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          IGBT電力電子裝置的應(yīng)用詳解

          作者: 時間:2011-09-16 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          在以變頻器及各類電源為代表的中得到了廣泛。集雙極型功率晶體管和功率MOSFET的優(yōu)點于一體,具有電壓控制、輸入阻抗大、驅(qū)動功率小、控制電路簡單、開關(guān)損耗小、通斷速度快和工作頻率高等優(yōu)點。

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/178636.htm

            為解決的可靠驅(qū)動問題,國外各IGBT生產(chǎn)廠家或從事IGBT的企業(yè)開發(fā)出了眾多的IGBT驅(qū)動集成電路或模塊,惠普生產(chǎn)的HCLP一316J有過流保護(hù)、欠壓保護(hù)和1GBT軟關(guān)斷的功能,且價格相對便宜,因此,本文將對其進(jìn)行研究。

            1 IGBT的工作特性

            IGBT是一種電壓型控制器件,它所需要的驅(qū)動電流與驅(qū)動功率非常小,可直接與模擬或數(shù)字功能塊相接而不須加任何附加接口電路。IGBT的導(dǎo)通與關(guān)斷是由柵極電壓UGE來控制的,當(dāng)UGE大于開啟電壓UGE(th)時IGBT導(dǎo)通,當(dāng)柵極和發(fā)射極間施加反向或不加信號時,IGBT被關(guān)斷。

            IGBT與普通晶體三極管一樣,可工作在線性放大區(qū)、飽和區(qū)和截止區(qū),其主要作為開關(guān)器件。在驅(qū)動電路中主要研究IGBT的飽和導(dǎo)通和截止兩個狀態(tài),使其開通上升沿和關(guān)斷下降沿都比較陡峭。

            2 IGBT驅(qū)動電路要求

            在設(shè)計IGBT驅(qū)動時必須注意以下幾點。

            1)柵極正向驅(qū)動電壓的大小將對電路性能產(chǎn)生重要影響,必須正確選擇。當(dāng)正向驅(qū)動電壓增大時,.IGBT的導(dǎo)通電阻下降,使開通損耗減小;但若正向驅(qū)動電壓過大則負(fù)載短路時其短路電流IC隨UGE增大而增大,可能使IGBT出現(xiàn)擎住效應(yīng),導(dǎo)致門控失效,從而造成IGBT的損壞;若正向驅(qū)動電壓過小會使IGBT退出飽和導(dǎo)通區(qū)而進(jìn)入線性放大區(qū)域,使IGBT過熱損壞;使用中選12V≤UGE≤18V為好。柵極負(fù)偏置電壓可防止由于關(guān)斷時浪涌電流過大而使IGBT誤導(dǎo)通,一般負(fù)偏置電壓選一5V為宜。另外,IGBT開通后驅(qū)動電路應(yīng)提供足夠的電壓和電流幅值,使IGBT在正常工作及過載情況下不致退出飽和導(dǎo)通區(qū)而損壞。

            2)IGBT快速開通和關(guān)斷有利于提高工作頻率,減小開關(guān)損耗。但在大電感負(fù)載下IGBT的開關(guān)頻率不宜過大,因為高速開通和關(guān)斷時,會產(chǎn)生很高的尖峰電壓,極有可能造成IGBT或其他元器件被擊穿。

            3)選擇合適的柵極串聯(lián)電阻RG和柵射電容CG對IGBT的驅(qū)動相當(dāng)重要。RG較小,柵射極之間的充放電時間常數(shù)比較小,會使開通瞬間電流較大,從而損壞IGBT;RG較大,有利于抑制dvce/dt,但會增加IGBT的開關(guān)時間和開關(guān)損耗。合適的CG有利于抑制dic/dt,CG太大,開通時間延時,CG太小對抑制dic/dt效果不明顯。

