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          用于遙控器的射頻測(cè)試站

          作者: 時(shí)間:2009-07-14 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          ● 軟件開(kāi)始通過(guò)控制儀器繼續(xù)測(cè)試序列的進(jìn)行。軟件將通過(guò)或失敗信息顯示給操作者。

          發(fā)送器PCB 測(cè)試站
          測(cè)試站被設(shè)計(jì)用來(lái)完成包含6 個(gè)測(cè)試的測(cè)試序列。測(cè)試站的主要目的是驗(yàn)證發(fā)送器PCB的組件和功能。發(fā)送器PCB由電源進(jìn)行供電,電氣觸頭是由繼電器進(jìn)行控制的。通過(guò)對(duì)電氣觸頭進(jìn)行控制,發(fā)送器PCB 運(yùn)行在工廠測(cè)試模式下,在這個(gè)模式下,可以發(fā)送射頻信息。射頻發(fā)送信息通過(guò)附帶的天線進(jìn)行接收,并且使用頻譜分析儀進(jìn)行解調(diào)和分析。

          測(cè)試包括對(duì)射頻載波強(qiáng)度和頻率進(jìn)行驗(yàn)證、對(duì)調(diào)制信號(hào)頻率和占空比進(jìn)行驗(yàn)證等等。在測(cè)試的最后,數(shù)據(jù)將被利用數(shù)字輸出、繼電器寫(xiě)入發(fā)送器PCB 的EEPROM中。通過(guò)控制電氣觸頭,發(fā)送器PCB就可以發(fā)送射頻信息。射頻發(fā)送信息通過(guò)附帶的天線進(jìn)行接收,并有頻譜分析儀進(jìn)行解調(diào)和分析。

          接收器PCB 測(cè)試站
          使用的測(cè)試站被設(shè)計(jì)用來(lái)完成12 項(xiàng)測(cè)試組成的測(cè)試序列。測(cè)試站的目的是驗(yàn)證多個(gè)子組件以及接收器PCB的特定功能。接收器PCB使用電源供電。信號(hào)發(fā)生器通過(guò)附帶的天線將射頻指令發(fā)送到接收器PCB 中,完成需要的測(cè)試。從接收器PCB 的EEPROM 得到的數(shù)據(jù)之后通過(guò)光電編碼器進(jìn)行讀取。我們完成了多個(gè)測(cè)試以便對(duì)啟動(dòng)時(shí)間、啟動(dòng)電壓、電機(jī)電路、風(fēng)扇電路、錯(cuò)誤代碼、射頻靈敏度、關(guān)閉時(shí)間等等進(jìn)行驗(yàn)證。

          接收器組件測(cè)試站
          測(cè)試站被設(shè)計(jì)用于完成兩個(gè)測(cè)試組成的測(cè)試序列。測(cè)試站的目的是對(duì)接收器組件進(jìn)行標(biāo)定以及完成操作檢查。使用信號(hào)發(fā)生器將射頻指令發(fā)送到接收器組件上,用來(lái)控制其操作。接收器組件閥電機(jī)通過(guò)從高壓到低壓漸變,用于標(biāo)定不同的壓力等級(jí)。之后,軟件通過(guò)驗(yàn)證接收器組件是否能夠達(dá)到每個(gè)標(biāo)定位置的正確壓力等級(jí),完成操作檢查。

          發(fā)送器組件測(cè)試站
          測(cè)試站被設(shè)計(jì)用于完成10 項(xiàng)測(cè)試組成的測(cè)試序列。測(cè)試站的目的是驗(yàn)證發(fā)送器組件LCD 屏幕的操作和圖像質(zhì)量。LCD 屏幕上的圖像使用相機(jī)和IMAQ硬件進(jìn)行采集。利用位于鉗位固定裝置上的螺旋管按下適當(dāng)?shù)陌粹o,發(fā)送器組件可以在多種工廠測(cè)試模式下工作。有些測(cè)試用于驗(yàn)證7 段發(fā)光二極管特性(垂直分段、8’s 以及水平分段),并且檢查圖標(biāo)和模式。此外,還有測(cè)試通過(guò)查看LCD屏幕上的顯示,驗(yàn)證數(shù)據(jù)是否正確存儲(chǔ)在EEPROM 中。

          結(jié)論
          使用測(cè)試執(zhí)行軟件,能夠在給定較短的時(shí)間內(nèi),比其他任何方法使站具有更強(qiáng)的功能、更高的魯棒性和一致性。用心地進(jìn)行項(xiàng)目計(jì)劃和管理可以加快大型項(xiàng)目團(tuán)隊(duì)的開(kāi)發(fā)。系統(tǒng)進(jìn)行了重復(fù)性測(cè)試,能夠按照需要進(jìn)行工作。

          致謝
          VIE 感謝來(lái)自Honeywell Inc.的Robert Zak、Brent Chiang、Bruce Hill 對(duì)系統(tǒng)給出了眾多建議和貢獻(xiàn)。我們還要感謝V I Engineering的Stan Case 對(duì)測(cè)試執(zhí)行所作的諸多特性增強(qiáng)。

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