Zeno開發(fā)特殊SRAM 可提升MOS結(jié)構(gòu)效能
Zeno Semiconductor日前開發(fā)出將最小靜態(tài)隨機(jī)存取存儲器(SRAM)納入單一MOS電晶體技術(shù),不僅其采用記憶單元(bit-cell)數(shù)量變多,存取時(shí)間也可大幅縮短4成。
本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/201601/285239.htm據(jù)EE Times網(wǎng)站報(bào)導(dǎo),Zeno在國際電子零組件會議(International Electron Devices Meeting)上展示這項(xiàng)新技術(shù)。Zeno執(zhí)行董事長Zvi Or-Bach表示,該技術(shù)之所以讓N型MOS電晶體做為穩(wěn)定SRAM,主要是透過采用2個(gè)本質(zhì)雙極N-P-N型電晶體所賜。
該技術(shù)看似為3個(gè)電晶體記憶單元,但由于是采用本質(zhì)元件,具備開放閘極與共集電極的雙極N-P-N型電晶體可被視為虛擬電晶體。換句話說,并未占據(jù)多余芯片空間,為一善用單一MOS電晶體架構(gòu)的范例。
另外,其記憶單元大小也只有0.025平方微米,比一般0.127微米還小。
Zeno 28奈米SRAM記憶單元大小也比三星電子(Samsung Electronics)10奈米FinFET SRAM記憶單元小37%,不管采用3D FinFET或全空乏絕緣上覆矽(FD-SOI)平面晶圓,即使在先進(jìn)制程仍可維持其大小水準(zhǔn)。
Zeno也希望透過2款電晶體滿足利基市場需求,包括擁有5倍記憶單元的單一電晶體以及增加1個(gè)存取電晶體成為雙電晶體記憶單元,來降低漏電流與存取時(shí)間達(dá)4成的電晶體,同時(shí)其記憶單元仍多出3倍。
該公司執(zhí)行長Yuniarto Widjaja指出,單電晶體Bi-SRAM主要鎖定對價(jià)格敏感及強(qiáng)調(diào)低功耗的市場,例如物聯(lián)網(wǎng)(IoT),后者雙電晶體則瞄準(zhǔn)網(wǎng)路或高效能運(yùn)算(HPC)等市場。其大小技術(shù)優(yōu)勢可在FinFET或FD-SOI等先進(jìn)制程或較早制程上得以發(fā)揮,Zeno也針對邏輯與存儲器芯片推出架構(gòu)。
評論指出,一旦Zeno透過雙功能數(shù)位電晶體將其他元件縮小尺寸,將等于可避免繼續(xù)透過采取更先進(jìn)制程微縮必要性。有別于一般公司采取持續(xù)微縮芯片做法以便容納更多電晶體,Zeno則是開發(fā)更少與更小電晶體技術(shù)來達(dá)到同樣效果。
Zeno技術(shù)優(yōu)勢并非只有采用本質(zhì)雙極電晶體,同時(shí)也省略會占用芯片面積的電容器等元件。換句話說,雖采用標(biāo)準(zhǔn)CMOS制程,但可達(dá)到元件小5倍以及存取時(shí)間更快40%的結(jié)果。
Zeno架構(gòu)與制程目前擁有50件以上專利,該公司則透過授權(quán)IP方式向其他公司開放,不過并未透露其客戶名單。
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