            4)當(dāng)IGBT關(guān)斷時,柵射電壓很容易受IGBT和電路寄生參數(shù)的干擾,使柵射電壓引起器件誤導(dǎo)通,為防止這種現(xiàn)象發(fā)生,可以在柵射間并接一個電阻。此外,在實際應(yīng)用中為防止柵極驅(qū)動電路出現(xiàn)高壓尖峰,最好在柵射間并接兩只反向串聯(lián)的穩(wěn)壓二極管,其穩(wěn)壓值應(yīng)與正負(fù)柵壓相同。

            3 HCPL-316J驅(qū)動電路

            3.1 HCPL-316J內(nèi)部結(jié)構(gòu)及工作原理

            若IGBT出現(xiàn)過流信號(腳14檢測到IGBT集電極上電壓=7V),而輸入驅(qū)動信號繼續(xù)加在腳1,欠壓信號為低電平,B點輸出低電平,三級達(dá)林頓管被關(guān)斷,1×DMOS導(dǎo)通,IGBT柵射集之間的電壓慢慢放掉,實現(xiàn)慢降柵壓。當(dāng)VOUT=2V時,即VOUT輸出低電平,C點變?yōu)榈碗娖?,B點為高電平,50×DMOS導(dǎo)通,IGBT柵射集迅速放電。故障線上信號通過光耦,再經(jīng)過RS觸發(fā)器,Q輸出高電平,使輸入光耦被封鎖。同理可以分析只欠壓的情況和即欠壓又過流的情況。

            3.2驅(qū)動電路設(shè)計

            HCPL-316J左邊的VIN+,F(xiàn)AULT和RESET分別與微機(jī)相連。R7,R8,R9,D5,D6和C12 起輸入保護(hù)作用,防止過高的輸入電壓損壞IGBT,但是保護(hù)電路會產(chǎn)生約1μs延時,在開關(guān)頻率超過100kHz時不適合使用。Q3最主要起互鎖作用,當(dāng)兩路PWM信號(同一橋臂)都為高電平時,Q3導(dǎo)通,把輸入電平拉低,使輸出端也為低電平。圖3中的互鎖信號Interlock,和Interlock2分別與另外一個316J Interlock2和Interlock1相連。R1和C2起到了對故障信號的放大和濾波,當(dāng)有干擾信號后,能讓微機(jī)正確接受信息。

            在輸出端,R5和C7關(guān)系到IGBT開通的快慢和開關(guān)損耗,增加C7可以明顯地減小dic/dt。首先計算柵極電阻:其中ION為開通時注入IGBT的柵極電流。為使IGBT迅速開通,設(shè)計,IONMAX值為20A。輸出低電平VOL=2v。C3是一個非常重要的參數(shù),最主要起充電延時作用。當(dāng)系統(tǒng)啟動,芯片開始工作時,由于IGBT的集電極C端電壓還遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于7V,若沒有C3,則會錯誤地發(fā)出短路故障信號,使輸出直接關(guān)斷。當(dāng)芯片正常工作以后,假使集電極電壓瞬間升高,之后立刻恢復(fù)正常,若沒有C3,則也會發(fā)出錯誤的故障信號,使IGBT誤關(guān)斷。但是,C3的取值過大會使系統(tǒng)反應(yīng)變慢,而且在飽和情況下,也可能使IGBT在延時時間內(nèi)就被燒壞,起不到正確的保護(hù)作用, C3取值100pF,其延時時間在集電極檢測電路用兩個二極管串連,能夠提高總體的反向耐壓,從而能夠提高驅(qū)動電壓等級,但二極管的反向恢復(fù)時間要很小,且每個反向耐壓等級要為1000V,一般選取BYV261E,反向恢復(fù)時間75 ns。R4和C5的作用是保留HCLP-316J出現(xiàn)過流信號后具有的軟關(guān)斷特性,其原理是C5通過內(nèi)部MOSFET的放電來實現(xiàn)軟關(guān)斷。圖3中輸出電壓VOUT經(jīng)過兩個快速三極管推挽輸出,使驅(qū)動電流最大能達(dá)到20A,能夠快速驅(qū)動1700v、200-300A的IGBT。


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