電子元器件周期檢驗技術

　　周期檢驗是在規(guī)定的周期內(nèi)，從逐批檢驗合格的某個批或若干批中抽取樣本，并施加各種應力的各項試驗，然后檢測產(chǎn)品判斷其是否符合規(guī)定要求的一種檢驗。其主要內(nèi)容包括：

　　周期規(guī)定、檢驗分組和樣品;檢驗項目和程序;周期檢驗缺陷分類和失效判據(jù);周期檢驗結果判定和處置。

　　1.周期規(guī)定、檢驗分組和樣品

　　(1)檢驗周期規(guī)定：根據(jù)產(chǎn)品的特性及生產(chǎn)過程質量穩(wěn)定的情況，再綜合考慮其他的因素，適當?shù)匾?guī)定檢驗周期。產(chǎn)品標準中一般都給出了該產(chǎn)品在正常穩(wěn)定生產(chǎn)情況下進行周期檢驗的時間間隔(如三個月，六個月，一年等)，但對不同的檢驗組，規(guī)定不同的檢驗周期。

　　(2)檢驗分組與樣品：電子元器件周期檢

　　驗分為C組和D組，C組為環(huán)境試驗，D組為耐久性壽命試驗。周期檢驗的樣品，應根據(jù)產(chǎn)品標準中規(guī)定的抽樣方案和檢查水平及規(guī)定的樣品數(shù)，從本周期內(nèi)經(jīng)逐批檢驗合格的一個批或幾個批中隨機抽取，加倍或二次試驗的樣品在抽樣時一次取足。

　　2.檢驗項目

　　(1)常溫性能檢查：試驗前在正常工作的條件下，對被試樣品進行定性和定量檢查，判斷產(chǎn)品質量是否全面符合產(chǎn)品技術標準和國家標準要求，或符合訂貨合同的規(guī)定。由于電子產(chǎn)品種類多，用途廣，表征產(chǎn)品特性的技術參數(shù)很多，常溫性能檢測時，應嚴格按照技術標準規(guī)定，進行全部指標或部分指標檢測，檢測合格的產(chǎn)品方可進行周期檢驗項目中的其他項目的試驗。

　　(2)環(huán)境試驗：為了評價在規(guī)定周期生產(chǎn)批的產(chǎn)品的環(huán)境適應能力，將經(jīng)過性能檢測合格的產(chǎn)品，在人工模擬的環(huán)境條件下試驗，以此評價產(chǎn)品在實際使用、運輸和貯存環(huán)境條件下的性能是否滿足產(chǎn)品定型鑒定檢驗時達到的環(huán)境適應能力。

　　環(huán)境試驗包括高溫負荷貯存試驗、低溫負荷貯存試驗、高低溫變化試驗、交變濕熱和恒定濕熱試驗、低氣壓試驗、振動試驗、沖擊碰撞、跌落、加速度試驗、鹽霧試驗等。由于電子產(chǎn)品使用環(huán)境不一樣，在周期環(huán)境試驗中，規(guī)定的環(huán)境試驗項目可能是單項試驗，也可能是組合或綜合試驗。

　　3.周期檢驗結果判定和處置

　　(1)在一個周期試驗組中發(fā)現(xiàn)一個致命缺陷，則判該試驗組不合格。(2)若在試驗樣品中發(fā)現(xiàn)的不合格品數(shù)小于或等于合格判定數(shù)，則判該試驗組合格。若試驗中的不合格判定數(shù)大于或等于不合格判定數(shù)，則判該試驗組不合格。(3)本周期內(nèi)，所有試驗分組都合格，則本周期檢驗合格。否則就判該周期檢驗不合格。(4)周期檢驗不合格，該產(chǎn)品暫停逐批檢驗。已生產(chǎn)的產(chǎn)品和已交付的產(chǎn)品由供需雙方協(xié)商解決，并將處理經(jīng)過記錄在案。(5)周期檢驗不合格，供方應立即查明原因，采取措施。需方在供方采取改進措施后，在重新提交的產(chǎn)品中抽樣，對不合格試驗項目或試驗分組重新試驗，直至試驗合格后，供方才能恢復正常生產(chǎn)和逐批試驗。

　　電子元器件質量一致性檢驗結果是通過逐批檢驗結果和周期檢驗結果是否合格來判定的。逐批與周期檢驗結果合格，可認為該元器件的鑒定批準得以維持。但如果檢驗不合格，即沒有通過質量一致性檢驗，或沒有正確地執(zhí)行標準規(guī)范要求和IECQ的程序規(guī)則時，則鑒定批準應予暫停或撤消。

　　總而言之，逐批檢驗的抽樣檢驗方式在電子元器件產(chǎn)品生產(chǎn)檢驗中廣泛采用，正確掌握和使用抽樣檢驗技術，對生產(chǎn)實際過程的產(chǎn)品質量控制有很直接明顯的作用。周期檢驗對產(chǎn)品的質量在模擬的環(huán)境條件下進行試驗檢查。產(chǎn)品標準規(guī)定了各種試驗項目和所采用的試驗方法及檢測技術，從而為產(chǎn)品質量一致性和穩(wěn)定性提供保證。通過由逐批檢驗和周期檢驗所構成的質量一致性檢驗，能客觀全面地反映產(chǎn)品在生產(chǎn)過程中和各種不同使用環(huán)境條件下的質量狀況，從而達到在生產(chǎn)過程中控制產(chǎn)品質量并在規(guī)定的周期內(nèi)，保證產(chǎn)品質量保持在鑒定批準時達到的質量水平。