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          寬帶放大器的設(shè)計(jì)方法以及仿真和實(shí)測(cè)

          作者: 時(shí)間:2010-05-11 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

            通過(guò)理想的計(jì)算,該設(shè)計(jì)選用了6×30μm的增強(qiáng)型PHEMT器件,Craig Moore的198?年的設(shè)計(jì)中在MESFET管的漏極增加了一些額外的匹配元件,以保證有效輸出電容和柵極輸入容抗相同。此時(shí)輸入和輸出的集總參數(shù)傳輸線將是對(duì)稱的,其相位延遲也相同。文章還比較了這種輸入輸出傳輸線對(duì)稱的匹配方案和另一種漏級(jí)電容獨(dú)立優(yōu)化的方案(漏極電感和柵極不對(duì)稱)。對(duì)于這個(gè)簡(jiǎn)單的3級(jí)PHEMT設(shè)計(jì),柵極和漏極輸入線的相移差別很小,這里就采用較簡(jiǎn)單的非對(duì)稱方案。如果輸入輸出傳輸線的相位差較大,這種方案的就不能有效的合并各級(jí)的增益。下一步使用TriQuint公司提供的電感、電阻、電容以及互連線模型取代理想元件,進(jìn)行更真實(shí)的。圖3顯示了期望的最終放大電路的增益、匹配度、穩(wěn)定因子和噪聲系數(shù)。中采用了30mA和3.3V的直流偏置設(shè)計(jì),以限制其功耗在100mW以內(nèi),并實(shí)現(xiàn)了輸出功率和三階互調(diào)截止點(diǎn)的折中。圖4是該電路的版圖,同時(shí)還包含了兩個(gè)有探針接入端的測(cè)試模型管:一個(gè)是設(shè)計(jì)中采用的6×30μm增強(qiáng)型PHEMT,另一個(gè)是普通的6×50μm耗盡型PHEMT。

            圖4:3級(jí)分布式放大器的版圖(包括180μm柵寬的增強(qiáng)型測(cè)試建模管和一個(gè)300μm柵寬的耗盡型測(cè)試建模管)。

            一個(gè)典型的分布式放大其中有一半的功率被輸出傳輸線的50歐負(fù)載所吸收,為了提高輸出效率,人們通常采用一些技巧,如漸縮型傳輸線方法。本設(shè)計(jì)采用了50歐姆輸入輸出線,為了減少DC功率的消耗,該傳輸線的一端的50歐姆終結(jié)負(fù)載和一個(gè)較大的電容(25pF)串聯(lián)后,再通過(guò)通孔接地,這樣既能保證射頻信號(hào)接地,又能實(shí)現(xiàn)隔直流的效果。漏極較大的直流供電電流只流經(jīng)低阻抗的電感元件,而不是50歐的終結(jié)負(fù)載(如圖5),這樣可以有效的減小50歐終結(jié)電阻上的功耗。這里漏極電感的大小也是一個(gè)重要的設(shè)計(jì)參數(shù),該電感直接影響電路在1GHz附近的低頻滾降速度,如果增大電容將會(huì)減小滾降速度,但是同時(shí)會(huì)增加串聯(lián)電阻,從而提高直流功耗,而且較大的電感也會(huì)增大版圖面積。

            在提交產(chǎn)線流片之前,各設(shè)計(jì)還必須經(jīng)過(guò)嚴(yán)格的設(shè)計(jì)規(guī)則檢查DRC(design-rule check),自198?年第一次MMIC設(shè)計(jì)課程開(kāi)始,約翰?霍普金斯大學(xué)就采用ICED(ICEDitor)軟件,并采用TriQuint提供的DRC規(guī)則進(jìn)行設(shè)計(jì)規(guī)則檢查。另外還使用了“版圖轉(zhuǎn)電路圖”LVS(Layout Versus Schematic)工具進(jìn)一步比較從ADS中提取出來(lái)的網(wǎng)表是否符合ICED軟件中的實(shí)際電氣連接。有時(shí)設(shè)計(jì)雖然能通過(guò)DRC檢查,但是仍然會(huì)有一些致命的錯(cuò)誤,只有LVS工具才能發(fā)現(xiàn)這些問(wèn)題。新版本的ADS已經(jīng)具備內(nèi)置的連接性檢查功能,可以排除一些連接性錯(cuò)誤,但是外部的LVS檢測(cè)仍然是很有必要的。

            圖5:分布式放大器電路的直流等效電路,可以看出流經(jīng)電感L35的電流只引起很小的壓降。

            圖6:實(shí)測(cè)的輸出功率和效率結(jié)果。



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