用于衛(wèi)星遙測的Michelson干涉儀測試臺演示器的數(shù)字

干涉儀帶有激光計量系統(tǒng)，以便測量干涉儀臂之間的光學路徑差（絕對差和相對差），從而使用電動延遲線控制光學路徑差?？刂葡到y(tǒng)可以對激光干涉儀進行測量，將指令發(fā)送到延遲線上。

激光干涉法是至今為止用于測量長距離變化的最佳方法?？梢允褂枚喾N干涉方法，但是所有方法都是基于干涉原理的：由同一個光源發(fā)出的兩束或多束光線通過不同長度的路徑最終交匯（匯聚）在用于測量光強的探測器上。探測器上的光強是干涉光線（波）的相對相位的函數(shù)，他們可以相互增強，也可以相互減弱。在對干涉信號的分析中，可以得出關(guān)于不同光束路徑差的信息。為了測量光學干涉儀兩個臂之間的長度差，最終的方法就是使用Michelson類型的激光干涉儀。激光干涉儀包括兩種類型的激光計量：

● 絕對計量系統(tǒng)（由位于葡萄牙里斯本的INETI機構(gòu)開發(fā)），提供了兩個干涉儀臂之間光學路徑差的實際數(shù)值，分辨率較低。

● 相對計量系統(tǒng)（由位于意大利都靈的Alcatel Alenia Space Italia開發(fā)），提供了干涉儀臂之間光學路徑差的變化（相對于給定初始值的變化），分辨率較高。

兩種計量系統(tǒng)都利用光學干涉儀原型進行光學干涉，利用控制系統(tǒng)對延遲線發(fā)出指令進行電子學層面的交互。

絕對計量用來支持達到Michelson干涉儀的同相位條件，它是由干涉儀多個臂之間的光學路徑達到相干距離范圍之內(nèi)而構(gòu)成的，因此較高可見度的邊緣模式在儀器的聚焦平面上形成。

相對計量提供了對OPL變化的測量，從一個給定的初始值開始（這個數(shù)值是在達到同相位操作之后的數(shù)值），這個數(shù)值被控制系統(tǒng)利通過電動延遲線的精調(diào)級用于固定邊界圖案（OPD 10 nm）。相對計量是基于Michelson 干涉儀計量的，具有納米級別的分辨率。OPD 干擾需要在對象觀測過程中進行補償，它來自于熱學負載或是發(fā)生在衛(wèi)星內(nèi)部的振動（例如方向控制系統(tǒng)）等造成的衛(wèi)星結(jié)構(gòu)變化，通過儀器結(jié)構(gòu)，傳遞至干涉儀鏡面。

同相位系統(tǒng)實驗室演示器
同相位系統(tǒng)是望遠鏡設計最為關(guān)鍵的部分。為了測試并且演示同相位系統(tǒng)的概念，即將干涉儀臂之間的OPL 通過一個自由度的延遲線進行均衡，實現(xiàn)了一個實驗室演示器。MIT演示器由一個簡化的實驗室尺寸的光學干涉儀原型組成，實現(xiàn)了與高分辨率衛(wèi)星望遠鏡相同的光學配置拓撲。

由于同相位系統(tǒng)概念是要控制望遠鏡臂之間的OPD變化，同相位系統(tǒng)的實驗室演示器帶有一條控制延遲線（CDL）能夠在（主要）臂上工作，它跟蹤另一條（從屬）臂的OPL 變化，還帶有一條擾動延遲線（DDL）作用在（從屬）臂上，和預測的體現(xiàn)在衛(wèi)星望遠鏡上的擾動PSD 相似，引入具有相同功率譜密度（PSD）的OPL擾動。實驗室演示器需要達到的性能必須與衛(wèi)星望遠鏡要求的性能一致。

控制延遲線由兩個執(zhí)行器組成：一個粗調(diào)臺式電動平移器和一個精調(diào)臺式壓電變換器。擾動線僅由壓電變換器組成。粗調(diào)器用來從比較大的OPD（例如1 mm）開始達到同相位條件。精調(diào)器用來在達到同相位狀態(tài)之后，控制并保持兩個干涉儀臂之間的OPD。

同相位控制系統(tǒng)僅僅使用了相對計量測量，在閉環(huán)狀態(tài)下驅(qū)動精調(diào)器的控制延遲線。粗調(diào)器的延遲線直接由操作員在開環(huán)下進行驅(qū)動，操作員觀察在絕對計量監(jiān)視器上，達到同相位條件所需要的位移。粗調(diào)器的執(zhí)行器使用RS232 與便攜式計算機進行連接。軟件接口在NI LabVIEW 中實現(xiàn)，用于設置所有必要的參數(shù)，對執(zhí)行器進行編程，并設置位移指令。執(zhí)行器的絕對位置一直標識在圖表中?？刂拼终{(diào)器執(zhí)行器直至達到同相位狀態(tài)。在下圖中，顯示了達到同相位狀態(tài)的實驗干涉圖。

同相位控制系統(tǒng)硬件式基于便攜式計算機的（帶有2 GB RAM的Pentium 4 2.66 GHz），它通過IEEE 1394接口連接到便攜式NI DAQPad-6052E端口上。即便這個類型的數(shù)據(jù)采集板卡并非實時設備，還是可以通過數(shù)字控制閉環(huán)，以1 ms 的控制步長進行控制（可見這并非硬實時性能）。干擾延遲線執(zhí)行器使用相同的DAQPad-6052E 進行驅(qū)動。干擾發(fā)生算法與控制算法一起，并行運行在相同的便攜式計算機上。

圖2.達到同相位狀態(tài)的實驗干涉圖

使用了兩個ADC 通道和兩個DAC 通道。這兩個ADC 通道采集來自相對計量電子的兩個信號，它們用于重建OPD 變化。一個DAC用于驅(qū)動精調(diào)器控制延遲線的壓電驅(qū)動器，另一個DAC 驅(qū)動擾動延遲線的壓電驅(qū)動器。

控制算法設計根據(jù)相同的模型觀測器進行執(zhí)行，它基于離散時間狀態(tài)方程，直接用C 語言算法實現(xiàn)?？刂扑惴ǔ绦虮痪幾g為動態(tài)連接庫（DLL），通過調(diào)用庫函數(shù)節(jié)點使用NI LabVIEW 與NI DAQ 板卡進行數(shù)據(jù)交換（來自ADC 的測量和發(fā)送至DAC 的指令）。這種解決方案可以測試控制算法（使用C 語言編寫，十分接近最終實際使用的版本），從而可以非常方便地與實驗室NI DAQ 硬件進行連接，而無需使用實際使用的硬件，這樣就節(jié)省大量的時間和金錢。同樣，擾動發(fā)生算法實現(xiàn)為離散狀態(tài)空間方程，并且使用C++ 進行編寫，編譯為DLL 文件。圖5 顯示了控制系統(tǒng)的方塊圖。