系統(tǒng)DC電源的選擇影響著測試吞吐量

關(guān)鍵字：DC電源 測試吞吐量

許多電子產(chǎn)品的自動測試時間只有幾秒鐘，系統(tǒng)DC電源可能在這一時間中占相當大的比重，因此在優(yōu)化測試吞吐量值得關(guān)注。但是，電源的判斷標準通常是價格和輸出功率，而不是其對測試吞吐量的影響。電源的輸出響應(yīng)速度、測量速度和特點都會影響測試吞吐量。許多電源可能會驚人的慢，因此盡管成本較低，但其可能并不是成本最低的選擇。認真考察和測量吞吐量特點基準，權(quán)衡測試時間成本，在選擇下一個系統(tǒng)DC電源可能會給您帶來巨大的回報！

系統(tǒng)DC電源輸出響應(yīng)速度

許多設(shè)備在多種不同的DC偏置電壓上進行測試，以在指定工作范圍內(nèi)保證正確的性能。多次改變偏置電壓可能會累積幾秒的時間，占測試時間的很大比重。
在把電源輸出電壓設(shè)置變成新值時需要幾個步驟，如圖1所示。這些步驟所需的時間都有限。

在電源收到一條命令時，電源會處理命令，這就是其命令處理時間。然后電源輸出會作出響應(yīng)，變成新的設(shè)置。在一定的穩(wěn)定頻段中到達最終值所需的時間是其輸出響應(yīng)時間。

各種系統(tǒng)電源之間的差異可能會非常大。表1比較了許多系統(tǒng)DC電源與安捷倫N6750A系列DC電源模塊典型的命令處理和輸出響應(yīng)時間，后者是為吞吐量優(yōu)化的。該模塊屬于N6700 模塊化電源系統(tǒng)系列，如圖2所示。擁有快速輸出響應(yīng)可以把每次電壓設(shè)置變動時間降低幾百微秒。

降壓編程器加快輸出響應(yīng)時間

在兩個方向上迅速改變電壓對高吞吐量測試非常關(guān)鍵，因此有必要提一下降壓編程輸出響應(yīng)時間。許多電源依賴DUT的實際負荷，來降低電壓。在負荷低的情況下，如果沒有降壓編程器，某些電源可能需要一秒的時間才能達到最終值。為高吞吐量優(yōu)化的電源采用內(nèi)置降壓編程器。降壓編程器是一條負荷電路，它迅速放電電源和DUT電容，快速進行降壓編程，而與DUT負荷無關(guān)。

響應(yīng)速度對測試吞吐量的影響：

汽車ECU實例

汽車電子控制單元(ECU)在測試過程中可能會有最多20種偏置電壓設(shè)置，如圖3所示。使用為吞吐量優(yōu)化的電源可以節(jié)約幾秒的測試時間，對測試時間為20秒的ECU，吞吐量可以提高20%?；诿黠@的原因，這種改進得到了汽車電子行業(yè)的廣泛歡迎。

系統(tǒng)DC電源測量速度

幾乎在測試過程中一直要進行DC偏置電流測量，以確定缺陷。使用系統(tǒng)DC電源的內(nèi)置電流回讀功能、而不是外置儀表，在速度和性能方面都是明智之選。當前的系統(tǒng)DC電源提供了廣泛的電流測量功能，適合大多數(shù)應(yīng)用。值得一提的是其測量速度。通常情況下，多項偏置電流測量是在測試過程中在設(shè)備上進行的，這會累積起來，給吞吐量產(chǎn)生更大的影響。此外，測量精度和速度是相互矛盾的，進一步使事情復雜化。有3個步驟會影響測量時間：

1. 電源收到并處理測量命令。
2. 電源采集實際測量數(shù)量。
3. 采集的值返回電源。

大多數(shù)通用系統(tǒng)DC電源采用一條傳統(tǒng)回讀電路，如圖4所示。對這種傳統(tǒng)方法，命令處理 時間一般是主導因素，累加測量時延會高達100毫秒?？焖貯DC 測量采集和返回單個讀數(shù)的時間很小，通常不超過2毫秒。整個測量時間通常作為一個基準處理。

