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          一種測(cè)量石英晶體靜電容的新方法

          作者: 時(shí)間:2009-03-06 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          1. 引言

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/195934.htm

          諧振器(以下簡(jiǎn)稱為)作為一種性能優(yōu)良的頻率基準(zhǔn)和時(shí)鐘源在電子領(lǐng)域有著廣泛應(yīng)用。的中間測(cè)試在石英晶體的生產(chǎn)中是處于微調(diào)和封裝之間的工序,要求對(duì)石英晶體的基本電參數(shù)進(jìn)行,以保證產(chǎn)品最終質(zhì)量。在石英晶體的中間測(cè)試中,需要串聯(lián)諧振頻率、串聯(lián)諧振電阻、負(fù)載諧振頻率、負(fù)載諧振電阻、、動(dòng)電容、頻率牽引靈敏度和DLD等參數(shù)。其中,C0主要由石英晶體兩端所鍍銀膜決定,表征了石英晶體的靜態(tài)特性,與石英晶體的串聯(lián)諧振頻率和負(fù)載諧振頻率等應(yīng)用指標(biāo)密切相關(guān)。根據(jù)和其它參數(shù)的關(guān)系,還可以計(jì)算出負(fù)載諧振電阻、動(dòng)電容、頻率牽引靈敏度和DLD等參數(shù)的值,這在實(shí)際中是經(jīng)常采用的。靜電容的測(cè)量是石英晶體中間測(cè)試的重要內(nèi)容。目前,IEC(國(guó)際電工委員會(huì))所推薦的石英晶體測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)是π網(wǎng)絡(luò)零相位法。在該中,未規(guī)定測(cè)量靜電容的標(biāo)準(zhǔn)方法。若采用諧振法、交流電橋法等常用方法來測(cè)量靜電容,會(huì)增加整個(gè)測(cè)量系統(tǒng)的復(fù)雜性,并且對(duì)諧振頻率的測(cè)量產(chǎn)生不利影響。本課題提出了一種基于π網(wǎng)絡(luò)零相位法的測(cè)量石英晶體靜電容的新方法,并據(jù)此設(shè)計(jì)制作了實(shí)驗(yàn)測(cè)量系統(tǒng)。

          2.測(cè)量原理與電路

          2.1石英晶體的等效電參數(shù)模型

          石英晶體的等效電參數(shù)模型如圖1所示:

          其中,C0是石英晶體兩電極間的電容,稱為石英晶體的靜電容,C1稱為石英晶體的動(dòng)電容,L1稱為石英晶體的動(dòng)電感,R1表示石英晶體在振動(dòng)時(shí)的損耗,稱為串聯(lián)諧振電阻。當(dāng)激勵(lì)信號(hào)的頻率等于石英晶體的諧振頻率時(shí),其等效電參數(shù)模型為純電阻。由于C1、L1的值非常小,當(dāng)激勵(lì)信號(hào)的頻率遠(yuǎn)離石英晶體的諧振頻率時(shí),R1、C1、L1的影響可以忽略不計(jì),此時(shí),石英晶體等效成一個(gè)值為C0的電容。

          2.2 π網(wǎng)絡(luò)法原理

          IEC所推薦的π網(wǎng)絡(luò)如圖2所示:

          網(wǎng)絡(luò)的阻抗與測(cè)試儀表的阻抗相匹配,并衰減來自測(cè)試儀器的反射信號(hào)。M為待測(cè)石英晶體。Va是輸入激勵(lì)信號(hào),Vb是π網(wǎng)絡(luò)輸出信號(hào),它們都是矢量電壓信號(hào)。當(dāng)石英晶體處于諧振狀態(tài)時(shí),其表現(xiàn)為純電阻特性,此時(shí)Va與Vb之間相位差為零,Va的頻率即為石英晶體的串聯(lián)諧振頻率。所以,通過改變Va的頻率并檢測(cè)Va與Vb之間相位差可以找到石英晶體的諧振頻率。對(duì)于π網(wǎng)絡(luò)中石英晶體的靜電容如何測(cè)量,IEC并未推薦標(biāo)準(zhǔn)方法。π網(wǎng)絡(luò)由對(duì)稱的雙π型電阻回路組成,R1、R2和R3構(gòu)成輸入衰減器,R4、R5和R6構(gòu)成輸出衰減器,它們的作用是使

