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          適用于小功率電機驅(qū)動系統(tǒng)的MOSFET逆變模塊

          作者: 時間:2012-01-24 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          摘要
            本文介紹新型的,用于風(fēng)扇和水泵中的小型直流無刷。這種集成了6個和相應(yīng)的高壓柵極電路 (HVIC)。通過使用專門設(shè)計的和HVIC,該能提供最小的功耗和最佳的電磁兼容 (EMC) 特性。本文將探討這種模塊在應(yīng)用中所涉及的封裝設(shè)計、MOSFET和HVIC,并著重討論其中的損耗、電磁干擾和噪聲問題。
            電氣設(shè)計;
            對于小型驅(qū)動,MOSFET在功耗、成本和性能方面較其它開關(guān)管更具優(yōu)勢。MOSFET的正向特征電阻為歐姆級 (見圖1(a)) ;其導(dǎo)通損耗與漏極電流的平方成正比,當(dāng)漏極電流低于1A時,其導(dǎo)通損耗低于額定功率相同的IGBT的導(dǎo)通損耗,這是因為IGBT在通態(tài)時存在閾值電壓,該電壓隨輸出功率的下降而顯著增加。大多數(shù)空調(diào)使用的風(fēng)扇電機功率在50W以下;在這個功率級別上,基于MOSFET的逆變器的效率高于IGBT。

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/178012.htm

          擬變模塊的靜態(tài)和開關(guān)特性

            至于其反向特性 (參見圖1(a)),MOSFET中固有的體二極管可充當(dāng)IGBT逆變器中的快速恢復(fù)二極管 (FRD) ;即可以通過電子擴散過程實現(xiàn)快速而平滑的恢復(fù)特性,同時節(jié)省了引線框內(nèi)芯片的占用空間。由于MOSFET比一般FRD尺寸大,其反向壓降小,而且在柵極為高時,該壓降甚至?xí)?,這是因為MOSFET溝道本身就允許雙向電流。MOSFET的另一個優(yōu)勢是其耐用強度。它比IGBT的耐用強度高;與額定功率相同的其它器件相比,具有更寬的安全運行區(qū) (SOA)。本文所介紹逆變模塊中的MOSFET在典型的運行條件 (Vcc=15V, Vdc=300V, Tc=25℃) 下,都能承受80ms的短路電流 (見圖2)。而且,在出現(xiàn)電涌時,基于MOSFET逆變器的抵御能力優(yōu)于額定電壓相同的IGBT方案,這已被開關(guān)器件的雪崩額定電壓值所證實。因此,在220V下可采用額定電壓為500V的MOSFET,而在相同條件下采用IGBT,其額定電壓則需要達到600V。但是,傳統(tǒng)的MOSFET開關(guān)速度極高。MOSFET通常用于快速開關(guān)轉(zhuǎn)換器,如AC/DC或DC/DC電源,這些應(yīng)用場合要求柵極電荷Qg盡可能少,以降低開關(guān)損耗。不過,在電機驅(qū)動應(yīng)用中,這種快速特性沒有用處,尤其是高的dV/dt值還會引起電磁干擾。穩(wěn)定性與最佳性能不易兼顧.

          模塊中MOSFET的短路保護能力

            通常,增加?xùn)艠O阻抗會降低MOSFET的開關(guān)速度。在如圖3(a)所示的半橋電路中,如果高壓側(cè)MOSFET的柵極阻抗 (在HVIC中實現(xiàn)) 大,將會存在一定的短路電流;這個電流是上面那個MOSFET導(dǎo)通時的密勒電容Cgd感應(yīng)產(chǎn)生的,不嚴(yán)重時一般不會察覺。但是,正如圖3(b)所示,這種異常行為會增加逆變開關(guān)的損耗 (導(dǎo)通損耗),并最終減弱的額定功率和穩(wěn)定性。在這樣的瞬態(tài)過程中,要降低開關(guān)速度,同時又不失穩(wěn)定性,上方那個MOSFET的Vgs應(yīng)小于閾值電壓Vth。換句話說,最好通過調(diào)節(jié)HVIC的關(guān)斷阻抗來保證的穩(wěn)定性,防止因電壓變化而感應(yīng)短路電流。但這會增加MOSFET的關(guān)斷dV/dt值。

          基于MOSFET的逆變器在dV/dt異常條件下的運行

            除了穩(wěn)定性外,在確定柵極電阻時,還應(yīng)考慮空載時間和延遲時間之類的運行要求。電壓源逆變器的空載時間會降低輸出電壓的質(zhì)量,進而降低電機的轉(zhuǎn)速性能。而且,這個問題會隨開關(guān)頻率的增大而進一步惡化。消費電子應(yīng)用中的開關(guān)頻率一般在16kHz以上,這是為了防止可聽見音頻帶 (人耳可聽到的頻帶) 噪聲;系統(tǒng)開發(fā)人員一般都希望將系統(tǒng)的空載時間設(shè)計為1ms。1ms的理論極限 (控制器可設(shè)置的最小值) 可由公式 (1) 計算。

