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          EEPW首頁(yè) > 電源與新能源 > 設(shè)計(jì)應(yīng)用 > 一種基于開(kāi)關(guān)邏輯結(jié)構(gòu)的低功耗SAR ADC的設(shè)計(jì)

          一種基于開(kāi)關(guān)邏輯結(jié)構(gòu)的低功耗SAR ADC的設(shè)計(jì)

          作者: 時(shí)間:2012-05-02 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          摘 要:并實(shí)現(xiàn)了一款10 位逐次逼近型模數(shù)轉(zhuǎn)換器,該電路采用了改進(jìn)型降低了的動(dòng)作頻率,提高了數(shù)模轉(zhuǎn)換器的線性度,同時(shí)降低了模數(shù)轉(zhuǎn)換器。仿真結(jié)果表明,該模數(shù)轉(zhuǎn)換器在Chartered 0.35 μm2P4M工藝下實(shí)現(xiàn)了10 位精度,轉(zhuǎn)換速率為250 kHz,信噪比大于60 dB,小于2 mW.流片后測(cè)試結(jié)果顯示芯片達(dá)到指標(biāo)要求,平均為1.97 mW。

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/177369.htm

            逐次逼近型模數(shù)轉(zhuǎn)換器(successive approximatiONregiSTer analog-to-digital converter, )是應(yīng)用于采樣速率低于5,MHz 的中高分辨率的常見(jiàn),其分辨率一般為8~16 位,因制造工藝與現(xiàn)代數(shù)字CMOS 工藝的兼容性好,且易于在較低的工藝成本下實(shí)現(xiàn),所以廣泛應(yīng)用于現(xiàn)代超大規(guī)模集成電路與片上系統(tǒng)(system-on-chip,SOC),如便攜式/電池供電儀表、筆輸入量化器、工業(yè)控制和數(shù)據(jù)/信號(hào)采集器等。

            筆者了一款10位低功耗 ,采用溫度計(jì)碼控制的代替?zhèn)鹘y(tǒng)的開(kāi)關(guān)陣列控制數(shù)模(digital-to-analog,D/A)轉(zhuǎn)換器的動(dòng)作,從而提高了D/A 轉(zhuǎn)換器的線性度并降低了 的功耗。ADC 在 250,kHz 的采樣速度下實(shí)現(xiàn)了10 位的模數(shù)轉(zhuǎn)換功能,功耗小于2,mW。

            1 ADC的結(jié)構(gòu)和工作原理

            傳統(tǒng)SAR ADC 的結(jié)構(gòu)主要包括5 個(gè)部分,分別是:采樣保持電路、模擬比較器、D/A 轉(zhuǎn)換器、逐次逼近寄存器和控制單元。在很多實(shí)際電路中,采樣保持與D/A 轉(zhuǎn)換器合二為一。

            SAR ADC 通過(guò)比較器對(duì)D/A 轉(zhuǎn)換器產(chǎn)生的參考電壓和采樣所得的模擬輸入電壓進(jìn)行比較,由逐次逼近寄存器逐次地決定每一位數(shù)字碼,直到完成最低有效位(least significant bit,LSB)的轉(zhuǎn)換。SAR ADC采用二進(jìn)制搜索算法來(lái)決定模數(shù)轉(zhuǎn)化過(guò)程中的數(shù)字碼值,N 位的SAR ADC需要進(jìn)行N 步的轉(zhuǎn)化。

            在SAR ADC 中,數(shù)字模塊消耗的功耗較小,整個(gè)SAR ADC的功耗主要集中在3 個(gè)方面。

           ?。?)對(duì)采樣保持電容的充放電。

           ?。?)對(duì)D/A轉(zhuǎn)換器中二進(jìn)制加權(quán)電容的充放電。

           ?。?)模數(shù)轉(zhuǎn)換過(guò)程中比較器所消耗的功耗。

            有關(guān)降低SAR ADC 功耗的文獻(xiàn)通常針對(duì)以上3個(gè)方面來(lái)提出電路結(jié)構(gòu)的改進(jìn)方案,如在數(shù)模轉(zhuǎn)換器中采用特殊結(jié)構(gòu)的電容陣列以及采用功耗較低的動(dòng)態(tài)比較器等。

            為了降低ADC 的整體功耗,筆者設(shè)計(jì)的D/A 轉(zhuǎn)換器采用了電荷分配型的結(jié)構(gòu)。與其他同類型ADC的最大區(qū)別在于用溫度計(jì)碼的開(kāi)關(guān)邏輯結(jié)構(gòu)代替了常用的二進(jìn)制碼開(kāi)關(guān)來(lái)控制D/A 轉(zhuǎn)換器,從而合理優(yōu)化了電容陣列的開(kāi)關(guān)邏輯結(jié)構(gòu),減小了開(kāi)關(guān)的動(dòng)作頻率,既提高了D/A 轉(zhuǎn)換器的分辨率和線性度,同時(shí)又降低了整個(gè)系統(tǒng)的功耗。

            2 開(kāi)關(guān)邏輯結(jié)構(gòu)的D/A轉(zhuǎn)換器

            2.1 D/A轉(zhuǎn)換器的基本原理

            傳統(tǒng)型電荷分配型D/A 轉(zhuǎn)換器通常由一個(gè)二進(jìn)制加權(quán)電容陣列、一個(gè)與LSB 等值的電容和開(kāi)關(guān)陣列組成,其轉(zhuǎn)換過(guò)程可以分為3 個(gè)階段。