          2.3 常用測(cè)電容的方法

          常用的測(cè)量電容方法主要有諧振法、交流電橋法和充放電法。諧振法是將電容引入振蕩電路中,使得振蕩頻率成為電容的函數(shù),通過測(cè)量該頻率值來計(jì)算電容值。交流電橋法將電容接入交流電橋中,調(diào)整電橋中的可調(diào)電阻和可調(diào)電容使得電橋平衡,根據(jù)平衡時(shí)電橋各臂的電阻和電容值計(jì)算被測(cè)電容值。充放電法使用交流信號(hào)源對(duì)電容充電,然后將電容接入放電電路中,通過測(cè)量電容的放電時(shí)間來計(jì)算電容值。由于π網(wǎng)絡(luò)法是通過測(cè)量π網(wǎng)絡(luò)兩端的矢量電壓來得到石英晶體電參數(shù)值,與上述三種方法并不一致,所以如果采用這三種方法測(cè)量石英晶體的靜電容都需要增加額外的測(cè)量電路,并且會(huì)因此增加π網(wǎng)絡(luò)電路的雜散項(xiàng),對(duì)測(cè)量石英晶體的諧振頻率產(chǎn)生不利影響。

          2.4 基于π網(wǎng)絡(luò)的靜電容測(cè)量方法

          利用DDS(直接數(shù)字頻率合成)信號(hào)源作為激勵(lì)源,其輸出交流信號(hào)頻率遠(yuǎn)離石英晶體諧振頻率,該信號(hào)激勵(lì)接有被測(cè)石英晶體的π網(wǎng)絡(luò)。此時(shí),石英晶體等效于一個(gè)值為C0的電容。π網(wǎng)絡(luò)的輸出電壓與該電容存在一定的函數(shù)關(guān)系,由于輸入電壓和π網(wǎng)絡(luò)的參數(shù)已知,測(cè)量輸出電壓并根據(jù)這一函數(shù)關(guān)系,可以計(jì)算出C0值。這種方法與測(cè)石英晶體諧振頻率的方法很相似,都需要利用DDS輸出信號(hào)作為激勵(lì)信號(hào)并檢測(cè)π網(wǎng)絡(luò)輸出的矢量電壓。兩者區(qū)別在于測(cè)量諧振頻率要求檢測(cè)輸入電壓和輸出電壓之間相位差,而測(cè)量靜電容則要求測(cè)量輸入電壓和輸出電壓的幅值。因此,對(duì)這兩個(gè)矢量電壓信號(hào)采用幅相檢測(cè)的辦法可以使測(cè)量石英晶體的諧振頻率和靜電容統(tǒng)一起來。

          原理框圖如圖3所示:

          其中,DDS輸出兩路幅值、頻率和相位均相同的信號(hào)。一路激勵(lì)π網(wǎng)絡(luò),另一路輸入幅相檢測(cè)模塊。本課題要求石英晶體諧振頻率的測(cè)量范圍為0~200MHz。在這一范圍內(nèi)選取30MHz和68MHz兩個(gè)頻率點(diǎn)作為激勵(lì)信號(hào)的設(shè)定頻率。具體方法是,當(dāng)石英晶體的諧振頻率在30MHz附近時(shí),設(shè)定DDS輸出信號(hào)頻率為68MHz,反之,則設(shè)為30MHz。激勵(lì)信號(hào)經(jīng)過π網(wǎng)絡(luò)后輸出電壓如式


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