一種高性價(jià)比等精度數(shù)字頻率計(jì)方案設(shè)計(jì)
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頻率的概念就是1 s時(shí)間內(nèi)被測(cè)信號(hào)的周期個(gè)數(shù)，最直接的測(cè)量方法就是單位時(shí)間內(nèi)計(jì)數(shù)法，這種方法比較適合高頻測(cè)量。低頻通常用測(cè)周期法。這兩種方法的測(cè)量精度不固定，與被測(cè)信號(hào)的范圍相關(guān)。
等精度頻率測(cè)量法融合以上兩種方法的優(yōu)點(diǎn)，可兼顧低頻與高頻信號(hào)；但較以上兩種方法而言，等精度頻率測(cè)量有較高的測(cè)量精度，且誤差不會(huì)隨著被測(cè)信號(hào)頻率的改變而改變。
1等精度頻率測(cè)量原理
等精度頻率測(cè)量原理框圖如圖1所示。圖中計(jì)數(shù)器是帶使能控制的32位計(jì)數(shù)器，EN是計(jì)數(shù)允許使能信號(hào)，高電平允許計(jì)數(shù)。計(jì)數(shù)器1對(duì)基準(zhǔn)時(shí)鐘信號(hào)fb計(jì)數(shù)，計(jì)數(shù)器2對(duì)被測(cè)信號(hào)fx計(jì)數(shù)。D觸發(fā)器實(shí)現(xiàn)對(duì)被測(cè)信號(hào)fx上升沿檢測(cè)，實(shí)現(xiàn)門控信號(hào)與fx上升沿同步，從而保證計(jì)數(shù)器2對(duì)被測(cè)信號(hào)計(jì)數(shù)剛好為整數(shù)個(gè)周期，零誤差。
測(cè)量過(guò)程控制時(shí)序波形如圖2所示。測(cè)量開(kāi)始，t0時(shí)刻MCU發(fā)出一個(gè)清零信號(hào)Clr，使計(jì)數(shù)器和D觸發(fā)器置0；t1時(shí)刻MCU發(fā)出測(cè)量啟動(dòng)信號(hào)Gate，使D觸發(fā)器輸人D為高電平；在被測(cè)信號(hào)fb上升沿到來(lái)t2時(shí)刻，D觸發(fā)器Q端才被置1，使計(jì)數(shù)器1和計(jì)數(shù)器2的EN同時(shí)為1，計(jì)數(shù)器開(kāi)始計(jì)數(shù)，系統(tǒng)進(jìn)入計(jì)數(shù)允許周期。這時(shí)，計(jì)數(shù)器1和2分別對(duì)基準(zhǔn)時(shí)鐘信號(hào)和被測(cè)信號(hào)同時(shí)計(jì)數(shù)。一段時(shí)間過(guò)后，t3時(shí)刻MCU發(fā)出停止信號(hào)，即D觸發(fā)器輸入D為低電平，但此時(shí)計(jì)數(shù)器仍然沒(méi)有停止計(jì)數(shù)，直到下一個(gè)被測(cè)信號(hào)的上升沿t4時(shí)刻到來(lái)時(shí)，D觸發(fā)器Q輸出0將這2個(gè)計(jì)數(shù)器同時(shí)關(guān)閉。
由圖2可見(jiàn)，Gate的寬度Tc和發(fā)生的時(shí)間都不會(huì)直接影響計(jì)數(shù)使能信號(hào)EN，EN總是在被測(cè)信號(hào)fx上升沿改變，從而保證了被測(cè)信號(hào)被計(jì)數(shù)的周期總是整數(shù)個(gè)周期nTx，而與被測(cè)信號(hào)的頻率無(wú)關(guān)。正確理解這點(diǎn)，是理解等精度頻率測(cè)量的關(guān)鍵。由于測(cè)量過(guò)程中不能保證基準(zhǔn)時(shí)鐘周期的完整性，還會(huì)引入測(cè)量誤差。這種隨機(jī)誤差dt最多只有基準(zhǔn)時(shí)鐘fb信號(hào)的一個(gè)時(shí)鐘周期。由于fb的信號(hào)通常由高穩(wěn)定度的高頻晶體振蕩器發(fā)出，任何時(shí)刻的絕對(duì)測(cè)量誤差只有1／N1。例如，對(duì)于門控信號(hào)接近1 s的測(cè)量過(guò)程，fb取100 MHz的晶振，最大誤差可以達(dá)到10-8。
2方案設(shè)計(jì)
2.1系統(tǒng)方案
單片機(jī)定時(shí)器／計(jì)數(shù)器電路如圖3所示。當(dāng)C／T=0，TR=1，GATE=1時(shí)，單片機(jī)內(nèi)部計(jì)數(shù)器時(shí)鐘開(kāi)關(guān)可受外部引腳INTn控制，這樣就可以實(shí)現(xiàn)單片機(jī)內(nèi)部計(jì)數(shù)器與外部計(jì)數(shù)器同步開(kāi)關(guān)。
評(píng)論