           ?。?)采樣階段:此時(shí),所有電容的上極板接地,下極板接輸入電壓,這樣,上極板存儲(chǔ)了與輸入電壓成正比的電荷,這些電荷在D/A 轉(zhuǎn)換器的轉(zhuǎn)換過(guò)程中保持不變。

           ?。?)保持階段:此階段,二進(jìn)制加權(quán)電容的上極板接地開(kāi)關(guān)斷開(kāi),下極板接地,引起電容陣列上極板的參考電壓的變化。

           ?。?)再分配階段:此時(shí),逐次逼近寄存器的最高位被置為1,即最大的電容2N-1C 的下極板連接到基準(zhǔn)電壓Vref,在下一個(gè)時(shí)鐘周期來(lái)臨時(shí),最大的電容的下極板的連接狀態(tài)是由比較器的比較結(jié)果決定的。同時(shí)次大的電容的下極板連接到基準(zhǔn)電壓Vref.這個(gè)過(guò)程將會(huì)進(jìn)行N 次,在每一個(gè)時(shí)鐘周期內(nèi)比較器的比較結(jié)果決定了原先被試探的電容的下極板接地或是接基準(zhǔn)電壓Vref,同時(shí)將比試探電容小一半的那個(gè)電容設(shè)為試探電容,直到整個(gè)轉(zhuǎn)換過(guò)程完成,即最小電容的下極板狀態(tài)被決定。

            2.2 D/A轉(zhuǎn)換器的低功耗設(shè)計(jì)

            所設(shè)計(jì)的開(kāi)關(guān)邏輯結(jié)構(gòu)的D/A 轉(zhuǎn)換器如圖1 所示,其與傳統(tǒng)型D/A 的區(qū)別是將二進(jìn)制加權(quán)電容陣列進(jìn)行了分拆并加入了碼制轉(zhuǎn)換電路。碼制轉(zhuǎn)換電路將邏輯控制單元控制的寄存器的輸出二進(jìn)制碼轉(zhuǎn)化成為溫度計(jì)碼,以溫度計(jì)碼來(lái)控制整個(gè)二進(jìn)制加權(quán)電容陣列,以降低開(kāi)關(guān)動(dòng)作頻率。

          圖1 D/A轉(zhuǎn)換器

          圖1 D/A轉(zhuǎn)換器

            以3 位D/A 轉(zhuǎn)換器為例來(lái)簡(jiǎn)要說(shuō)明。圖2(a)為三位的二進(jìn)制碼到溫度計(jì)碼的編碼轉(zhuǎn)換圖;圖2(b)為二進(jìn)制碼對(duì)應(yīng)單位開(kāi)關(guān)輸入碼圖。由圖2 可知,一旦比較器的輸出為0,即在模數(shù)轉(zhuǎn)換過(guò)程中出現(xiàn)輸入信號(hào)比D/A 轉(zhuǎn)換器所產(chǎn)生的參考電壓小的情況,采用溫度計(jì)碼的開(kāi)關(guān)邏輯結(jié)構(gòu)對(duì)減小開(kāi)關(guān)動(dòng)作頻率是有利的。將二進(jìn)制碼轉(zhuǎn)換為溫度計(jì)碼只需通過(guò)一個(gè)簡(jiǎn)單的編碼轉(zhuǎn)換電路就可以實(shí)現(xiàn)。

          圖2 碼制轉(zhuǎn)換示意

          圖2 碼制轉(zhuǎn)換示意

          2.3 D/A轉(zhuǎn)換器的功耗分析

            對(duì)于電容陣列中的電容,只有當(dāng)其下極板連接到Vref 時(shí),因充電產(chǎn)生功耗。設(shè)電容陣列的建立時(shí)間為T,則電容從Vref獲得的能量為:

            由于電容兩端的電壓不能突變,故QC(0+)=QC(0-),且 iref(t) = -dQC/ dt ,故:

            所以,可以計(jì)算每一次開(kāi)關(guān)動(dòng)作時(shí)D/A 的功耗。為了減少計(jì)算量,仍以3 位D/A 轉(zhuǎn)換器為例,對(duì)兩種D/A 轉(zhuǎn)換器的功耗進(jìn)行比較,如圖3 所示,箭頭旁邊的數(shù)字為每一次開(kāi)關(guān)動(dòng)作時(shí)消耗的能量。圖3顯示當(dāng)比較器比較的結(jié)果為0 時(shí),采用的結(jié)構(gòu)所消耗的功耗小于傳統(tǒng)的結(jié)構(gòu)。顯然,所設(shè)計(jì)的D/A 轉(zhuǎn)換器的平均功耗遠(yuǎn)小于傳統(tǒng)的D/A 轉(zhuǎn)換器。隨著ADC 位數(shù)的增加,這種平均功耗的降低效應(yīng)將會(huì)更加顯著。10 位SAR ADC和傳統(tǒng)結(jié)構(gòu)的SAR ADC功耗對(duì)比如表1 所示,數(shù)據(jù)表明改進(jìn)的SAR ADC 相對(duì)于傳統(tǒng)結(jié)構(gòu)下降了21.5%。

          圖3 改進(jìn)的和傳統(tǒng)的D/A功耗分析

          圖3 改進(jìn)的和傳統(tǒng)的D/A功耗分析

          圖3 改進(jìn)的和傳統(tǒng)的D/A功耗分析


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