提高EMC試驗效率的方法

摘要： 在EMC試驗中，根據(jù)試驗項目及試品自身的特點(diǎn)，有兩種關(guān)于節(jié)省試驗時間、提高試驗效率的方法：去除冗余的方法和多線測量的方法。

關(guān)鍵詞： EMC；浪涌；振蕩波抗擾度；電快速瞬變脈沖群

概述

由于目前所使用的電子元件和設(shè)備對電磁干擾非常敏感，尤其對“高頻”和“瞬態(tài)”現(xiàn)象。所以在電子元件和設(shè)備的大量使用中，出現(xiàn)了由電和電磁干擾所引起的設(shè)備誤動作、設(shè)備拒動、設(shè)備損壞等現(xiàn)象。為了避免和減輕上述問題，提出了對電子元件和帶有電子元件的設(shè)備要進(jìn)行電磁兼容(EMC)試驗，主要進(jìn)行浪涌(沖擊)抗擾度試驗，振蕩波抗擾度試驗和電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗。在浪涌(沖擊)抗擾度試驗和振蕩波抗擾度試驗中，隨著電源線和控制線數(shù)量的增多，試驗的時間和繁瑣度也隨著增加。

在多次對受試設(shè)備進(jìn)行試驗的過程中，筆者總結(jié)出了以下兩種可提高試驗效率的方法。

去除冗余的方法

根據(jù)國標(biāo)GB/T17625.5-1999，如果受試設(shè)備的控制線、信號線中存在功能相同的線，即實現(xiàn)的電路線路相同，則可以選擇其中一定數(shù)量的線路進(jìn)行典型測量。例如，在對某電子有限公司生產(chǎn)的CHK-II型重合器控制器進(jìn)行試驗時，它有三根電流線分別標(biāo)為Ia、Ib、Ic。根據(jù)CHK-II型重合器控制器的原理圖，Ia、Ib、Ic這三根線的實現(xiàn)線路是相同的，則在浪涌試驗中，Ia與其他控制線、信號線的共模和差模試驗性質(zhì)同Ib、Ic與其他控制線、信號線的共模和差模試驗，所以我們可對其中的任意兩根進(jìn)行測量(也可對其中的一根測量)。

多線測量的方法

在浪涌試驗中，分為共模和差模兩種方式。

在共模方式中：如果有N根控制和信號線，則測量次數(shù)為N