基于飛針測(cè)試儀的電子模塊的測(cè)試與實(shí)現(xiàn)

飛針測(cè)試的短路測(cè)試生成過(guò)程需要輸入一個(gè)值作為邊際測(cè)試參考。這個(gè)值表明在某個(gè)區(qū)域內(nèi)所有不相同信號(hào)的焊點(diǎn)之間必然生成短路測(cè)試。例如：被測(cè)板上大部分焊點(diǎn)的間距為50 mm，建議邊際參數(shù)值設(shè)置為51 mm，保證相鄰管腿都可進(jìn)行短路測(cè)試。依據(jù)此原理，當(dāng)測(cè)試過(guò)程中，飛針測(cè)試儀報(bào)出了短路測(cè)試錯(cuò)誤時(shí)，首先，根據(jù)測(cè)試界面顯示的測(cè)試語(yǔ)句，確認(rèn)是哪兩個(gè)信號(hào)之間出現(xiàn)短路；其次，外觀排查：打開(kāi)NOD文件，找出兩個(gè)報(bào)錯(cuò)信號(hào)之間的共性，即兩個(gè)信號(hào)是否在同一個(gè)元器件上，是否為同一元器件相鄰的管腳，找到此種疑點(diǎn)器件后選擇FLYING PROBES＼Autoleam，輸入此元器件出錯(cuò)的管腳的通道號(hào)，點(diǎn)擊GO攝像頭運(yùn)行到指定位置，用屏幕觀察十字星標(biāo)中心對(duì)應(yīng)的焊點(diǎn)和相鄰管腳相是否有焊錫造成橋連或相鄰管腿碰觸。若無(wú)橋連則選擇另外一個(gè)滿足此條件的元器件進(jìn)行前面的操作直到外觀檢查結(jié)束；若有橋連則用標(biāo)簽紙作標(biāo)記進(jìn)行維修。最后，加電排查：外觀檢查無(wú)法發(fā)現(xiàn)短路原因，可確認(rèn)元器件本身原因造成短路。
將模塊取出，把外觀檢查的疑點(diǎn)元器件對(duì)應(yīng)報(bào)錯(cuò)管腳翹起或吸空使其與印制板焊盤(pán)暫時(shí)脫開(kāi)，用萬(wàn)用表測(cè)量模塊上出現(xiàn)短路的兩個(gè)信號(hào)若無(wú)短路，定位故障元器件，若有短路，更換另外疑點(diǎn)元器件重復(fù)此步驟操作，直到定位短路元器件。經(jīng)過(guò)上述處理，基本可以解決所有短路問(wèn)題。

4 飛針和針床的互補(bǔ)
相對(duì)針床來(lái)說(shuō)，飛針是一種技術(shù)革新，還在不斷發(fā)展中，隨著無(wú)線通信和無(wú)線網(wǎng)絡(luò)的發(fā)展，越來(lái)越多的電子模塊將增加無(wú)線接入能力，目前的針床測(cè)試儀只適用于低頻頻段，在射頻頻段的探針將變成小天線，產(chǎn)生大量的寄生干擾，影響測(cè)試結(jié)果的可靠性。射頻電路的測(cè)試由后續(xù)的功能測(cè)試去執(zhí)行，這樣必然降低電子模塊的缺陷覆蓋率。飛針測(cè)試儀的探針數(shù)很少，較容易采取減少射頻干擾的措施，實(shí)現(xiàn)電子模塊的低頻和射頻的測(cè)試，提高覆蓋率。

5 結(jié)語(yǔ)
飛針是一種技術(shù)革新，還在不斷發(fā)展中。飛針在線測(cè)試技術(shù)由于本身原理及方法限制，雖然面臨嚴(yán)峻的技術(shù)挑戰(zhàn)，但它在某些方面，如飛針測(cè)試的靈活、可做電氣性能測(cè)試等發(fā)面，仍然具有其他技術(shù)不可比擬的優(yōu)點(diǎn)，加之技術(shù)的改進(jìn)和新技術(shù)的配合使用，它還將在測(cè)試領(lǐng)域具有頑強(qiáng)的生命力。