一種高精度數(shù)字可調(diào)片上振蕩器設(shè)計
M7~M10通過共源共柵連接,使得流過Q1,Q2的電流IQ1,IQ2相等。在此電路結(jié)構(gòu)中,Q1發(fā)射極基極電壓VQ1應(yīng)等于Q2發(fā)射極基極電壓VQ2與電阻兩端的電壓之和,即:本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/188861.htm
假設(shè)m/n為Q2與Q1發(fā)射極面積之比,則可得電阻R與支路電流IPTAT關(guān)系如下:
式中:VT為熱電壓VTkT/q;R為多晶電阻。VT的正溫度系數(shù)與R的負(fù)溫度系數(shù)使得IPTAT正比于絕對溫度。Q3支路在提供一個負(fù)溫度系數(shù)pcas 電壓的同時,將M19的柵極電壓箝制在固定電位,使得R1兩端的電壓VR1=VQ1=Veb1,則R1支路電流INTAT可表示為:
設(shè):(ω/l)17/(ω/l)18=k,則:
調(diào)節(jié)R,R1,k,使得эI/эt=0,可以得到一路與溫度無關(guān)的電流I。電流I1為另一路鏡像。這種以熱電壓為基準(zhǔn)的自偏置電路對振蕩器的頻率進行了很好的溫度補償。共源共柵電流鏡具有較大電源抑制比,使得電流受電源電壓影響小。此電路既用作基準(zhǔn)電流電路,也是芯片內(nèi)部其他電路的偏置電路。
2.2 與溫度無關(guān)的基準(zhǔn)電壓
基準(zhǔn)電壓電路如圖3所示。運放由自偏置基準(zhǔn)電流電路提供偏置電流,將A,B兩點箝制在相等電位上,假設(shè)A,B兩點電壓分別為VA,VB,有:
輸出電壓Vbg可表示為:
假設(shè)m1/n1為Q5與Q4發(fā)射極面積比,利用式(7)、式(8)消去電流可得:
將式(9)對溫度求偏導(dǎo)數(shù)有:
調(diào)節(jié)Rtrim,R5,R6使得эVbg/эt=0,可以得到零溫度系數(shù)的基準(zhǔn)電壓Vbg,達(dá)到溫度補償?shù)哪康摹?/p>
2.3 比較器RS鎖存器設(shè)計
如果考慮比較器、鎖存器和開關(guān)管S1,S2的傳輸延時td,則振蕩器的頻率可以表示為:
由上式可知,經(jīng)精確補償電流和電壓后,只有通過減小傳輸延時td來減低傳輸延時對振蕩器頻率的影響。比較器采用全差分結(jié)構(gòu),以獲得較高的速率和高電源電壓抑制比。使用小尺寸器件可減小開關(guān)的傳輸延遲,另外比較器遲滯效應(yīng)也會給振蕩器頻率帶來一定誤差。假設(shè)由于比較器遲滯帶來上升延遲t1、下降延遲t2,則周期誤差為:
采用兩個比較器的對稱結(jié)構(gòu),保持Ich1=Ich2,Cl=C2,使得基準(zhǔn)電流對電容充放電的時間相同,有t1=t2。因此雙比較器對稱結(jié)構(gòu)設(shè)計可有效消除傳輸延遲的頻率偏差,提高振蕩器的精度。RS鎖存器由兩個NOR組成。
2.4 數(shù)字修調(diào)設(shè)計
在振蕩器設(shè)計中,由于工藝偏差等原因會產(chǎn)生頻率偏差。為保證頻率精度,有必要采用數(shù)字修調(diào)控制可配置寄存器對振蕩器頻率進行矯正,以得到精準(zhǔn)的目標(biāo)頻率。
2.4.1 電流粗調(diào)頻率可選
由圖2電路可見,開關(guān)管EN1閉合,EN2斷開時,Ich=I,選擇4 MHz頻率輸出;開關(guān)管EN1關(guān)閉,EN2斷開時,Ich=I1,選擇2 MHz頻率輸出。
2.4.2 電阻微調(diào)頻率
帶隙基準(zhǔn)電路的電阻微調(diào)網(wǎng)絡(luò)如圖4所示。R按照RN=2n-1RLSB取值,所有開關(guān)由片上可配置寄存器控制,通過控制Tr1~Tr8,可使電阻在256階精度變化,使得基準(zhǔn)電壓Vbg的變化梯度為256階,從而實現(xiàn)頻率256階精度微調(diào)。
十六進制寄存器為FFH狀態(tài)時,Tr1~Tr8全為1,開關(guān)管均閉合,Rtrim最小,基準(zhǔn)電壓Vbg輸出最小,振蕩器輸出最大頻率fmax;十六進制寄存器為00H狀態(tài)時,Tr1~Tr8全為O,開關(guān)管均斷開,Rtrim最大,基準(zhǔn)電壓Vbg輸出最大,振蕩器輸出最小頻率fmin。設(shè)置寄存器為80H狀態(tài)則對應(yīng)頻率振蕩器的中心頻率fOSC,該頻率可通過電阻網(wǎng)絡(luò)在fmin~fmax之間調(diào)節(jié),可調(diào)精度為:
在微調(diào)電阻陣列的設(shè)計中,要充分考慮晶體管的工藝偏差和開關(guān)的傳輸延遲,減小開關(guān)晶體管的導(dǎo)通電阻對trim電阻的影響。
3 測試結(jié)果及分析
基于CSMC O.5 μm CMOS工藝對所提電路進行流片,其電路的顯微照片如圖5所示。
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