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          非隔離式開關電源的PCB布局設計

          作者: 時間:2012-12-04 來源:網(wǎng)絡 收藏

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/175986.htm

            圖6和圖7(略)提供了一個同步降壓電路的例子,它強調了去耦電容的重要性。圖6a是一個雙相12VIN、2.5VOUT/30A(最大值)的同步降壓電源,使用了LTC3729雙相單VOUT控制器IC.在無負載時,開關結點SW1和SW2的波形以及輸出電感電流都是穩(wěn)定的(圖6b)。但如果負載電流超過13A,SW1結點的波形就開始丟失周期。負載電流更高時,問題會更惡化(圖6c)。

          同步降壓電路的例子

            在各個通道的輸入端增加兩只1μF的高頻陶瓷電容,就可以解決這個問題,電容隔離開了每個通道的熱回路面積,并使之最小化。即使在高達30A的最大負載電流下,開關波形仍很穩(wěn)定。

            高DV/DT開關區(qū)

            圖2和圖4中,在VIN(或VOUT)與地之間的SW電壓擺幅有高的dv/dt速率。這個結點上有豐富的高頻噪聲分量,是一個強大的EMI噪聲源。為了盡量減小開關結點與其它噪聲敏感走線之間的耦合電容,你可能會讓SW銅箔面積盡可能小。但是,為了傳導大的電感電流,并且為功率MOSFET管提供散熱區(qū),SW結點的PCB區(qū)域又不能夠太小。一般建議在開關結點下布放一個接地銅箔區(qū),提供額外的屏蔽。

            如果設計中沒有用于表面安裝功率MOSFET與電感的散熱器,則銅箔區(qū)必須有足夠的散熱面積。對于直流電壓結點(如輸入/輸出電壓與電源地),合理的方法是讓銅箔區(qū)盡可能大。

            多過孔有助于進一步降低熱應力。要確定高dv/dt開關結點的合適銅箔區(qū)面積,就要在盡量減小dv/dt相關噪聲與提供良好的MOSFET散熱能力兩者間做一個設計平衡。

          功率焊盤形式

            注意功率元件的焊盤形式,如低ESR電容、MOSFET、二極管和電感。圖8a(略)和8b(略)分別給出了不合理和合理的功率元件焊盤形式。

            對于去耦電容,正負極過孔應盡量互相靠近,以減少PCB的ESL.這對低ESL電容尤其有效。小容值低ESR的電容通常較貴,不正確的焊盤形式及不良走線都會降低它們的性能,從而增加整體成本。通常情況下,合理的焊盤形式能降低PCB噪聲,減小熱阻,并最大限度降低走線阻抗以及大電流元件的壓降。

            大電流功率元件布局時有一個常見的誤區(qū),那就是不正確地采用了熱風焊盤(thermal relief),如圖8a(略)所示。非必要情況下使用熱風焊盤,會增加功率元件之間的互連阻抗,從而造成較大的功率損耗,降低小ESR電容的去耦效果。如果在布局時用過孔來傳導大電流,要確保它們有充足的數(shù)量,以減少阻抗。此外,不要對這些過孔使用熱風焊盤。

            圖9(略)是有多個板上電源的應用,這些電源共享相同的輸入電壓軌。當這些電源互相不同步時,就需要將輸入電流走線隔離開來,以避免不同電源之間耦合公共阻抗噪聲。每個電源擁有一個本地的輸入去耦電容倒是不太關鍵。

            對于一只PolyPhase單輸出轉換器,為每個相做一個對稱布局有助于熱應力的均衡。

            布局設計實例

            圖10(略)是一個設計實例,它是一個3.5V~14V,最大輸出1.2V/40A的雙相同步降壓轉換器, 使用了LTC3855 PolyPhase電流模式步進降壓控制器。在開始PCB布局前,一個好的習慣是在邏輯圖上用不同顏色特別標示出大電流走線、高噪聲的高dv/dt走線,以及敏感的小信號走線。這種圖將有助于PCB設計者區(qū)分開各種走線。

            圖11(略)是這個1.2V/40A電源的功率元件層上的功率級布局例子。圖中,QT是高側控制MOSFET,QB是低側同步FET.可選擇增加QB的接地面積,以獲得更多的輸出電流。在功率元件層的下方,放了一個實心的電源地層。

            控制電路布局

            使控制電路遠離高噪聲的開關銅箔區(qū)。對降壓轉換器,好的辦法是將控制電路置于靠近VOUT+端,而對升壓轉換器,控制電路則要靠近VIN+端,讓功率走線承載連續(xù)電流。

            如果空間允許,控制IC與功率MOSFET及電感(它們都是高噪聲高熱量元件)之間要有小的距離(0.5英寸~1英寸)。如果空間緊張,被迫將控制器置于靠近功率MOSFET與電感的位置,則要特別注意用地層或接地走線,將控制電路與功率元件隔離開來。

            圖12(略)是LTC3855電源的較好的隔離地,IC有外露的GND焊盤,應焊到PCB上,以盡量減少電氣阻抗與熱阻。幾只關鍵去耦電容應緊挨著IC引腳。

            控制電路應有一個不同于功率級地的獨立信號(模擬)地。如果控制器IC上有獨立的SGND(信號地)和PGND(功率地)引腳,則應分別布線。對于集成了MOSFET驅動器的控制IC,小信號部分的IC引腳應使用SGND.

