系統(tǒng)電源循環(huán)通斷的測試儀

上電循環(huán)測試非常重要，因?yàn)樗鼫y試的是用戶環(huán)境。設(shè)計不良的系統(tǒng)板或芯片會造成上電循環(huán)測試失敗。此外，對系統(tǒng)板工作臺測試時，上電循環(huán)測試的設(shè)置可能需要采用沉重而昂貴的商用電源。當(dāng)你需要同時測試多塊系統(tǒng)板時，情況更加糟糕。

本設(shè)計實(shí)例描述了一個簡單而廉價的上電循環(huán)電路，它只用少量元件（圖1）。電源輸入電壓來自一個廉價開關(guān)電源適配器的直流電。這種電源適配器通常為系統(tǒng)板提供電源。電路使用一個12V供電。將電源單元的插頭插入電源插座J1。于是來自J2的電路輸出電壓連接到系統(tǒng)板，去做上電循環(huán)。12V電源通過電阻R5和R6，它們用于限制通過繼電器開關(guān)S1和S2的電流。

在上電起動時，繼電器S2的觸點(diǎn)為常閉，使來自R6的12V電源經(jīng)過電阻R1和R2為電容C1充電。與晶體管Q2串聯(lián)的電阻R8增加電容C1的充放電周期。一旦C1充電到2V，則晶體管Q2導(dǎo)通。這個動作是在晶體管Q2基射結(jié)上施加一個約0.7V的電壓，使Q2導(dǎo)通。當(dāng)晶體管Q2導(dǎo)通時，它為S2的線圈提供了一個低阻路徑，因此為繼電器賦能，使S2的觸點(diǎn)2B閉合。

此時，12V電源將其路徑切換到觸點(diǎn)2B，并使光耦的二極管導(dǎo)通，使內(nèi)部晶體管導(dǎo)通。然后，光耦驅(qū)動晶體管Q1。當(dāng)Q1導(dǎo)通時，它為S1的線圈提供一個路徑，使繼電器賦能，因此將12V電源連接到輸出電壓。電路將輸出電壓連接到系統(tǒng)板的電源上，使電路板上電。系統(tǒng)保持通電約45s。在上電期間，電容C1通過R2、Q2和R8緩慢放電。當(dāng)晶體管基極上的電壓低于晶體管的導(dǎo)通電壓時，C1使晶體管Q2關(guān)斷。然后，觸點(diǎn)2B連接到觸點(diǎn)2A，重復(fù)這個循環(huán)。

電路的關(guān)斷時間大約為17s。續(xù)流二極管D1和D2用于降低通過繼電器線圈的電流快速變化時產(chǎn)生的瞬變大電壓。