Multisim10在負(fù)反饋放大電路實(shí)驗(yàn)中的應(yīng)用
加入技術(shù)交流群
2 負(fù)反饋對帶寬的影響
對負(fù)反饋放大器和基本放大器負(fù)載開路時的通頻帶進(jìn)行分析。單Simulate／Analysis／AC analysis(交流分析)按鈕，選擇待分析的輸出電路節(jié)點(diǎn)V可得到如圖7、圖8所示的幅頻特性曲線。本文引用地址：http://www.ex-cimer.com/article/187327.htm
由仿真結(jié)果可得負(fù)反饋放大器BW=2．36MHz，基本放大器BW=195．76kHz，負(fù)反饋電路對通頻帶進(jìn)行了拓寬。
3 結(jié)束語
運(yùn)用multisim10對負(fù)反饋放大器實(shí)驗(yàn)進(jìn)行仿真分析得到的結(jié)果與理論分析一致，與傳統(tǒng)實(shí)驗(yàn)相比較具有以下優(yōu)點(diǎn)：
(1)傳統(tǒng)的負(fù)反饋放大器實(shí)驗(yàn)是在已經(jīng)焊接好的電路板上進(jìn)行操作，負(fù)反饋支路由開關(guān)控制，在分析基本放大器的性能參數(shù)時，只是簡單地切斷反饋支路的開關(guān)，而沒有考慮到負(fù)載效應(yīng)，但通過multisim10可以清楚繪制出帶負(fù)載效應(yīng)的基本放大器，有助于學(xué)生對原理的理解和正確的分析。
(2)運(yùn)用Multisim10可以方便地搭建電路，改進(jìn)電路，并可以通過改變元器件的參數(shù)對電路性能指標(biāo)進(jìn)行仿真，觀察不同原件參數(shù)對實(shí)驗(yàn)結(jié)果的影響，并且減少在實(shí)驗(yàn)過程中對元件的損耗，學(xué)生通過對仿真過程的觀察，加強(qiáng)對理論知識的理解和掌握。
評論