光電技術(shù)在微小顆粒測量中的應(yīng)用
ApplicationofOpticsandElectricsTechnologyinSmallParticlesMeasurement
本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/186550.htmSUNHao
(CollegeofElectricalEngineering,UniversityofShanghaiforScienceandTechnology,Shanghai200093,China)
Abstract:Theapplicationofopticsandelectricstechnologyinsmallparticlesmeasurementwasintroducedinthispaper.
Keywords:laser;opticsandelectricsconversion;interfacetechnology
1光學(xué)部分
雖然測量微小顆粒的方法很多,如顯微鏡法、沉降法等,但是用光學(xué)的方法測量具有更多優(yōu)點:
(1)由于光的透射性,可以實現(xiàn)非接觸測量;(2)光電轉(zhuǎn)換頻響時間很短,且可與計算機配合使用;(3)對被測微小顆粒的物理特性(密度、粘度等)要求低;(4)適用固體、液體及氣體。
本裝置用光學(xué)中光的夫瑯和費衍射現(xiàn)象測量顆粒。根據(jù)夫瑯和費衍射的理論,當(dāng)一束平行光照射到測量區(qū)中的顆粒群時,便會產(chǎn)生光的衍射現(xiàn)象,因此,衍射光的強度分布與測量區(qū)中被照射的顆粒直徑和顆粒數(shù)有關(guān)。圖1是微小顆粒測量的示意圖。
當(dāng)一束平行光通過一個直徑為d的小孔或微粒時,在光電探測器的屏幕上的衍射光強分布為
式中,I0為平行入射光強度;f為接收透鏡的焦距;λ為入射光的波長;X=πdsinθ/λ,θ為衍射角,當(dāng)衍射角比較小時,sinθ=θ;J1為一階Bessel函數(shù)。
從式(1)可知,在其他參數(shù)不變的情況下,I(θ)的大小與被照射的顆粒的粒徑d有一定的對應(yīng)關(guān)系,粒徑越大衍射光的強度越大。衍射圖形與顆粒直徑之間存在著完全確定的對應(yīng)關(guān)系。由于我們所用的是光電探測器,因此,對于光電探測器的第n環(huán)(設(shè)環(huán)半徑從rn~rn+1對應(yīng)的衍射角從θn到θn+1),其光能量為
將式(1)、(3)代入(2),通過積分變量變換并化簡:
實際測量區(qū)中的顆粒數(shù)往往很多,而且所有顆粒的粒徑大小又不同。設(shè)顆粒直徑為di,顆粒有Ni個,這時光電探測器每一環(huán)的衍射光能量為:
探測器有30環(huán),對其中每一環(huán)都可按式(6)寫出其衍射光能,e1、e2…e30。反之,如果光電探測器能探測到e1、e2…e30各環(huán)光能,就能算出與這個光能分布相對應(yīng)的顆粒尺寸。以上所述就是用光的衍射理論,測量微小顆粒粒徑及顆粒分布的方法。
2電學(xué)部分
圖3是30環(huán)光電探測器的示意圖。光通過顆粒群產(chǎn)生衍射光能,在光電探測器光環(huán)上轉(zhuǎn)換成電信號。
圖4是數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)方框圖。它由光電探測器、多路模擬開關(guān)、I/V轉(zhuǎn)換器、放大器、采/保器、A/D轉(zhuǎn)換器和CPU等組成。系統(tǒng)通過觸發(fā)器及譯碼器分別控制多路模擬開關(guān)的地址端及禁止端,分時接通來自光電探測器的1至30環(huán)電信號,進行I/V轉(zhuǎn)換;由于轉(zhuǎn)換后電信號非常微弱,需經(jīng)放大器進行放大。考慮到各種顆粒在衍射后的光能強弱不同,因此放大器的放大倍數(shù)設(shè)計成可調(diào)的,通過模擬開關(guān),分別改變放大倍數(shù)。通過放大器的電信號進入采樣/保持電路,對高速變化的模擬信號進行瞬時采樣,并把采樣值保存下來,直到轉(zhuǎn)換完為止。通過各種邏輯門分別控制A/D芯片。把采樣來的信號轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號,與接口電路通信,便于微機控制。
3結(jié)束語
本文介紹的應(yīng)用光學(xué)、電學(xué)及計算機接口原理,研究微小顆粒粒徑及其分布規(guī)律的技術(shù)有著廣泛應(yīng)用前景。
接地電阻相關(guān)文章:接地電阻測試方法
評論