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          EMC 預(yù)測試技術(shù)是保證產(chǎn)品質(zhì)量不可少的手段

          作者: 時(shí)間:2009-07-23 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          同步的雙通道EMI接收機(jī),可以保證背景信號(hào)能同時(shí)被接收機(jī)的兩個(gè)通道分別收到。從而可以將收到的共同具有的背景噪聲記錄下來并濾除掉,這就創(chuàng)建了一個(gè)虛擬的第三個(gè)測量通道,這種測量方法可以很真實(shí)地反映被測設(shè)備的電磁輻射情況。
          系統(tǒng)在“消除”背景噪聲方面.采用了“時(shí)間/頻率/相位”同步識(shí)別技術(shù),通過相位識(shí)別,把背景噪聲用傅立葉計(jì)算方法剔除掉,并能提取被調(diào)制的EUT的信號(hào),也能提取與背景噪聲頻率一致的EUT信號(hào),見圖4(b)所示。
          這種測試方法允許背景噪聲是不穩(wěn)定的,如果背景噪聲在測試場地是“均勻”的,則測試結(jié)果能與標(biāo)準(zhǔn)場地的測試結(jié)果保持基本一致。而在實(shí)際測試中,“背景噪聲均勻”的環(huán)境是很容易找到的。
          ⑶ 定位輻射源的測試
          相同頻率的兩個(gè)信號(hào),未必來自同一信號(hào)源。在定位輻射源的測試中,通道A接到一個(gè)放在EUT附近的遠(yuǎn)場天線或者電流卡鉗,探測EUT產(chǎn)生的電磁干擾,通道B連接一個(gè)近場探頭。移動(dòng)通道B的探頭,通過兩個(gè)信號(hào)的相關(guān)性來確定輻射源的位置。這就意味著即使不同的幾個(gè)發(fā)射器發(fā)出同樣頻率和幅度的信號(hào),系統(tǒng)也可以加以區(qū)分,從而準(zhǔn)確定位干擾源。
          該系統(tǒng)由于能通過“時(shí)間/頻率/相位”來識(shí)別兩個(gè)天線接收到信號(hào)的相關(guān)性,所以在EMI定位方面,它能找到真正使遠(yuǎn)場測試不合格的干擾源位置。找干擾源的時(shí)候,一個(gè)顯示窗口上同時(shí)顯示遠(yuǎn)場數(shù)據(jù)(天線收到的信號(hào))和近場數(shù)據(jù)(探頭收到的信號(hào)),能在產(chǎn)生相同頻率的多個(gè)位置中找出與遠(yuǎn)場信號(hào)相關(guān)聯(lián)的位置,可以節(jié)約大量的時(shí)間,能應(yīng)用于從板級(jí)設(shè)計(jì)一直到系統(tǒng)級(jí)設(shè)計(jì)。

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/195789.htm

          5 診斷實(shí)施舉例
          5.1 借助一些診斷工具進(jìn)一步定位問題
          在通過EMC預(yù)測量發(fā)現(xiàn)設(shè)備(或分系統(tǒng))的EMC問題后,可以借助一些診斷工具進(jìn)一步定位EMC問題。這有助于測試(設(shè)計(jì))工程師有針對性的提出EMC對策,順利解決已經(jīng)發(fā)現(xiàn)的EMC問題。以下介紹當(dāng)前使用比較普遍的84105EM診斷系統(tǒng)。
          其系統(tǒng)功能為用于表面電流、插槽、電纜和集成電路的磁場輻射測量。其系統(tǒng)組成是由三EMC分析儀、近場探頭和前置預(yù)放三部分組成。系統(tǒng)特點(diǎn):對環(huán)境沒有特別要求(不需要屏蔽室或暗室),可測頻段寬,測量精度高,只配置了磁場探頭,操作簡單、價(jià)格較低。

          5.2 簡述電磁故障診斷84105EM故障診斷系統(tǒng)診斷內(nèi)容與測量配置。
          ⑴ 診斷目的
          針對已經(jīng)檢測出的EMI不合格頻率點(diǎn),采用近場檢測的方法進(jìn)一步定位干擾發(fā)生點(diǎn);針對已經(jīng)檢測出的EMS不合格頻率點(diǎn),進(jìn)一步定位敏感度薄弱部位。
          ⑵ 診斷工具
          采用安捷倫84105EM電磁兼容診斷系統(tǒng),該系統(tǒng)由EMC分析儀E7401A(含選件跟蹤發(fā)生器前置放大器11909A)和近場探頭套(含11941A和11940A近場探頭)組成,參見圖5(a)。



          圖5 (a) 電磁故障診斷系統(tǒng)測量配置示意圖;


          (b)為診斷屏蔽殼體上不應(yīng)有的孔隙部位測量示意

          近場探頭套所包含的探頭11941A的測量頻段為9kHz-30MHz,11940A的測量頻段為30MHz~1MHz,它們都采用雙環(huán)設(shè)計(jì)。探頭的兩個(gè)環(huán)天線在平衡/不平衡變換器(簡稱“巴侖”)合并變?yōu)椴黄胶廨敵?同軸線采用雙環(huán)可使它們的電場感應(yīng)電壓分量反相,相互抵消,只保留磁場感應(yīng)電壓分量)。理論分析明在近場探測情況下,電場探頭(如單極或偶極振子)不可避免或容性耦合周圍的雜散信號(hào),難實(shí)現(xiàn)可重復(fù)的測量,而環(huán)天線的磁場探頭有很好的測量可重復(fù)性,并可抑制感應(yīng)的電場,所以本系統(tǒng)采用這種雙環(huán)結(jié)構(gòu)的磁場探頭。
          為了進(jìn)行敏感度測量,可采用E7402A分析儀配置的選件跟蹤發(fā)生器(1DS),內(nèi)置在EHC分析儀中。由于跟蹤發(fā)生器與測量接收機(jī)做成一體,兩者的頻率保持同步,這比采用單獨(dú)的掃捅要方便得多,尤其在濾波器傳輸特性的測量中可大大縮短測量時(shí)間。
          每個(gè)近場探頭均用網(wǎng)絡(luò)分析儀校準(zhǔn),每個(gè)探頭在其頻段的5個(gè)頻率點(diǎn)測校正系數(shù)(dB(uA/m)/uV),將接收機(jī)讀數(shù)(dB uv)加上此校正系數(shù)就得出所測的磁磁場強(qiáng)度(dB(uA/m))。兩個(gè)近場探頭的校正系數(shù)已存儲(chǔ)在EMC分析儀的ROM中。
          ⑶ 診斷內(nèi)容
          尋找PCB板的“熱點(diǎn)”(即電磁輻射過強(qiáng)的部位),記錄其頻率及幅值;尋找PCB的“敏感度空洞”(即電磁敏感度薄弱部位),記錄其頻率及幅值;尋找屏蔽殼體上不應(yīng)有的孔隙部位。圖5(b)為診斷屏蔽殼體上不應(yīng)有的孔隙部位的測量配置示意圖。


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