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          30GHz示波器助推高速串行信號測試邁入新時代

          作者: 時間:2009-04-13 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          滿足的高帶寬高采樣
          WaveMaster 8Zi系列及串行數(shù)據(jù)分析儀,為工程師測試新一代高速串行信號提供了全面的解決方案。這款的基本性能包括:最高達(dá)前端采集帶寬、最高達(dá)80GS/s的實(shí)時采樣率、最深達(dá)512Mpts的可分析波形內(nèi)存,大于15的邊沿觸發(fā)帶寬、最長達(dá)80bit的串行觸發(fā)能力,以及標(biāo)配比傳統(tǒng)方法更精確的眼圖和抖動測量軟件包―SDA II,串行協(xié)議一致性分析集成化工具―QualiPHY,為分析高速串行鏈路信號完整性而量身定制的Eye Doctor II軟件包,這些示波器行業(yè)的多項(xiàng)創(chuàng)新設(shè)計為工程師分析從100Mb/s的百兆以太網(wǎng)到12Gb/s的高速通信背板信號質(zhì)量都提供了堅實(shí)的技術(shù)基礎(chǔ)。由于版面有限,關(guān)于該產(chǎn)品的詳細(xì)介紹請參閱其網(wǎng)站。

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/188986.htm

          創(chuàng)新的高速串行數(shù)據(jù)分析方案
          SDA 8 Zi串行數(shù)據(jù)分析儀基于WaveMaster 8 Zi系列示波器,標(biāo)配存儲器提高了一倍,可以捕獲眼圖中更多的單位間隔。同時擁有增強(qiáng)的高速串行碼型觸發(fā)功能,支持高達(dá)80位碼型,工作速度高達(dá)3.125Gb/s。


          SDA8Zi標(biāo)配的串行數(shù)據(jù)分析平臺――SDA II功能非常全面,包括基于NQ-Scale技術(shù)的抖動分解方法及更精確的抖動分類工具,提高了工程師測量高速信號微小抖動的信心,也提供了更全面的洞察力,深存儲時的眼圖生成速度要比傳統(tǒng)示波器快20~100倍,可以在3秒內(nèi)捕獲、分析和顯示近100萬個PCI Express單位間隔。其他工具如IsoBER(由已捕獲的眼圖去推測更長時間的眼圖閉合情況)和模板違規(guī)定位器,可以簡便地了解復(fù)雜的問題。電纜補(bǔ)償功能可以去掉電纜失真影響,在高速眼圖上更準(zhǔn)確地測量定時和幅度。新推出的SDA 8 Zi分析儀同時標(biāo)配眼圖、時間間隔誤差、浴盆曲線、抖動直方圖及其他抖動分類分析等多個完整的視圖。使用QuickView(快速查看)功能,工程師可以快速“一鍵”了解到串行信號的全貌,包括眼圖和抖動的多角度視圖。


          在一致性測試階段,可以對各種既定標(biāo)準(zhǔn)使用自動化QualiPHY軟件,如PCIe、SAS、SATA、HDMI、DisplayPort和XAUI。圖1所示為QualiPHY分析SATA一致性的操作界面,整個操作過程便捷,全面覆蓋標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的測試項(xiàng)目,并能自動輸出美觀實(shí)用的測試報告。

          創(chuàng)新的信號完整性分析方案
          為了在最困難的測量環(huán)境中測試最快速的新興技術(shù),需要使用帶寬高達(dá)的示波器。在50ps上升時間或 2.5Gb/s以下數(shù)據(jù)速率表現(xiàn)得不太明顯的測試挑戰(zhàn),在上升時間接近或變成小于25ps或信息速率超過5Gb/s時成為不可規(guī)避的問題。在這些速度下,工程師面臨著以前只限于微波頻域的信號完整性問題,如不理想的測試夾具和連接電纜的負(fù)載效應(yīng)會從被測電路中汲取能量,從而降低幅度和相位測量的保真度。實(shí)現(xiàn)下一代高速串行數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)的工程師面臨著更快速、更復(fù)雜的信號挑戰(zhàn),與此同時,串行數(shù)據(jù)通道(互連、傳輸線、背板)速度并沒有同步提高,導(dǎo)致串行數(shù)據(jù)通道中的信號劣化問題。另外,新興串行數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)如USB 3.0,要求模擬(仿真)信號傳輸路徑,在所有用戶環(huán)境中都保證可靠的性能。最后,串行數(shù)據(jù)接收機(jī)硬件是為平衡信號劣化專門設(shè)計的,但工程師沒有任何途徑直接探測到SerDes接收端芯片內(nèi)部應(yīng)用了均衡優(yōu)化后的被測信號的性能,道理很簡單,因?yàn)闆]有任何辦法可以將探頭伸入到芯片內(nèi)部。



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