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          基于CMOS技術(shù)設(shè)計智能探測器研究

          作者: 時間:2012-03-12 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          1 序言

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/194329.htm

            本文所討論的智能,是一種集成的半導(dǎo)體光電。它與傳統(tǒng)的半導(dǎo)體光敏器件相比,最為明顯的特點是系統(tǒng)集成,即將硅光電二極管與信號的放大、處理電路及輸出電路集成在一個芯片上,使得整個系統(tǒng)的可靠性明顯提高,體積大大減小,功耗和噪聲也大幅度減小,在批量生產(chǎn)的前提下,成本也較為低廉。它的另一個特點是技術(shù)含量較高,表現(xiàn)在:第一,需要設(shè)計一套兼容集成工藝流程,使它既能制造出合乎要求的光電二極管又能制造出模擬和數(shù)字電路。第二,工藝要求高。因為光電二極管陣列和外圍讀放電路集成在同一個芯片上,任何一部分出問題就會導(dǎo)致整個芯片報廢。因此,要求較高的成品率和工藝水平。第三,芯片要求設(shè)計精度較高,速度較快。在復(fù)印機、傳真機和海關(guān)檢測等領(lǐng)域,均已使用了功能類似的芯片,但這些探測器芯片都是用于探測線條較粗的物體的。而本文研制的智能探測器要求探測直徑200微米左右的微細(xì)線條,這就要求它在設(shè)計上要有很高的靈敏度和讀出速度。

          2 應(yīng)用背景

            本文所研究的智能探測器SOC可被應(yīng)用于光敏器件陣列的信號放大,和掃描輸出,也可用于其它多通道輸入信號的放大和串行輸出。它可以應(yīng)用于食品安全檢測、工業(yè)CT等多種X射線檢測領(lǐng)域。圖1所示的X射線檢測系統(tǒng)是一個典型的應(yīng)用范例。傳送帶以較高的速度將被探測的物體(比如說,食品、物品、行李箱等)依次從探測系統(tǒng)中穿過,探測系統(tǒng)自動識別有關(guān)信息并將其送入計算機進(jìn)行處理。按圖中的處理步驟依次為:X射線機發(fā)出適當(dāng)強度的X射線,此射線通過被探測物品后即變成載有圖像信號的射線,然后,載有信號的X射線通過某種特殊的晶體,變成可見光,可見光信號被智能探測器掃描接收,變成串行的電信號,此電信號根據(jù)需要,有可能還要進(jìn)行一些放大,濾波等處理,再經(jīng)過A/D變換后變成可以被計算機處理的數(shù)字信號輸入計算機,在有關(guān)圖像處理和分析軟件的支持下即可在計算機上輸出需要的信息。這樣,自動探測系統(tǒng)就可以以較高的速度進(jìn)行高精度大批量處理。

            

          3 電路設(shè)計

            智能探測器電路設(shè)計采用了相關(guān)雙采樣(Correlated double sampling,CDS)的原理來降低噪聲。電路系統(tǒng)的示意圖如圖2所示。每個電荷放大器處理通道由前端的積分器和后端的相關(guān)雙采樣組成。為了能夠?qū)Ψe分和讀出進(jìn)行并行處理,在每一通道上,加入并行的兩個分支,每個分支的結(jié)構(gòu)完全相同。每通道有兩個傳輸門TGA和TGB控制系統(tǒng)的采樣與讀出。當(dāng)TGA導(dǎo)通時,TGB關(guān)閉,于是分支A被連接到輸出總線,64路分支A上的信號被移位寄存器掃描輸出。同時,分支B與輸出總線的聯(lián)系將被切斷,64路分支B上的信號即進(jìn)行積分與采樣。當(dāng)TGB導(dǎo)通時,TGA關(guān)閉,情況正好相反,分支B輸出信號而分支A積分和采樣。于是,我們可以連續(xù)地進(jìn)行積分,采樣和輸出。在有些情況下,這樣的處理,提高了信號處理速度。

            如圖2、圖3所示,當(dāng)φREAD為低電平時,分支A積分和采樣,分支B讀出。首先,φRESET給出一個高電平復(fù)位脈沖,將積分器復(fù)位。然后φRESET信號變低,積分過程開始。首先,在積分剛剛開始時,分支A中的TG1導(dǎo)通,將積分器輸出信號采樣到電容C1上,此時的輸出信號包括失調(diào)及傳輸噪聲。然后,TG1關(guān)閉,積分繼續(xù)進(jìn)行。在積分結(jié)束前,TG2導(dǎo)通,將積分器輸出信號采樣到電容C2上,此時的輸出信號包括信號電壓,失調(diào)及傳輸噪聲。在分支A進(jìn)行積分及采樣的過程中,分支B中的傳輸門TG1與TG2一直關(guān)斷,因此,積分器輸出的變化不會影響到分支B采樣電容上供掃描輸出的信號。同時,分支A中的傳輸門TGA亦關(guān)斷,因此,移位寄存器的輸出信號也不會將分支A上的信號連接至輸出總線。

          當(dāng)φREAD由低電平轉(zhuǎn)變?yōu)楦唠娖綍r,在分支A的采樣電容上儲存好的一對差分信號,將被連接至輸出數(shù)據(jù)總線Video1與Video2,并被移位寄存器掃描輸出,同時,分支B將進(jìn)行對信號的積分和采樣。


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          關(guān)鍵詞: CMOS 探測器

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