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          Serial ATA展現(xiàn)高度互通性

          作者:歐敏銓 時間:2002-09-16 來源:CTIMES 收藏

          、Intel與Silicon Image聯(lián)合舉辦的第一屆 ATA plugfest創(chuàng)下成功的記錄,叁與者在2002年秋季英特爾開發(fā)者會議(IDF)展現(xiàn)的測試結(jié)果,證實 ATA元件之間的互通性已達(dá)到95%以上。 ATA plugfest吸引近50家公司於上個月前往科羅拉多州叁與測試,包括電纜、連接器、附加卡、主機板、和機箱制造商。這項活動在數(shù)十臺Serial ATA設(shè)備上執(zhí)行超過900項測試,達(dá)到95%以上的成功率,展現(xiàn)了這個新介面的高度互通性。

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/183392.htm

          全球行銷資深??總裁Joel Stead表示:「這項plugfest活動扮演催生的角色,一次將開發(fā)Serial ATA產(chǎn)品的業(yè)者聚集在一起,讓各公司更容易快速地評估新產(chǎn)品的互通性。由於我們正開始部署Serial ATA 1.0產(chǎn)品到市場,因此很重要的是這些業(yè)界供應(yīng)商必須共同將Serial ATA順利地部署到使用者環(huán)境。」

          Serial ATA plugfest開放給所有開發(fā)Serial ATA產(chǎn)品的公司叁與,包括系統(tǒng)和主機板、、電纜、矽晶、儲存機箱、作業(yè)系統(tǒng)、BIOS、測試工具及其他廠商。

          本文由 CTIMES 同意轉(zhuǎn)載,原文鏈接:http://www.ctimes.com.tw/DispCols/cn/Serial-ATA/%E5%B8%8C%E6%8D%B7/%E5%88%86%E5%B8%83%E5%BC%8F%E5%82%A8%E5%AD%98%E7%B3%BB%E7%BB%9F/02091619170V.shtmll



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