            信號地與功率地之間只需要一個連接點。合理方法是使信號地返回到功率地層的一個干凈點。只在控制器IC下連接兩種接地走線,就可以實現(xiàn)兩種地。圖12(略)給出了建議的LTC3855電源接地隔離法。在本例中,IC有一個外露的接地焊盤。此焊盤應焊到PCB上,以盡量減少電氣阻抗與熱阻。應在接地焊盤區(qū)放置多個過孔。

            控制IC的去耦電容應靠近各自的引腳。為盡量減少連接阻抗,好的方法是將去耦電容直接接到引腳上,而不通過過孔。如圖12(略)所示,應靠近置放去耦電容的LTC3855引腳是電流檢測引腳Sense+/Sense-,補償引腳ITH,信號地SGND,反饋分壓器腳FB,IC VCC電壓引腳INTVCC,以及功率地引腳PGND.

            回路面積與串擾

            兩個或多個鄰近導體可以產(chǎn)生容性耦合。一個導體上的高dv/dt會通過寄生電容,在另一個導體上耦合出電流。為減少功率級對控制電路的耦合噪聲,高噪聲的開關走線要遠離敏感的小信號走線。如果可能的話,要將高噪聲走線與敏感走線布放在不同的層,并用內部地層作為噪聲屏蔽。

            空間允許的話,控制IC要距離功率MOSFET和電感有一個小的距離(0.5英寸~1英寸),后者既有大噪聲又發(fā)熱。

            LTC3855控制器上的FET驅動器TG、BG、SW和BOOST引腳都有高的dv/dt開關電壓。連接到最敏感小信號結點的LTC3855引腳是:Sense+/Sense-、FB、ITH和SGND.如果布局時將敏感的信號走線靠近了高dv/dt結點,則必須在信號走線與高dv/dt走線之間插入接地線或接地層,以屏蔽噪聲。

            在布放柵極驅動信號時,采用短而寬的走線有助于盡量減小柵極驅動路徑中的阻抗。在圖13(略)中,布放的高FET驅動器走線TG與SW應有最小的回路面積,以盡量減小電感與高dv/dt噪聲。同樣,低FET驅動器走線BG要靠近一根PGND走線。

            如果在BG走線下布放了一個PGND層,低FET的交流地返回電流將自動耦合到一個靠近BG走線的路徑中。交流電流會流向它所發(fā)現(xiàn)的最小回路/阻抗。此時,低柵極驅動器不需要一個獨立的PGND返回走線。最好的辦法是盡量減少柵極驅動走線通過的層數(shù)量,這樣可防止柵極噪聲傳播到其它層。

            在所有小信號走線中,電流檢測走線對噪聲最為敏感。電流檢測信號的波幅通常小于100mV,這與噪聲的波幅相當。以LTC3855為例,Sense+/Sense-走線應以最小間距并行布放(Kelvin檢測),以盡量減少拾取di/dt相關噪聲的機會,如圖14(略)所示。

            另外,電流檢測走線的濾波電阻與電容都應盡可能靠近IC引腳。當有噪聲注入長的檢測線時,這種結構的濾波效果最好。如果采用帶R/C網(wǎng)絡的電感DCR電流檢測方式,則DCR檢測電阻R應靠近電感,而DCR檢測電容C則應靠近IC.

            如果在走線到Sense-的返回路徑上使用了一個過孔,則過孔不應接觸到其它的內部VOUT+層。否則,過孔可能會傳導大的VOUT+電流,所產(chǎn)生的壓降可能破壞電流檢測信號。要避免在高噪聲開關結點(TG、BG、SW和BOOST走線)附近布放電流檢測走線。如可能,在電流檢測走線所在層與功率級走線層之間放置地層。

            如果控制器IC有差分電壓遠程檢測引腳,則要為正、負遠程檢測線采用獨立的走線,同時也采用Kelvin檢測連接。

            走線寬度的選擇

            對具體的控制器引腳,電流水平和噪聲敏感度都是唯一的,因此,必須為不同信號選擇特定的走線寬度。通常情況下,小信號網(wǎng)絡可以窄些,采用10mil~15mil寬度的走線。大電流網(wǎng)絡(柵極驅動、VCC以及PGND)則應采用短而寬的走線。這些網(wǎng)絡的走線建議至少為20mil寬。


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