進(jìn)行電平測(cè)量時(shí)需要考慮的速度問(wèn)題

因此， 1TΩ的源電阻和100pF的電容將帶寬限制在：

當(dāng)上升時(shí)間和測(cè)量周期的數(shù)量級(jí)相同時(shí)，就會(huì)影響測(cè)量的準(zhǔn)確度。如果獲取讀數(shù)前允許的時(shí)間等于上升時(shí)間，將會(huì)產(chǎn)生大約10%的誤差，因?yàn)樾盘?hào)只能上升到其最終值的90%。為了降低誤差，必須等待更長(zhǎng)的時(shí)間。為使誤差降低到1%，必須等待大約兩倍的上升時(shí)間。而為了使誤差降低到0.1%，則必須等待大約三倍的上升時(shí)間（或者接近7倍時(shí)間常數(shù)的時(shí)間）。

在要求的誤差優(yōu)于0.1%（有的時(shí)候是1%）的情況下，二極點(diǎn)效應(yīng)開(kāi)始起作用。例如，由于絕緣體的介電吸收和其它的二階效應(yīng)，為了達(dá)到最終值的0.01%，一般需要4倍以上上升時(shí)間的時(shí)間長(zhǎng)度。

總的來(lái)說(shuō)，由于頻率響應(yīng)和上升時(shí)間直接有關(guān)，模擬儀器（或者大多數(shù)數(shù)字儀器的模擬輸出）對(duì)于變化的輸入信號(hào)的響應(yīng)是其帶寬的函數(shù)。為了確保準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果，在加入輸入信號(hào)之后，必須允許足夠的建立時(shí)間，以便使源、儀器的連接以及儀器本身建立到其穩(wěn)定的狀態(tài)。

輸入電容對(duì)上升時(shí)間和噪聲的影響

電壓測(cè)量

在對(duì)高阻抗源進(jìn)行電壓測(cè)量時(shí)（圖2-47），電壓表（VM）兩端的電容（CIN）必須通過(guò)RS充電。輸出電壓對(duì)時(shí)間的函數(shù)關(guān)系為：

VM = VS (1-e-t/RSCIN)

其中：VM = 在t秒時(shí)電壓表的讀數(shù)

　　 VS = 階躍函數(shù)電壓源

t = 階躍發(fā)生后的時(shí)間秒數(shù)

　　 RS = 以歐姆為單位的等效串聯(lián)電阻

　　 CIN = 以法拉為單位的等效并聯(lián)電容（儀器的電容加電纜的電容）

這樣就得到了圖2-48所示的熟悉的指數(shù)曲線。要獲得準(zhǔn)確的讀數(shù)就必須等待4到5倍時(shí)間常數(shù)的時(shí)間。在大數(shù)值電阻和電容的情況下，上升時(shí)間可能達(dá)到數(shù)分鐘。加大并聯(lián)電容雖然增加了上升時(shí)間，但是由于降低了電壓表的有效帶寬，所以就濾掉了由源和互連電纜產(chǎn)生的噪聲。

分流電流測(cè)量

使用分流型安培計(jì)（圖2-49）時(shí)，輸入電容對(duì)電流測(cè)量的影響與電壓測(cè)量時(shí)類似。分流型安培計(jì)可以看成是在其輸入端跨接了電阻器的電壓表。電路表明，輸入電容（CIN）必須以時(shí)間常數(shù)RSCIN的指數(shù)速率，充電到ISRS伏。注意，CIN是源、連接電纜和儀表電容之和。