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          SPARQ系列述評之四―― VNA用戶的真實故事

          作者: 時間:2010-11-15 來源:網(wǎng)絡 收藏

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/195228.htm

          有一次,卡爾被問到如何提高測量的吞吐率。他說他已經(jīng)以很快速度采集數(shù)據(jù)。他將被測器件與他的背板掛鉤起來,并演示了掃頻和產(chǎn)生S參數(shù)的速度是多么 之快。他從保存的目錄中回調(diào)了校準文件然后很快取得數(shù)據(jù)。取得S參數(shù)數(shù)據(jù)僅需幾分鐘時間。按照卡爾的觀點是非常容易使用的。

          但是當卡爾被問到花了多長時間去測量背板上的8條線路時,他說“整個下午”。很顯然有一些時間是卡爾遺漏的。他意識到他的大部分時間都花在將背板送進 所在的實驗室內(nèi),通過痛苦和有時候是不可靠的校準過程以及連接線路。而且,之后還有大量工作去補償夾具對測量的負面影響,這一直是難以理解的過程。

          矢量控制相關(guān)文章:矢量控制原理

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          關(guān)鍵詞: SPARQ VNA

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