物位計(jì)測(cè)量技術(shù)難點(diǎn)剖析

引言

　　調(diào)頻連續(xù)波（ frequency modulated contin - uous wave，F(xiàn)MCW）雷達(dá)是一種通過(guò)對(duì)連續(xù)波進(jìn)行頻率調(diào)制來(lái)獲得距離與速度信息的雷達(dá)體制系統(tǒng)，由于它具有無(wú)距離盲區(qū)、高分辨率和低發(fā)射功率等優(yōu)點(diǎn)，近年來(lái)受到了人們的廣泛關(guān)注。

　　一、物位測(cè)量技術(shù)發(fā)展

　　物位測(cè)量技術(shù)經(jīng)歷了結(jié)構(gòu)上從機(jī)械式儀表向電子式儀表發(fā)展，以及工作方式上由接觸式向非接觸式發(fā)展的階段。

　　物位儀表的分類(lèi)如圖1所示。

　　圖1中，前4種測(cè)量技術(shù)都屬于接觸式測(cè)量方法，第5種輻射法為非接觸測(cè)量方法。其中，直視法是指眼睛可以直接觀測(cè)到介質(zhì)容量變化的一類(lèi)方法；測(cè)力法是指通過(guò)被測(cè)介質(zhì)對(duì)指示器或傳感器等目標(biāo)施加外力來(lái)測(cè)量的方法；壓力法是由被測(cè)介質(zhì)施加在測(cè)量探頭而產(chǎn)生壓力進(jìn)行測(cè)量的方法；電特性法是利用被測(cè)介質(zhì)的電特性進(jìn)行測(cè)量的方法；輻射法采用電磁頻譜原理技術(shù)。

　　前4種方法需要測(cè)量?jī)x器的全部或一部分部件與被測(cè)介質(zhì)（固體或液體物料）相接觸才能達(dá)到測(cè)量的目的。從長(zhǎng)期來(lái)看，物料粘附物及沉積物會(huì)對(duì)這些機(jī)械部件產(chǎn)生附著，當(dāng)物料為腐蝕性或易產(chǎn)生水銹的介質(zhì)時(shí)，對(duì)儀器精度的影響將更加嚴(yán)重。在工業(yè)生產(chǎn)中，對(duì)物位儀表最基本的要求是高精度和高可靠性，這就需要有應(yīng)用范圍更大、精度更高的技術(shù)出現(xiàn)。