一類序列信號檢測器的設(shè)計

2 將觸發(fā)器接成移位寄存器進(jìn)行設(shè)計
以上設(shè)計方法主要依靠電路的狀態(tài)轉(zhuǎn)換實現(xiàn)序列碼檢測，雖然所得電路簡單，但是設(shè)計過程較復(fù)雜，特別是當(dāng)需要檢測的序列碼位數(shù)較長時，工作量較大。為此，將觸發(fā)器接成移位寄存器的方式，可簡化電路設(shè)計，同時也便于擴(kuò)展成位數(shù)更多的序列碼檢測器。用4個D觸發(fā)器接成的向右移位寄存器。電路如圖5所示。

由圖5可知，。在移位脈沖clk作用下，輸入端X輸入的二進(jìn)制碼依次向右移動，每當(dāng)出現(xiàn)一個完整的1001序列時，輸出端Z便出現(xiàn)高電平。這樣就實現(xiàn)了序列碼檢測的功能。

3 用中規(guī)模集成電路進(jìn)行設(shè)計
既然用移位寄存器可以實現(xiàn)序列信號檢測，那么用集成移位寄存器加少量門電路同樣可以實現(xiàn)，而且電路可靠性更高。用4位集成移位寄存器74LS194，實現(xiàn)的序列1001檢測器，如圖6所示。

4 當(dāng)序列不可重疊時的電路設(shè)計
用以上3種方法設(shè)計出的電路，都是可序列重疊的序列碼檢測器，若要求被檢測的序列不可重疊，則在方法1中，只需要根據(jù)實際情況修改狀態(tài)轉(zhuǎn)換表即可．后面的設(shè)計原理及步驟不變。這種設(shè)計方法存在的問題仍然是當(dāng)待檢測的序列位數(shù)較長時，設(shè)計工作量大、電路可靠性降低。在采用第2、第3種方法設(shè)計時，需增加部分控制電路，為保證輸入與時鐘的同步性，需要使得每當(dāng)檢測出一個序列時，直接將序列的下一位置入寄存器最低位，同時置寄存器其余各位為序列碼最后一位的反碼以消除重疊代碼的影響。此外再用一個鎖存器使輸出高電平多保持0．5個時鐘周期，其優(yōu)點是：可以消除移位過程中的競爭冒險，使得輸出波形更穩(wěn)定、電路可靠性更高，電路如圖7所示。