基于數(shù)字測(cè)試系統(tǒng)的LCD控制驅(qū)動(dòng)電路測(cè)試方法（一）

3.2.1 LCD輸出驅(qū)動(dòng)測(cè)試

如前所述，在LCD驅(qū)動(dòng)電路的所有參數(shù)中，LCD輸出驅(qū)動(dòng)(或叫LCD輸出電壓偏差、LCD輸出端的導(dǎo)通電阻)是其關(guān)鍵參數(shù)。它對(duì)LCD顯示器件的顯示效果具有決定性影響，尤其對(duì)于規(guī)格較大(像素點(diǎn)較多)的顯示器件來(lái)說(shuō)，LCD控制驅(qū)動(dòng)電路的驅(qū)動(dòng)輸出引腳數(shù)量較多，如果各引腳在相同負(fù)載下的輸出電壓偏差太大，那么在顯示時(shí)就會(huì)出現(xiàn)LCD顯示器上各像素顯示顏色不一致的現(xiàn)象，因此，必須對(duì)LCD控制驅(qū)動(dòng)電路的所有驅(qū)動(dòng)輸出引腳在相同負(fù)載下的輸出電壓偏差逐一進(jìn)行測(cè)試，以確保其均在允許范圍內(nèi)。

通常測(cè)試系統(tǒng)的直流參數(shù)測(cè)試單元的測(cè)試時(shí)間為幾到幾十毫秒，因此電路的驅(qū)動(dòng)輸出引腳數(shù)量越多，僅此一項(xiàng)的測(cè)試時(shí)間就會(huì)越長(zhǎng)，電路的測(cè)試生產(chǎn)成本也隨之上升。較好的測(cè)試方法為：

(1)對(duì)于LCD專用測(cè)試系統(tǒng)，具有多個(gè)數(shù)字采樣器(Digitizer)，可以用來(lái)連續(xù)地進(jìn)行電壓采樣，使電路在較短時(shí)間內(nèi)就能完成此項(xiàng)測(cè)試。比如橫河電機(jī)的ST6730測(cè)試系統(tǒng)是使用每個(gè)LCD輸出引腳配備一個(gè)數(shù)字采樣器的配置方法，而愛(ài)德萬(wàn)的測(cè)試系統(tǒng)則是每8個(gè)LCD輸出引腳配備1個(gè)數(shù)字采樣器。

采用數(shù)字采樣器測(cè)試方法的示意圖如圖1.

(2)某些測(cè)試系統(tǒng)帶有pe r pin可編程負(fù)載(Active load)，如果所測(cè)LCD驅(qū)動(dòng)器件的各段工作電壓在系統(tǒng)硬件允許的條件范圍內(nèi)，且測(cè)試通道足夠多，也可以采用各LCD驅(qū)動(dòng)輸出腳帶載進(jìn)行功能測(cè)試的方法，簡(jiǎn)便、省時(shí)地在功能測(cè)試的同時(shí)完成此項(xiàng)參數(shù)的測(cè)試。此方法的示意圖如圖2.

3.2.2 動(dòng)態(tài)分壓端漏電測(cè)試

此參數(shù)非LCD控制驅(qū)動(dòng)電路說(shuō)明書中的主流參數(shù)，但使用數(shù)字系統(tǒng)測(cè)試該類電路時(shí)，增加此項(xiàng)參數(shù)的測(cè)試，可有效提高電路的故障覆蓋率。具體測(cè)試方法為：

寫入數(shù)據(jù)，使電路LCD驅(qū)動(dòng)輸出端能夠以棋盤格模式正常顯示，然后對(duì)此時(shí)電路的各分壓電平輸入端進(jìn)行動(dòng)態(tài)漏電流測(cè)試。

4 結(jié)束語(yǔ)

隨著科技的發(fā)展，LCD驅(qū)動(dòng)電路的品種也日新月異，對(duì)于這一系列的電路，針對(duì)不同的電路性能，其測(cè)試方法也各有不同。本文僅對(duì)基于數(shù)字測(cè)試系統(tǒng)的LCD控制驅(qū)動(dòng)電路的測(cè)試方法做了簡(jiǎn)單介紹，并共享了一些筆者在實(shí)踐中總結(jié)的測(cè)試小技巧，適用于進(jìn)行LCD控制驅(qū)動(dòng)電路低成本、高品質(zhì)的測(cè)試。