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          LED熱特性和壽命的檢測(cè)技術(shù)

          作者: 時(shí)間:2012-04-19 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          1 概述

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/200473.htm

          近年來,照明技術(shù)快速發(fā)展,在的光效、色溫、顯色性等光色指標(biāo)備受關(guān)注的同時(shí),的熱學(xué)特性和也越來越受到人們的重視,特別是熱學(xué)特性,對(duì)LED光色電的性能和有著顯著的影響。然而,對(duì)熱學(xué)特性和的檢測(cè)具有挑戰(zhàn)性。

          LED的熱學(xué)特性主要包括LED結(jié)溫、熱阻、瞬態(tài)變化曲線(加熱曲線、冷卻曲線)等。結(jié)溫是指LED的PN結(jié)溫度,熱阻是指LED散熱通道上的溫度差與該通道上的耗散功率之比,用于表征LED的散熱能力,研究表明,LED的熱阻越低其散熱性能越好,相應(yīng)的LED光效一般也越高,壽命越長。檢測(cè)熱學(xué)特性的關(guān)鍵在于對(duì)LED結(jié)溫的準(zhǔn)確測(cè)量,現(xiàn)有的對(duì)LED結(jié)溫的測(cè)試一般有兩種方法:一種是采用紅外測(cè)溫法測(cè)得LED芯片表面的溫度并視其為LED的結(jié)溫,但是準(zhǔn)確度不夠;另一種是通過溫度敏感參數(shù)(temperature-sensitive parameter,簡(jiǎn)寫為TSP)獲取PN結(jié)溫,這是目前較普遍的LED結(jié)溫測(cè)試方法,其技術(shù)難點(diǎn)在于對(duì)測(cè)試設(shè)備要求較高。

          LED的壽命主要表現(xiàn)為它的光衰,通常把LED光輸出衰減到初始光輸出的70%或50%作為判斷壽命失效的指標(biāo),即光通量維持壽命。但由于LED是高可靠性器件,壽命一般都會(huì)超過幾千小時(shí)甚至是一萬多小時(shí),直接測(cè)量等待光衰到指定值的做法在工業(yè)上的應(yīng)用十分困難。

          2 LED熱學(xué)特性測(cè)試

          2.1 LED結(jié)溫和熱阻的測(cè)量

          美國EIA/JESD51 《Methodology for the Thermal Measurement of Component Packages 》系列標(biāo)準(zhǔn)和國家標(biāo)準(zhǔn)SJ20788-2000 《半導(dǎo)體二極管熱阻抗測(cè)試方法》、GB/T4023-1997《半導(dǎo)體器件分立器件和集成電流 第2部分:整流二極管》、QB/T 4057-2010《普通照明用發(fā)光二極管 性能要求》等國際國內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)都較為詳細(xì)地介紹了通過溫度敏感參數(shù)TSP測(cè)量結(jié)溫和熱阻的方法。對(duì)于LED,TSP為PN結(jié)兩端的正向電壓。在確定電流下,LED的正向偏壓與結(jié)溫之間近似成反比關(guān)系,由此可得到結(jié)溫的變化為:

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          1)首先對(duì)LED正向施加測(cè)試電流IM,測(cè)量正向結(jié)電壓VFI;

          2)用加熱電流IH取代IM加到待測(cè)LED兩端,加熱一定時(shí)間(tH)待LED達(dá)到穩(wěn)定狀態(tài),測(cè)量所測(cè)LED散熱通道上的熱耗散功率(PH);

          3) 再用IM迅速取代IH加到待測(cè)LED兩端,并測(cè)得正向結(jié)壓降(VFF);

          4) 計(jì)算LED的結(jié)溫和熱阻:

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          獲取加熱曲線的技術(shù)難點(diǎn)在于測(cè)試電流與加熱電流切換時(shí)間必須要足夠短,并且瞬態(tài)數(shù)據(jù)的采集必須非常迅速。切換時(shí)間和數(shù)據(jù)采集時(shí)間一般要達(dá)到幾到十幾微秒,否則不能反映出LED結(jié)溫的實(shí)際變化過程,導(dǎo)致最終測(cè)試出的熱阻被大幅低估。

