TD-LTE射頻一致性測試系統(tǒng)數(shù)字中頻單元設計

　　FFT子模塊設計

　　利用Xilinx IP核設計FFT模塊，根據(jù)內(nèi)部同步信號，準確定位到待測“時隙”，對其進行實時傅里葉變換供后續(xù)DSP芯片處理。該子模塊設計如圖15所示。 TI公司的DSP6487芯片根據(jù)FPGA輸出的FFT頻譜，計算出“占用帶寬(Occupied Bandwidth)”、“鄰道泄漏抑制比(Adjacent Channel Leak Ratio)”、“頻譜發(fā)射模板(Spectrum Emission Mask)”等指標。

　　測試結果

　　測試環(huán)境：待測件(AV5251寬帶多通道數(shù)字中頻單元)，對比測試儀器AV4947(TD-LTE無線終端綜合測試儀)。矢量信號源R&S SMU200A，矢量信號分析儀Anritsu MS2692A等。

　　測試平臺：SMU200A為激勵源分別接到AV5251和AV4947的輸入端;MS2692A為監(jiān)測儀分別連接到前者的輸出端。其中，圖16為待測件(寬帶數(shù)字中頻單元)，圖17為測試系統(tǒng)，對比測試結果如表3所示。

　　數(shù)字中頻單元作為數(shù)字信號的處理前端通道，對TD-LTE/TD-SCDMA信號應有良好的兼容性。測試結果如表4所示，測試結果截圖如圖18所示。

　　結論

　　電路設計基于奈奎斯特帶通采樣原理，運用高速數(shù)字信號處理技術，采用高解析度、高采樣率A/D、D/A和高性能FPGA、DSP芯片，設計一款針對“射頻一致性測試”用途的數(shù)字中頻處理單元，將接收信號處理動態(tài)范圍提高到96dB，發(fā)射/接收通道EVM指標降低到0.48%，滿足TD-LTE/TD-SCDMA測試標準要求，為應對“TD-LTE射頻一致性測試”需求提供了一種新的可實施的解決方案。

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