一種測試系統(tǒng)數字穩(wěn)壓電源的設計方案

圖3 PID控制算法流程圖。

PID控制算法程序采用結構體定義：

struct PID{

unsigned int SetPoint; //設定目標Desired Value

unsigned int Proportion; //比例常數Proportional Const

unsigned int Integral; //積分常數Integral Const

unsigned int Derivative; //微分常數Derivative Const

unsigned int LastError; //Error[-1]

unsigned int PrevError; //Error[-2]

unsigned int SumError; //Sums of Errors

}spid;

在PID控制算法中，經過不斷與給定值進行比較，動態(tài)控制電壓電流輸出的穩(wěn)定，同時確保電壓電流輸出的精度。

PID控制算法程序如下：

unsigned int PIDCalc（struct PID *pp,unsigned int Next-Point）

{

unsigned int dError,Error;

Error=pp->SetPoint-NextPoint; //偏差

pp->SumError+= Error; //積分

dError=pp->LastError-pp->PrevError; //當前微分

pp->PrevError=pp->LastError;

pp->LastError= Error;

return（pp->Proportion* Error //比例

+pp->Integral*pp->SumError //積分項

+pp->Derivative*dError）； //微分項

}

3.4 系統(tǒng)程序

測試系統(tǒng)的整體程序流程圖如圖4所示。

圖4 主程序流程圖

本文所設計的測試系統(tǒng)數字穩(wěn)壓電源能夠滿足芯片測試所需的電源要求。圖5為輸出的一路電壓。由圖可知，所輸出的電壓穩(wěn)定。

圖5 輸出電壓波形圖

4 結 語

本文設計的穩(wěn)壓電源提供的電壓穩(wěn)定可靠，系統(tǒng)運行也非常穩(wěn)定。由于可擴展的I/O 非常多，可以同時為多個芯片提供各種所需的穩(wěn)壓電源電壓值。該系統(tǒng)不僅能夠用在實驗室芯片測試工作中，而且可以通過軟件編程的方法，修改一些控制程序，使所設計的穩(wěn)壓電源作為智能電子產品性能測試的電源電壓，這樣提高了設備的使用效率，有著不錯的應用前景。