這種基本方法對許多情況(如果不是所有情況的話)在精度和吞吐量之間實現(xiàn)了合理的平衡。對高波峰因數(shù)電流信號，如數(shù)字手機的脈沖式耗電量，測量可重復性誤差或“抖動”會影響這種平衡。對多次測量進行平均在一定程度上有所幫助，但會增加大量的測試時間。

程控積分提供了快速準確的測量結(jié)果

為吞吐量優(yōu)化的系統(tǒng)DC電源的測量命令處理時間要低得多。許多電源還有程控測量積分時間，代替固定的ADC和低通濾波器，如圖4所示，以增強性能。與傳統(tǒng)方法一樣，它可以設(shè)置成快速測量采集時間。也可以使用程控積分，抵消信號中的周期噪聲和AC成分，大幅度改善測量性能，但其代價是時間會大大提高。人們熟悉的實例是在電源線周期上求積分(1 PLC, 16.7或20毫秒)，以抵消AC線路噪聲。安捷倫已經(jīng)在許多系統(tǒng)電源產(chǎn)品中采用不同的方法，包括N6760A系列DC電源模塊。它們采用程控取樣周期和數(shù)字信號處理，進行快速精確的測量。在測量采集積分時間能夠編程時，必需在總測量時間基準中單獨考慮測量采集積分時間。

測量速度對測試吞吐量的影響

表2比較了傳統(tǒng)系統(tǒng)DC電源有代表性的測量命令處理和采集時間與為吞吐量優(yōu)化的電源系統(tǒng)的時間，在本例中是安捷倫N6760A系列DC電源模塊。

從傳統(tǒng)系統(tǒng)DC電源切換到為測量吞吐量優(yōu)化的電源可以把測量時間從大約100毫秒降低到最低只有幾毫秒。對ECU之類的測試設(shè)備，通常會進行多項耗電量測量。可以簡便地節(jié)約另外0.5-1秒的時間，有效改善了測試吞吐量。半導體設(shè)備測試則要更加嚴格。由于測試時間只有幾秒或更低，因此即使100毫秒長的測量也沒有空間。

在使用多個輸出時實現(xiàn)更高的吞吐量

系統(tǒng)DC電源中設(shè)計的功能和程序命令對測試時間的影響可能要超過出響應(yīng)和測量速度的影響。一個實例是使用多個DC輸出，為擁有多個偏置輸入的設(shè)備供電，或并行測試多臺設(shè)備，如圖5所示。最經(jīng)常的情況是需要單獨發(fā)送和處理每個DC電源輸出變化或測量讀回操作，甚至對多個輸出系統(tǒng)DC電源也是如此。能夠在多個輸出中同時執(zhí)行類似操作會明顯改善測試吞吐量。在并行設(shè)備測試中，其較順序測試各臺設(shè)備可能要改善幾倍。在測試時間只有幾秒長，并且已經(jīng)通過傳統(tǒng)方式優(yōu)化時，這為大幅度改善吞吐量提供了有效的備選方案。N6700 模塊化電源系統(tǒng)提供了一個通道列表命令集，在多個輸出模塊上同時支持類似操作，以實現(xiàn)更大的測試吞吐量。

結(jié)語

系統(tǒng)DC電源是既供電又測量的部分儀器之一，其對測試吞吐量的影響要超過通常的預期水平。必須認真考察和基準測試供電和測量速度屬性，以評估其測試吞吐量的影響。切換到為吞吐量優(yōu)化的系統(tǒng)DC電源可以把測試時間降低幾秒的時間，同時提供快速準確的測量功能。

除速度基準外，同時操作多個輸出等功能可以明顯提高吞吐量，傳統(tǒng)手段的作用甚微。對并行設(shè)備測試，同時操作可以明顯把吞吐量改善幾倍。

由于目前許多設(shè)備的測試時間只有幾秒長，因此使用為吞吐量優(yōu)化的系統(tǒng)DC電源具有重要意義，進而受到廣泛歡迎！