          2.2 LED光色參數(shù)隨溫度變化曲線的測(cè)量

          封裝LED的光色參數(shù)一般是在PN結(jié)為25±1℃的條件下給出的,而在實(shí)際工作中,結(jié)溫通常高于25℃,其光色性能會(huì)發(fā)生較大變化,這也給封裝LED的應(yīng)用帶來困擾。因此,有必要監(jiān)測(cè)LED的光色參數(shù)隨結(jié)溫變化的情況,如圖3所示。光色參數(shù)隨PN結(jié)溫度變化曲線的測(cè)量與K系數(shù)的測(cè)量方法類似。

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          而考察環(huán)境溫度(參考點(diǎn)溫度)對(duì)LED的光色參數(shù)的影響則更為直觀,對(duì)LED的應(yīng)用更具指導(dǎo)意義。該測(cè)量可在下述的加速老練和壽命試驗(yàn)箱中進(jìn)行。

          3 LED壽命測(cè)試

          3.1 LED的加速老練和壽命測(cè)試

          與傳統(tǒng)照明產(chǎn)品不同,LED產(chǎn)品的壽命終了主要表現(xiàn)為光衰到一定程度,如衰減到50%或70%流明維持率,即L50或L70。現(xiàn)有的國際標(biāo)準(zhǔn)或國家標(biāo)準(zhǔn)中除了對(duì)壽命時(shí)間提出要求外,一般還要求燃點(diǎn)3000h時(shí)光通維持率應(yīng)不低于92%,在燃點(diǎn)6000h時(shí)其光通維持率應(yīng)不低于88%;也有標(biāo)準(zhǔn)根據(jù)6000h時(shí)的光通維持率對(duì)LED進(jìn)行等級(jí)分類。美國標(biāo)準(zhǔn)LM-80-08主要針對(duì)封裝LED及LED模塊的光通維持壽命測(cè)量,它提出了在三個(gè)外殼溫度下測(cè)量LED的光通維持率,分別為:85?C ,55?C 和制造商選擇的溫度,在高溫下老練LED,主要是為了模擬被測(cè)LED的實(shí)際工作環(huán)境。老練測(cè)試時(shí)間為6000小時(shí),可根據(jù)測(cè)試的數(shù)據(jù)進(jìn)行外推計(jì)算獲取LED的壽命時(shí)間。如圖4所示為壽命推算曲線:

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          LED的壽命很長,額定條件下的老練壽命測(cè)試極為耗時(shí)。除了上述的根據(jù)初期光通維持率變化外推出L50或L70壽命時(shí)間的外推法之外,還可以使用加速老練壽命試驗(yàn)的解決方案,即在不改變LED失效機(jī)理的前提下,加大應(yīng)力條件來加快LED的衰減速度,從而減少壽命試驗(yàn)的時(shí)間[2-3]。目前加速壽命試驗(yàn)可分為增大測(cè)試電流和提高環(huán)境溫度兩種加速方法,以電流加速試驗(yàn)為主。加速老練獲取的壽命值可根據(jù)阿侖尼斯(Arrhenius)模型計(jì)算出額定條件下LED的期望壽命。

          4 檢測(cè)設(shè)備概述

          4.1 檢測(cè)設(shè)備和熱光電綜合測(cè)試系統(tǒng)

          根據(jù)上述2.1節(jié)所討論的檢測(cè)方法,其技術(shù)難點(diǎn)在于對(duì)測(cè)試設(shè)備性能要求很高:電流切換和采樣速率必須足夠快、電壓測(cè)量精度要高且LED的外部溫度必須能穩(wěn)定控制。國際上匈牙利的T3Ster LED熱阻測(cè)試系統(tǒng)和美國的Phase11熱阻分析儀能基本滿足要求,但這兩款儀器的價(jià)格昂貴,給工業(yè)檢測(cè)帶來經(jīng)濟(jì)障礙。中國遠(yuǎn)方公司在對(duì)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的深入研究基礎(chǔ)上,根據(jù)LED的特點(diǎn),開發(fā)出滿足上述技術(shù)要求的檢測(cè)設(shè)備HEO-200熱電測(cè)試系統(tǒng),價(jià)格較國外設(shè)備大幅降低。

