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          光電跟蹤檢測調(diào)試儀的研制

          作者: 時間:2011-05-10 來源:網(wǎng)絡 收藏
          2 檢測儀設計

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/194966.htm

            2.1 硬件設計

            如圖2所示,單片機通過讀取外來信號D0—D5,程序內(nèi)部判斷后對鎖定機構(gòu)進行加鎖或解鎖控制,控制信號通過SN54LS245驅(qū)動后,控制圖3中繼電器的吸合來控制電機工作。沒有加解鎖控制信號或到位信號輸入時,繼電器K1、K2、K3、K4都處于3、4和9、10導通狀態(tài);當信號控制時,繼電器K1、K2、K3、K4處于4、5和8、9導通狀態(tài)。

            

            下面以加鎖為例來說明儀的工作過程。

            當信號D0-D5為10000時,單片機通過P10口對方位鎖定機構(gòu)發(fā)出加鎖命令,控制命令經(jīng)SN54LS245驅(qū)動后作用于R9和VQ1,VQ1導通后,繼電器K2的4、5導通,輸出+28 VLOCK信號控制電機進行加鎖。完全鎖定后,開關輸出(上)信號輸出高電平即圖3中STOP+,STOP+通過上拉電阻R16作用于R10和VQ2,VQ2導通后,繼電器K3的4、5和8、9導通,+28 V LOCK信號切斷,硬件上先停止加鎖控制,防止造成機構(gòu)硬件損傷。而K3的8、9導通后,F(xiàn)WH+輸出+5 V電平給單片機,單片機接收信號后,終止加鎖命令,VQ1截止,K3恢復常態(tài)。解鎖過程和加鎖過程類似,在此不作贅述。

            

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