            Tdead=max(Toff,LS-Td(on),HS,Toff,HS-Td(on),LS);;;;;;;; (1)
            這里,Td(on)為導(dǎo)通時的傳送延遲 (從輸入信號脈沖的50%起到電流達到穩(wěn)定所需的時間) ;Toff為關(guān)斷時的傳送延遲 (從輸出信號脈沖的50%起到整流換向完畢所需的時間)。下標(biāo)HS和LS分別表示高壓側(cè)和低壓側(cè)MOSFET。要滿足空載時間要求,可延長Td(on),即增加導(dǎo)通柵極電阻。但這種方法不通過檢測直流通道電流來測量三相電流的系統(tǒng),因為這種系統(tǒng)的一個關(guān)鍵要求是導(dǎo)通延遲要小。當(dāng)輸出脈沖寬度小于功率器件的導(dǎo)通延遲時,不能用電流檢測技術(shù)來測量逆變器的輸出電流。增大導(dǎo)通延遲會增加電流檢測的不確定性,尤其是在調(diào)制指數(shù)小的低速運行情況下。因此,增加導(dǎo)通延遲雖能縮短空載時間,但卻會減弱電機的低速性能。
            上述問題不能通過調(diào)節(jié)某一時刻的柵極電阻來解決。為了獲得最佳的性能 (最佳空載時間、最佳延遲時間),同時又保持穩(wěn)定性 (防止dV/dt感應(yīng)出短路電流),必須針對電機定 制MOSFET。除調(diào)節(jié)柵極電阻外,還需要優(yōu)選MOSFET的Qg和Vth。在本文介紹的逆變模塊中,MOSFET的Qg比值 (即Qgd/Qgs) 被設(shè)置為2.0左右,以防止在最壞的情況下出現(xiàn)短路電流。根據(jù)這個電荷值確定出適合的柵極電阻范圍。功率MOSFET的延遲時間是Vth的對數(shù)函數(shù)。因此,Vth的變化范圍對確定最壞情況的延遲時間和空載時間有很大作用。在滿足這些要求的同時,輸出電壓變化 (dV/dt) 應(yīng)當(dāng)小,以降低電磁干擾。圖1(a)和(b)所示的開關(guān)特性是滿足如下條件時測試的結(jié)果:dV/dt=2kV/ms,空載時間=1.0ms,導(dǎo)通延遲時間=2.5ms (延遲時間是在最壞的運行情況下,并考慮柵極電阻和其它器件參數(shù)的離差后,從輸入信號脈沖中心到建立電流穩(wěn)定所需的時間)。我們已通過適當(dāng)選擇柵極導(dǎo)通電阻和閾值電壓達到了這些條件。
            除了這些可預(yù)先確定的特性外,用戶還可控制模塊的開關(guān)速度。象其它SPM系列一樣,本文介紹的這種模塊在高壓側(cè)MOSFET上提供開放源極輸入端,允許用戶加入自己的阻抗單元來控制高壓側(cè)MOSFET的開關(guān)速度,從而在開關(guān)損耗與電磁干擾之間作出最佳平衡。

            應(yīng)用方面的考慮
            圖4給出了本模塊的一個應(yīng)用示例。在圖4(a)和(b) 的模擬中,假設(shè)結(jié)區(qū)溫度Tj保持為125℃;該溫度為本模塊的最大工作結(jié)區(qū)溫度。通過這項模擬,肯定當(dāng)模塊外殼溫度控制在100℃并采用空間向量調(diào)制 (SVPWM) 時,輸出功率可大于Pout=100W,并允許Pd=16W的功率損耗。根據(jù)這些信息,我們利用一臺130W BLDC電機(正弦反電動勢) 和圖4(c)所示的電路,對模塊的額定功率進行驗證實驗。實驗中采用的散熱片有效表面積約為100cm2。采用該散熱片后,模塊在20kHz SVPWM下可向電機輸出150W的功率;熱功耗為12W。而此時模塊的外殼溫度為86℃,MOSFET結(jié)區(qū)溫度為104℃,環(huán)境溫度27℃。在同樣條件下采用圖4(d)所示的非連續(xù)PWM時,由于有效開關(guān)頻率降低,模塊的功耗可達到8W,而逆變器效率可達到95%。此時,模塊的外殼溫度為62℃,結(jié)區(qū)溫度為82℃(已考慮電機鐵芯的損耗),逆變器的損耗為整個系統(tǒng)功耗的27%。

          應(yīng)用實例


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