針對容性負(fù)載的線性功率放大電路的穩(wěn)定性設(shè)計(jì)
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第二步：如圖8所示，在低頻部分，由于阻性反饋Rf和Ri決定的小信號交流增益1／βlow是一個25．1 dB的水平線，其與含有容性壓電負(fù)載的開環(huán)增益Ao1w／CL曲線的閉合率為40 dB／dec，因此，必須提高電路的穩(wěn)定性。本文引用地址：http://www.ex-cimer.com/article/179842.htm
第三步：如圖9所示，噪聲增益相位補(bǔ)償法是以維持閉環(huán)增益不變的基礎(chǔ)上，在高頻部分增加了放大電路的整體噪聲增益，其缺點(diǎn)是減小了閉環(huán)帶寬，反饋零點(diǎn)相位補(bǔ)償法是以單位增益穩(wěn)定性為代價(jià)，其優(yōu)點(diǎn)是提高了閉環(huán)帶寬。因此，可以根據(jù)性能折中的原則，將上述兩種相位補(bǔ)償法相融合。
由Rn和Cn組成的噪聲增益相位補(bǔ)償網(wǎng)絡(luò)，提高了在高頻部分的小信號交流增益1／βhi：
如圖8所示，噪聲增益的零點(diǎn)頻率fzl可以按照20 dB／dec的閉合率，由噪聲增益的極點(diǎn)頻率fp5，向小信號交流增益1／βlow變化。然而，僅靠噪聲增益相位補(bǔ)償法，閉合率仍舊為40 dB／dec。
第四步：如圖8所示，反饋零點(diǎn)相位補(bǔ)償法是在小信號交流增益1／βhi上增加一個極點(diǎn)，極點(diǎn)頻率設(shè)置在閉合頻率fcl十分頻處，目的是防止Ao1曲線隨時(shí)間和溫度發(fā)生向左漂移，這就可能會導(dǎo)致出現(xiàn)40 dB／dec的閉合率。Cf和Rf的極點(diǎn)頻率fp6為：
如圖8所示，由于小信號增益不能小于0 dB，因此，1／β曲線與O dB相交形成了零點(diǎn)頻率fz2。
第五步：由于在閉合頻率fcl處的閉合率為20 dB／dec，因此，初步完成了該電路的穩(wěn)定性設(shè)計(jì)。
2．2．2 相頻曲線的穩(wěn)定性分析
如圖10所示，從直流到fcl處，相位裕度φ≥45°，因此該電路應(yīng)具有較好的穩(wěn)定性。
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