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          LED加速壽命和可靠性試驗

          作者: 時間:2012-05-09 來源:網絡 收藏

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          在我國863計劃課題的支持下,杭州遠方光電通過自主創(chuàng)新,開發(fā)了即加速老化和光色測試于一體的測試系統(tǒng),如圖1所示為系統(tǒng)照片。系統(tǒng)具備90個功位,可分三溫區(qū)同時老化測試90個被測(30個×3),其結構主要特點是在恒溫箱中設置光信號取樣裝置,并與光色測量設備相連,被測的光色參數(shù)可在箱內直接而不需要取出測量,可全自動實現(xiàn)老化測試以及數(shù)據(jù)分析。使得原本漫長而繁復的老化、試驗和溫度試驗變得十分的簡單與輕松,數(shù)據(jù)更為精確可靠。設備含有多項遠方公司獨有的專利技術,整個設備設計整體性好,美觀大方,無論是使用者還是評估者,無論是內在還是外觀,都會讓人信服。

          利用上述測量裝置,還可在不同的環(huán)境溫度下(高溫狀態(tài)),測量被測LED的光色度,獲得LED光度-環(huán)境溫度曲線(溫度特性試驗)。圖2為典型的LED 相對光通量隨環(huán)境溫度的變化曲線,滿足IES LM-82-11[2]以及關于CFL[3]的國內外標準的要求。

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          5. 小結

          影響LED產品和可靠性的因素有很多,相關的測試也較為復雜,其中最重要的是光通維持率測試,雖然已出臺的國際標準要求不盡相同,但基本的試驗方法和裝置要求基本相同。在國家863課題的支持下,我國已自主開發(fā)了具有高智能化的加速老化和測試系統(tǒng),使我國工業(yè)界能夠進行操作簡便、高精度、低成本的光通維持壽命檢測,同時該系統(tǒng)還可測試光色參數(shù)隨環(huán)境溫度變化的曲線,滿足最新國際標準要求即發(fā)展趨勢。此外,我國在LED的熱電光綜合分析系統(tǒng)和電磁兼容測試等方面也取得了諸多突破,建立了LED可靠性預測機制及BP(Back Propagation)神經網絡模型[4],為更全面地考察LED的壽命和可靠性提供了技術支持和裝備保障。


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          關鍵詞: LED 壽命 可靠性試驗

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