基于數(shù)字測試系統(tǒng)的LCD控制驅(qū)動電路測試方法(一)
如前所述,在LCD驅(qū)動電路的所有參數(shù)中,LCD輸出驅(qū)動(或叫LCD輸出電壓偏差、LCD輸出端的導(dǎo)通電阻)是其關(guān)鍵參數(shù)。它對LCD顯示器件的顯示效果具有決定性影響,尤其對于規(guī)格較大(像素點(diǎn)較多)的顯示器件來說,LCD控制驅(qū)動電路的驅(qū)動輸出引腳數(shù)量較多,如果各引腳在相同負(fù)載下的輸出電壓偏差太大,那么在顯示時就會出現(xiàn)LCD顯示器上各像素顯示顏色不一致的現(xiàn)象,因此,必須對LCD控制驅(qū)動電路的所有驅(qū)動輸出引腳在相同負(fù)載下的輸出電壓偏差逐一進(jìn)行測試,以確保其均在允許范圍內(nèi)。
通常測試系統(tǒng)的直流參數(shù)測試單元的測試時間為幾到幾十毫秒,因此電路的驅(qū)動輸出引腳數(shù)量越多,僅此一項的測試時間就會越長,電路的測試生產(chǎn)成本也隨之上升。較好的測試方法為:
(1)對于LCD專用測試系統(tǒng),具有多個數(shù)字采樣器(Digitizer),可以用來連續(xù)地進(jìn)行電壓采樣,使電路在較短時間內(nèi)就能完成此項測試。比如橫河電機(jī)的ST6730測試系統(tǒng)是使用每個LCD輸出引腳配備一個數(shù)字采樣器的配置方法,而愛德萬的測試系統(tǒng)則是每8個LCD輸出引腳配備1個數(shù)字采樣器。
采用數(shù)字采樣器測試方法的示意圖如圖1.
(2)某些測試系統(tǒng)帶有pe r pin可編程負(fù)載(Active load),如果所測LCD驅(qū)動器件的各段工作電壓在系統(tǒng)硬件允許的條件范圍內(nèi),且測試通道足夠多,也可以采用各LCD驅(qū)動輸出腳帶載進(jìn)行功能測試的方法,簡便、省時地在功能測試的同時完成此項參數(shù)的測試。此方法的示意圖如圖2.
3.2.2 動態(tài)分壓端漏電測試
此參數(shù)非LCD控制驅(qū)動電路說明書中的主流參數(shù),但使用數(shù)字系統(tǒng)測試該類電路時,增加此項參數(shù)的測試,可有效提高電路的故障覆蓋率。具體測試方法為:
寫入數(shù)據(jù),使電路LCD驅(qū)動輸出端能夠以棋盤格模式正常顯示,然后對此時電路的各分壓電平輸入端進(jìn)行動態(tài)漏電流測試。
4 結(jié)束語
隨著科技的發(fā)展,LCD驅(qū)動電路的品種也日新月異,對于這一系列的電路,針對不同的電路性能,其測試方法也各有不同。本文僅對基于數(shù)字測試系統(tǒng)的LCD控制驅(qū)動電路的測試方法做了簡單介紹,并共享了一些筆者在實(shí)踐中總結(jié)的測試小技巧,適用于進(jìn)行LCD控制驅(qū)動電路低成本、高品質(zhì)的測試。
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