電源測量小貼士(連載五): 測試功率階段開關(guān)特點

　　在這篇博文中，我們將介紹在無負載、標稱負載和全負載條件下測試開關(guān)特點的各個步驟。

　　在開始前，應確保所有開關(guān)的啟動、關(guān)閉、占空比和死區(qū)時間都符合預期，如MOSFETs和IGBTs。泰克示波器包括一種高分辨率模式，從根本上提高了垂直分辨率，因此可以使用最高精度計算啟動和關(guān)閉時間。

　　盡管電源的幾乎所有組件都會發(fā)生能量損耗，但絕大部分損耗發(fā)生在開關(guān)晶體管從關(guān)閉狀態(tài)轉(zhuǎn)換到打開狀態(tài)(或反之)的時候。使用所有開關(guān)周期的啟動損耗和關(guān)閉損耗的軌道圖(在DPOPWR軟件中提供)，可以更加全面地了解開關(guān)損耗，如下圖所示

　　開關(guān)/關(guān)閉軌道圖

　　這時，要檢查所有VGS信號的噪聲和碰撞。這是一個重要步驟，因為這個端子上任何非預計的毛刺都可能會導致不想要的啟動和擊穿。為保證不可能出現(xiàn)擊穿，應檢查同步整流器或H橋接器的死區(qū)時間。

　　然后，檢驗門驅(qū)動器和相關(guān)儀器之間的定時關(guān)系，確保其與設計的計算結(jié)果相符。

　　為安全地測量非參考地電平的信號，我們建議使用相應額定電壓的差分探頭。一定不要浮動示波器，因為其會導致不好的結(jié)果。您可以考慮TDP1000、TDP0500或P6251高壓差分探頭，具體視應用而定。每種探頭都實現(xiàn)了高速寬帶采集和測量功能，提供了杰出的電氣性能、通用被測器件連接，而且都使用方便。

　　毫無疑問，很難測量浮動門信號。我們建議在門驅(qū)動器輸入上探測信號，這樣您可以檢驗頂部FET與底部FET之間的死區(qū)時間。

　　在最低電壓轉(zhuǎn)換速率上測量電流也可以幫助您最大限度地減少串擾，改善精度。

　　如需了解開關(guān)損耗和傳導損耗測試要點，請參閱本系列博文中的第6篇博文。