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          集成在半導(dǎo)體測試中的重要性

          作者: 時(shí)間:2012-05-10 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          在今年5月1日于美國加利福尼亞州伯克利(Berkeley)舉行的2006年VLSI測試研討會上,一個(gè)專家小組探究了可測試設(shè)計(jì)(DFT)的發(fā)展前景。我們的姊妹出版物EDN的執(zhí)行主編Ron Wilson報(bào)道說,討論的主要問題是單點(diǎn)工具或DFT是否最佳(參考文獻(xiàn)1)。參加討論的專家所代表的公司包括Cadence Design Systems、Mentor Graphics、Synopsys、SynTest和Virage Logic,他們一致認(rèn)為:如欲建立DFT與設(shè)計(jì)工具、診斷工具、可制造性設(shè)計(jì)工具和ATE的聯(lián)系,那么將是不可或缺的。

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/193894.htm

          據(jù)Wilson報(bào)道,與會專家Sanjiv Taneja(Cadence公司負(fù)責(zé)Encounter Test產(chǎn)品線的副總裁)發(fā)表意見說:EDA行業(yè)是以一批單點(diǎn)工具起步的,而如今這些單點(diǎn)工具已經(jīng)發(fā)展到了適合一種“包容型”架構(gòu)(all-encompassing architecture)的水準(zhǔn)。

          構(gòu)筑一個(gè)用于解決設(shè)計(jì)、測試和成品率問題的包容型架構(gòu)是Magma Design Automation公司的目標(biāo)。該公司旨在利用其Talus平臺來實(shí)現(xiàn)采用65nm及更小工藝幾何尺寸制造的IC的快速設(shè)計(jì),這被該公司描述為一個(gè)從RTL至輸出設(shè)計(jì)數(shù)據(jù)帶的“光刻實(shí)施流程”(lithography-aware implementation flow)。據(jù)Magma公司的一位高級市場主管Behrooz Zahiri稱,目前推出的是β版的Talus平臺,用于解決定時(shí)、區(qū)域、功耗、信號完整性、DFT和可制造性方面的問題。

          當(dāng)我向Zahiri問起該技術(shù)的有關(guān)情況時(shí),他告訴我:Talus的主要特點(diǎn)之一是自動(dòng)化程度有所提高。他把以往的EDA方法描述為“電子設(shè)計(jì)輔助”,為了把DFT、內(nèi)置自檢(BIST)、線負(fù)載建模、平面規(guī)劃以及有可能以單點(diǎn)工具的形式存在的其他功能連接在一起,需要進(jìn)行大量的腳本設(shè)計(jì)及其他的工作。他說:這樣的人工方法已呈難以為繼之勢,因?yàn)槊宽?xiàng)設(shè)計(jì)的投資金額將有可能從130nm工藝節(jié)點(diǎn)時(shí)的500萬美元攀升到45nm節(jié)點(diǎn)時(shí)的5000萬美元。

          Zahiri說:最初將提供兩種版本的Talus,即:Talus LX和PX,它們分別面向邏輯和結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)。他說:將針對可制造性和成品率學(xué)習(xí)進(jìn)一步強(qiáng)化Talus。他表示,更多的細(xì)節(jié)信息在7月24日至28日于美國加利福尼亞州舊金山舉行的設(shè)計(jì)自動(dòng)化會議上公布于眾。

          不過,盡管有人在努力地把設(shè)計(jì)、測試和成品率控制組合成單一流程,但是,其他的替代方案也在接連面市。例如:Stratosphere Solutions公司剛剛首度推出了其StratoPro平臺,按照該公司首席戰(zhàn)略主管Prashant Maniar的說法,這個(gè)平臺是旨在“構(gòu)建符合集中化市場需求的獨(dú)創(chuàng)技術(shù)”的工作成果的一部分,在此場合中,它抑制了由參量可變性所導(dǎo)致的成品率下降。另外,Incentia Design Systems公司最近公布了其TimeCraft軟件的一個(gè)新版本,該軟件是專為改善面向90nm和65nm設(shè)計(jì)的靜態(tài)時(shí)序分析的準(zhǔn)確度和效率而設(shè)計(jì)的。

          歸根結(jié)底,化的潮流是不可逆轉(zhuǎn)的,但是,旨在解決前沿工藝中出現(xiàn)的各種問題的新型工具同樣也會不斷涌現(xiàn)。



          關(guān)鍵詞: 集成 半導(dǎo)體測試

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