一種適合教學(xué)的開關(guān)電源設(shè)計及調(diào)試

3 系統(tǒng)調(diào)試
在確定上述總體設(shè)計后，采用分模塊的調(diào)試方法進(jìn)行電路調(diào)試。
3．1 TL494性能測試
按圖4接線，測試2口的輸入電壓(誤差放大器反相端2口采用基準(zhǔn)電壓輸入)，改變1口的輸入電壓，觀察9，3口的輸出波形。由實驗可以得到：TL494的基準(zhǔn)電壓是3．5 V；輸出波形為PWM波；誤差放大器工作在非線性區(qū)，只有當(dāng)輸入(1，2)口的偏差在零到幾十個毫伏之間時，PWM才是可調(diào)的；改變1口的電壓，可改變PWM的占空比。

3．2 升壓變換器的工作性能測試
按圖5接線，給1口加入使開關(guān)管達(dá)到飽和的方波信號：
(1)改變方波信號的占空比和方波信號的頻率；
(2)給輸出端加上負(fù)載。
由實驗可以得到，改變占空比，可以改變輸出電壓的大小;加上負(fù)載，電壓降低，但通過調(diào)節(jié)占空比，可使電壓升高；方波信號的頻率越大，改變占空比，調(diào)節(jié)輸出電壓的范圍越小。

3．3 聯(lián)調(diào)
在上述兩步都能得到準(zhǔn)確信息之后，將兩模塊進(jìn)行聯(lián)調(diào)，見圖4。若無誤，即可實現(xiàn)輸出端穩(wěn)定的電壓輸出，且可通過改變2口的給定值實現(xiàn)在一定范圍內(nèi)(升壓)改變輸出電壓。具體范圍與所選擇電感、電容和系統(tǒng)工作的頻率有關(guān)，限于篇幅，這里不做介紹。
3．4 加入MOSFET(IRF640)驅(qū)動
完成上述電路后，接下來要考慮系統(tǒng)的性能指標(biāo)，除上述電容、電感、工作頻率的參數(shù)外，性能指標(biāo)的優(yōu)越還與MOSFET有關(guān)。為此，在TL494的9口和IRF9540開關(guān)管之間加入驅(qū)動電路IR2111，如圖6所示。

4 結(jié) 語
按上述步驟進(jìn)行系統(tǒng)設(shè)計，不僅電路簡單，可以比較深刻地掌握TL494的工作原理、開關(guān)電源的工作原理、負(fù)反饋的工作原理等，而且查找電路錯誤也比較方便。對于該電路的性能指標(biāo)測試，由于元器件的參數(shù)不同，指標(biāo)略有不同，但基本上各參數(shù)的指標(biāo)都較高，如DC-DC變換器的效率可達(dá)85％以上。