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          用工頻波作為編碼的光電型位置檢測(cè)電路

          作者: 時(shí)間:2010-01-19 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/188377.htm

          3.被測(cè)工件或設(shè)備零組件位置與光電對(duì)管距離較遠(yuǎn),但環(huán)境干擾光穩(wěn)定且較強(qiáng),這時(shí)反射光太弱,環(huán)境光干擾太大導(dǎo)致接收管持續(xù)接近導(dǎo)通,因此接收管輸出持續(xù)的低電平,輸出的是一組標(biāo)準(zhǔn)的“0-0-0-0-0-0”連續(xù)訊號(hào),波形如圖五,當(dāng)然同樣一定疊加有微量反射光,但是在反射光最高瞬間仍然不足以使輸出電平為高,這同樣可以很容易的通過(guò)調(diào)節(jié)反射效率來(lái)保證,這時(shí)S0低于V0和V1,如圖5,配合CLK訊號(hào),在每個(gè)交流峰值前后U2的輸出都是1,此時(shí)由解碼電路判斷此狀態(tài)仍然為狀態(tài)1。


          圖5

          4.被測(cè)工件或設(shè)備零組件位置與光電對(duì)管距離不停的變化,接收管輸出訊號(hào)S0變化范圍很大,且環(huán)境干擾光不斷無(wú)規(guī)則變化且較強(qiáng),環(huán)境光干擾較大導(dǎo)致接收管輸出不斷依照環(huán)境光變化而變化,如圖6及圖7,圖六表示干擾光由強(qiáng)變?nèi)跛查g的反應(yīng)波形,圖七則相反,表示干擾光由弱變強(qiáng)瞬間的反應(yīng)波形。導(dǎo)致S1S2輸出不停變化,S3狀態(tài)也不斷翻轉(zhuǎn),此狀態(tài)可由解碼電路判斷為狀態(tài)0,如圖6及圖7。


          圖6


          圖7

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