          HEO-200采用MOS(Metal Oxide Semiconductor)技術(shù)來實(shí)現(xiàn)電流的切換,切換時(shí)間小于10μs,能有效避免結(jié)溫冷卻帶來的試驗(yàn)誤差。在對(duì)瞬態(tài)數(shù)據(jù)的采集中,采用循環(huán)測(cè)試法,即在2.1節(jié)所述步驟2)中,通過在極短時(shí)間內(nèi)斷開加熱電流情況下快速采集數(shù)據(jù)以得到瞬態(tài)變化數(shù)據(jù),并配以1MHz/s的采樣速度,采集瞬態(tài)數(shù)據(jù)的精度高達(dá)1μs,保證了分析結(jié)果的準(zhǔn)確性。

          系統(tǒng)實(shí)物如圖5所示,包括測(cè)試主機(jī)、靜態(tài)空氣試驗(yàn)箱以及專業(yè)測(cè)量分析軟件等,在系統(tǒng)工作中,為保證測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性,系統(tǒng)采用內(nèi)置的恒流源給LED提供電壓,確保LED發(fā)光穩(wěn)定。該套系統(tǒng)可以實(shí)現(xiàn)結(jié)溫、熱阻(瞬態(tài)熱阻、穩(wěn)態(tài)熱阻)、加熱曲線和冷卻曲線的準(zhǔn)確測(cè)量。

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          為實(shí)現(xiàn)LED的光色參數(shù)隨結(jié)溫變化曲線的測(cè)量以及不計(jì)發(fā)光功率的熱阻測(cè)量,在上述系統(tǒng)基礎(chǔ)上,配置具有同步觸發(fā)功能的高精度快速光譜儀和積分球來實(shí)現(xiàn)光色參數(shù)的測(cè)量。

          4.2 加速老練和壽命檢測(cè)系統(tǒng)

          對(duì)于加速老練和壽命的測(cè)試,無論采用何種壽命推算模型或何種壽命等級(jí)劃分方式,其硬件測(cè)量裝置基本相同,一般主要包括恒溫試驗(yàn)箱、老練測(cè)試主機(jī)、多路溫度巡檢儀、光度計(jì)以及專業(yè)測(cè)控軟件。在測(cè)試過程中,恒溫試驗(yàn)箱能控制LED的環(huán)境溫度到達(dá)指定溫度值,老練測(cè)試主機(jī)用于給被測(cè)LED供電及完成各LED電參數(shù)的測(cè)量,多路溫度巡檢儀用于測(cè)量每顆LED的溫度,光度計(jì)用于測(cè)量LED的光度參數(shù),上述三者將測(cè)試的結(jié)果反饋到系統(tǒng)軟件,軟件分析推算得到被測(cè)LED的壽命。其實(shí)物裝置如圖6所示。

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          根據(jù)上述測(cè)量裝置,在不同的恒溫箱的條件下,測(cè)量出被測(cè)LED的光度,就可以得到LED光度-環(huán)境溫度--時(shí)間變化曲線(溫度特性試驗(yàn)),如配置光譜儀設(shè)備,就可以得到被試LED色度-環(huán)境溫度-時(shí)間變化曲線(溫度特性試驗(yàn))。圖8為典型的LED 相對(duì)光通量隨環(huán)境溫度的變化曲線。

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          5. 小結(jié)

          由于直接測(cè)量存在困難,對(duì)LED的熱學(xué)特性和壽命的評(píng)價(jià)具有挑戰(zhàn)。然而這兩大性能的精確檢測(cè)確是評(píng)價(jià)當(dāng)前LED水平的重要依據(jù)。我國已經(jīng)對(duì)這兩大重要性能的測(cè)試做了較為深入的研究,并自主開發(fā)了相關(guān)測(cè)試設(shè)備,能夠滿足目前國內(nèi)外各項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)的要求,使我國工業(yè)界能夠進(jìn)行高精度、低成本的和壽命性能檢測(cè)。



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