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          超聲層析成像檢測(cè)系統(tǒng)的研究與實(shí)現(xiàn)

          作者: 時(shí)間:2009-12-09 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          1 引言
          CT(Computed Tomography)是指通過物體外部檢測(cè)到的數(shù)據(jù)來重建物體內(nèi)部(橫截面)信息的技術(shù),又稱為計(jì)算機(jī)輔助斷層成像技術(shù)。它是把不可分割的對(duì)象假想切成一系列薄片,分別給出每一薄片上的物體圖像,然后再把該系列圖像疊加起來,從而得到物體內(nèi)部圖像。它是一種由數(shù)據(jù)到圖像的重建技術(shù),通過偽彩色圖像反映被測(cè)材料或制件內(nèi)部質(zhì)量,定性、定量分析其缺陷,從而提高檢測(cè)的可靠性。技術(shù)創(chuàng)新了探測(cè)物質(zhì)內(nèi)部結(jié)構(gòu)。該技術(shù)可應(yīng)用于多種能量波和粒子束,如X射線、電子質(zhì)子、超聲波等。
          CT應(yīng)用超聲波能量稱為超聲U-CT(Ultrasonic-Computed Tomography)。早期研究假設(shè)超聲波在物體內(nèi)部以直線傳播,利用發(fā)射器到接收器之間的時(shí)間延遲或振幅衰減,重建物體內(nèi)部的聲速、吸收特性等參數(shù)。但實(shí)際超聲波具有明顯的衍射特征,在界面上具有顯著的折射、衍射,因而傳播路徑復(fù)雜,這使得U-CT的理論研究和X射線層析成像(X-CT)有所不同。獲得更清晰的圖像檢測(cè)效果則成為首要問題,因此,這里提出一種超聲層析成像的設(shè)計(jì)。

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/195616.htm


          2 超聲CT陣列檢測(cè)方法
          針對(duì)超聲層析成像檢測(cè)中數(shù)據(jù)提取較困難的特點(diǎn),為提高精度,在深入研究超聲場(chǎng)的特點(diǎn),結(jié)合數(shù)字化技術(shù),這里并未采用目前主流的依次排列的一線式布置方法,而是采用環(huán)繞式陣列檢測(cè)方法,如圖1所示。

          根據(jù)試件形狀,將探頭陣列按照一定次序捆綁在試件周圍,其原則是應(yīng)均勻布置,這樣有利于數(shù)據(jù)處理過程中網(wǎng)格的劃分和射線追蹤。在脈沖信號(hào)的控制下,當(dāng)其中一個(gè)作為發(fā)射探頭時(shí),其余探頭作為接收探頭,各個(gè)探頭依次發(fā)射超聲波信號(hào)。探頭的個(gè)數(shù)由所測(cè)試件的大小、測(cè)量精度、網(wǎng)格劃分情況等因素決定。采取該布置方法的優(yōu)點(diǎn):可實(shí)現(xiàn)任意形狀試件的檢測(cè),具有良好的通用性;獲得較精確的檢測(cè)信息。


          3 基于DSP的超聲CT成像系統(tǒng)的總體設(shè)計(jì)
          該系統(tǒng)由超聲發(fā)射接收電路、信號(hào)采集、控制電路、信號(hào)處理與顯示部分組成,如圖2所示。整個(gè)超聲CT成像由數(shù)據(jù)(聲時(shí))采集、數(shù)據(jù)處理,以及圖像處理顯示3部分構(gòu)成。所需設(shè)備和元件包括:若干超聲發(fā)射探頭和接收探頭;由單片機(jī)組成的脈沖控制電路;2個(gè)讀寫存儲(chǔ)器RAM;2個(gè)由DSP組成的數(shù)字信號(hào)處理電路(分別內(nèi)置射線追蹤程序和反演迭代程序),及DSP驅(qū)動(dòng)的顯示陣列LCD。

          超聲發(fā)射裝置是由脈沖控制電路以一定周期發(fā)射超聲波,接收探頭接收信號(hào)后,通過高精度計(jì)時(shí)器得到最小走時(shí)矩陣,并存儲(chǔ)于存儲(chǔ)器1,從而完成數(shù)據(jù)采集;由存儲(chǔ)器1中的最小走時(shí)矩陣初步建立(假定超聲直線傳播)介質(zhì)內(nèi)部的慢度矩陣,南慢度矩陣按照射線追蹤得到走時(shí)路徑,存儲(chǔ)于存儲(chǔ)器2,按照存儲(chǔ)器1,2中的信息,經(jīng)DSP處理,完成方程求解,得到最終精確的慢度矩陣,完成該系統(tǒng)的核心功能一數(shù)據(jù)處理;重建的慢度矩陣轉(zhuǎn)化為灰度值,由DSP控制LCD顯示陣列。最后由工程技術(shù)人員對(duì)照標(biāo)準(zhǔn)的無缺陷的介質(zhì),分析試件,確定有無缺陷,缺陷的位置,大小以及嚴(yán)重情況。


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