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          現(xiàn)代模擬電路智能故障診斷方法研究與發(fā)展

          作者: 時間:2012-02-23 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          摘要:對系統(tǒng)可靠性和經(jīng)濟性要求的提高使得的重要性日益凸顯。首先在介紹了故障原因及分類的基礎(chǔ)上,詳細分析了的特點。針對傳統(tǒng)診斷方法的不足之處,介紹了基于人工智能和現(xiàn)代信息信號處理的現(xiàn)代方法,包括專家系統(tǒng)診斷方法、神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)診斷方法、模糊診斷方法和基于核的診斷方法,同時系統(tǒng)地分析了每種方法的基本原理、優(yōu)缺點、研究進展和典型應(yīng)用。最后探討了目前模擬電路故障診斷研究存在的問題和未來的方向。
          關(guān)鍵詞:模擬電路;故障診斷;人工智能;機器學(xué)習(xí);核方法

          電子設(shè)備廣泛應(yīng)用于航天航空、通信、測量、自動控制、醫(yī)療器械等各個領(lǐng)域,其運行環(huán)境多種多樣,如高溫、高電磁干擾、高濕度、高輻射和振動等,有時甚至?xí)?jīng)歷兩個極端的變化過程(例如,從超高溫到超低溫)。越是惡劣的運行環(huán)境,就越是要求更高的可靠性,如核電設(shè)備的控制系統(tǒng)、衛(wèi)星的姿態(tài)控制系統(tǒng)等對于可靠性有著近乎苛刻的要求。這就要求我們不斷研究新的方法和技術(shù),進一步提高電子設(shè)備的可靠性,在發(fā)生故障后能夠及時地檢測、隔離、診斷故障。通過對電路進行監(jiān)測、診斷并預(yù)測其趨勢,可確保我們采取不同的應(yīng)對措施對其進行有效的保養(yǎng)或維修,使其始終處于安全、經(jīng)濟、穩(wěn)定的運行狀態(tài)。
          電子設(shè)備中的電路系統(tǒng)分為模擬電路和數(shù)字電路兩個部分,客觀世界信號的本質(zhì)決定了模擬電路在電子設(shè)備中的不可替代性,因此即使在數(shù)字電路充分的今天,模擬電路仍然廣泛應(yīng)用于科研、生產(chǎn)、生活的各領(lǐng)域。理論分析和長期的實際使用經(jīng)驗均表明,模擬電路比數(shù)字電路更容易出現(xiàn)故障,因此模擬電路的可靠性決定了整個電子系統(tǒng)的可靠性。

          1 模擬電路故障產(chǎn)生原因及分類
          模擬電路故障可以定義為任何偏離元件標(biāo)稱值,并且使得整個電路發(fā)生異常的現(xiàn)象。模擬電路產(chǎn)生故障的原因通常來自設(shè)計、制造和使用這3個階段。有些故障是由于元器件在設(shè)計過程中沒有考慮到特殊的工作環(huán)境造成的,如高溫、高輻射環(huán)境;有些故障是由于制造工藝缺陷造成的,如氧化厚度不足、封裝缺陷;有些故障是由于元器件使用時間過長造成的,如元器件老化、磨損等。
          電路故障有多種不同的分類形式,通常是按照元件參數(shù)值偏離其標(biāo)稱值的程度劃分為軟故障(Soft Faults)和硬故障(Hard Faults)兩類。軟故障是指元件的參數(shù)隨著時間或者環(huán)境條件的影響而偏離至不能允許的程度,從而導(dǎo)致了系統(tǒng)性能的異?;驉夯?。元件軟故障通常不會導(dǎo)致電路網(wǎng)絡(luò)拓撲結(jié)構(gòu)的改變,大多不會對電路功能造成重要影響。硬故障又稱災(zāi)難性故障,是指元件的參數(shù)突然發(fā)生很大的變化(如元件的短路、開路等),從而導(dǎo)致系統(tǒng)嚴重失效,甚至完全癱瘓。硬故障是一種結(jié)構(gòu)性的破壞,它破壞了電路的拓撲結(jié)構(gòu),使電路功能失效。硬故障從本質(zhì)上可以看作是軟故障的某種特例,即元件參數(shù)變化的兩種極端情況:極大值(開路)和極小值(短路)。圖1為模擬電路故障所導(dǎo)致的系統(tǒng)性能參數(shù)的變化示意圖,不同應(yīng)用場合其性能參數(shù)變化是不同的。

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/186871.htm

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          區(qū)分元件參數(shù)值偏離其容差范圍所引起的故障類型原則是:實際元件參數(shù)值是否大于其標(biāo)稱值的10倍或者小于其標(biāo)稱值的0.1倍。電路元件值的變化引起故障類型的變化示意圖如圖2所示。從圖中可以看到,當(dāng)元件參數(shù)在之內(nèi)時,認為是軟故障,在此之外則認為發(fā)生了硬故障,其中為元件的標(biāo)稱值,為元件的容差范圍。

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          如果按照電路中同時發(fā)生故障元件的個數(shù)來劃分,還可以分為單故障(Single Fault)和多故障(Multiple Fauhs)兩種情況。通常單故障發(fā)生的概率在80%左右,發(fā)生多故障的概率較低。從故障在電路中隨時間的表現(xiàn)形式來看,可分為持久故障(短路、開路等)和間歇故障(接觸不良等)。

          模擬電路文章專題:模擬電路基礎(chǔ)

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