而提高，當(dāng)然不同種子數(shù)時(shí)所需要的測(cè)試時(shí)間開銷也不同。在實(shí)際測(cè)試應(yīng)用中要根據(jù)測(cè)試時(shí)間和測(cè)試故障覆蓋率的需求來選擇合適的種子數(shù)目，才能達(dá)到滿意的效果。

結(jié) 語(yǔ)

本文介紹了單片機(jī)系統(tǒng)RAM測(cè)試的一般方法，并在原有基礎(chǔ)上提出了一種基于種子和逐位倒轉(zhuǎn)的RAM故障測(cè)試方法。它具有診斷耗時(shí)短、故障覆蓋率高的特點(diǎn)，因而有著很高的應(yīng)用價(jià)值。