干擾對CDMA手機接收器測試的影響

　　既然頻譜噪聲主要來源上面都已列出，現在我們來看一下這些頻譜噪聲是如何進入手機接收信道的。

　　通常我們采用兩種方法測試手機，最常用的是通過物理RF連接進行測試，這種連接常被稱為“過電”連接，而不常用的測試連接方法則是直接通過手機天線。我們假定這里討論的所有測試都是通過物理“過電”連接器進行，根據手機生產工藝決定是否連接天線。為了發(fā)現最壞的情況，我們假定天線已裝配到手機里。

　　多數情況下，手機會因屏蔽很差的RF電纜或未連接的天線端口很容易受到噪聲影響。一般來講天線端口是噪聲的主要來源，特別是如果天線是在測試時才接上。圖3表示正在進行靈敏度試驗的手機對另一個正向鏈路功率-25dBm手機可能產生的影響情況，手機1是正在進行測試的手機，具有較高的-25dBm正向鏈路功率。由于手機1發(fā)射信道功率為-25dBm，假設未連接開關的衰減是20dB，那么通過天線未連接端口泄露出的信號可能高達-45dBm。

　　衰減值大小因設計而變化。由于通過天線泄漏的信號是經由空氣傳播，其傳播衰減可用Friis轉換方程計算：

　　其中：

　　Pr=接收功率

　　Pt=傳輸功率

　　Gr=天線傳輸增益

　　Gt=天線接收增益

　　λ=波長

　　d=Tx與Rx之間的距離

　　假設在最壞情況下，手機1距離手機2 1米遠(假定只有遠場效應，近場因素很難考慮)，將兩個手機平行對準且手機之間沒有衰減材料，則手機2的天線會收到一個高達-83.92dBm的信號。這樣手機2的接收器就會有-103.92dBm干擾信號，因為假設天線到過電開關的衰減為20dB。這個例子說明了一個手機在另一手機接收信道上產生噪聲的一般原因，根據例中所做假設，在實際執(zhí)行中還有很多情況會引起不同的結果，這也為認識哪種噪聲會從一個手機進入另一個手機信道提供了基礎。方位、距離、開關衰減、屏蔽、天線設計和實現方式等，這些因素都會在引入噪聲的整個轉換中發(fā)揮作用。

　　幾點注意事項

　　•如果是通過“過電”連接測試，天線沒有連接比連接了的要好。由于手機設計是圍繞在所要求頻段有效發(fā)射和接收信號，如果通過物理過電連接來測試，天線還是能夠接收外來信號，加在發(fā)射和接收器前端。接上天線后，也可能在測量手機發(fā)射端時以較高功率把大信號發(fā)射到外面去。在希望測試頻率上消除天線端口匹配(從天線連接器上取下天線)后，手機能在較高衰減電平上接收和發(fā)射信號。

　　•由于外界干擾會進入被測RF電纜與手機的連接，因此使用適當屏蔽的電纜線是很重要的，最好是用有三重屏蔽電纜的N型連接器。

　　•測試時對手機進行屏蔽會大大衰減來自其它手機或不明頻譜噪聲源的外界干擾，前面手機對手機干擾的例子在具體測試需要時確定屏蔽衰減很有用。屏蔽手機不受外來干擾并不是消除噪聲的唯一辦法，仔細處理所有被測手機頻率也能有效地避免干擾，這要求有更加復雜的控制軟件使信道數和頻率初始化，以消除頻率沖突。

　　•密切關注正在使用兩個相同頻率的手機的距離還能實現頻率重復使用，手機對手機干擾的例子在確定安, 全重復使用距離上非常有用。

　　本文結論

　　處理接收器干擾問題時，特別是在生產環(huán)境中，找出因靈敏度測試失效而使產量降低的原因不是一件容易的事，工廠的位置、工作時間、測試方式以及其它看似不相關的因素都會造成隨機性靈敏度失效。退回一步去認識干擾噪聲主要來源和這些噪聲源如何影響接收器前端，這樣對于解決靈敏度測試通過率低的問題會更加容易一些。