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          基于GPIB和計(jì)算機(jī)并行口的SoC自動化測試方案

          作者: 時間:2011-09-02 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
          測試流程及結(jié)論

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/194754.htm

            利用之前設(shè)計(jì)的硬軟件模塊可以完成自動化測試。圖2為測試系統(tǒng)框架,

            

            圖2 測試系統(tǒng)框架

            圖3為利用該系統(tǒng)測試得到的一個數(shù)模轉(zhuǎn)換器輸出信號的時域波形,

            

          合成信號時域波形

            圖3 合成信號時域波形

            圖4所示為利用該系統(tǒng)得到的該信號的頻譜特性。

            

            圖4 合成信號頻譜特性

            通過相關(guān)的接口總線對設(shè)備的控制指令控制頻譜儀,可以使頻譜的捕捉在4秒鐘內(nèi)完成,整個測試流程在1分鐘內(nèi)完成,有效地節(jié)約了測試時間。在多片測試中,測試員啟動批處理文件就可以完成快速測試流程。對比傳統(tǒng)測試方案,該方案不需要反復(fù)更換測試儀器探頭及調(diào)試測試儀器,只需要更換開關(guān)電源及待測芯片即可。


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          關(guān)鍵詞: GPIB SoC 計(jì)算機(jī) 并行口

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