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          基于LabVIEW的晶體振蕩器測試系統(tǒng)

          作者: 時間:2016-10-18 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          石英是一種用于穩(wěn)定頻率和選擇頻率的重要電子元件,也簡稱為“晶振”。由于石英具有體積小、重量輕、可靠性高、具有很高的頻率穩(wěn)定性和良好的溫度特性,因此被廣泛應(yīng)用于通信、廣播、導航、電子對抗及精密測量儀器中。目前,大多數(shù)測試人員對的測量還采用手工測試。無論在初測、老化測試還是終測中,測試人員需要先連接好測試電路,然后將晶體振蕩器放入夾具,打開穩(wěn)壓電源并不斷地調(diào)整示波器顯示的波形,在各項指標都滿足后開始從頻率計中讀取數(shù)據(jù)并手工記錄。有時為了得到穩(wěn)定精確的數(shù)據(jù),還要等待一段時間再讀數(shù),可見操作步驟十分繁瑣,并且容易造成人為誤差。為了簡化測試工作,提高工作效率及提高測試數(shù)據(jù)的可靠性,本文介紹的是一種在LabView虛擬儀器平臺上開發(fā)的晶體振蕩器測試系統(tǒng),該系統(tǒng)可以實現(xiàn)自動協(xié)調(diào)測量儀器,自動并處理,自動生成電子表格等功能,具有高度的靈活性、可靠性及可操作性。

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/201610/308813.htm

          1 系統(tǒng)總體概述

          該系統(tǒng)是在虛擬儀器平臺上開發(fā)的晶體振蕩器測試系統(tǒng),它可以測量晶體振蕩器的輸出頻率、高電平、低電平、上升時間和下降時間,可以觀測輸出波形并計算頻率精度。它還可以自動記錄數(shù)據(jù),具有友好的人機操作界面。

          系統(tǒng)將各個測試儀器連接在一起,通過PC端下達指令來操控各個部分協(xié)調(diào)工作,該系統(tǒng)的工作流程如圖1所示。

          基于LabView的晶體振蕩器測試系統(tǒng)

          2 設(shè)計方案

          該設(shè)計由兩部分組成,即硬件部分和軟件部分。硬件部分主要由具有程控功能的直流穩(wěn)壓電源、示波器、頻率計構(gòu)成,軟件部分則為在平臺上開發(fā)的控制程序及操作界面。下面將對各部分進行詳細說明。

          2.1 硬件工作原理

          該系統(tǒng)利用計算機通過GPIB標準串行接口連接Agilent6054A示波器、Agilent 3031A穩(wěn)壓電源和Pendulum CNT90頻率計,控制每個設(shè)備工作并從中讀取數(shù)據(jù)。系統(tǒng)硬件連接圖如圖2所示。

          基于LabView的晶體振蕩器測試系統(tǒng)

          晶體振蕩器則放在專用夾具上,這里以表面貼裝晶體振蕩器為例,夾具引腳圖如圖3所示,1號引腳為空引腳,作為參考點,2號引腳為接地引腳,3號引腳為輸出引腳,連接示波器和頻率計,4號引腳為供電引腳,接穩(wěn)壓電源。

          基于LabView的晶體振蕩器測試系統(tǒng)

          2.2 軟件設(shè)計

          本設(shè)計的軟件部分主要基于NI公司的平臺開發(fā)的,LabVIEW是通過圖形編譯(Craphics,G)語言來編寫程序的,程序類似流程圖,這為編程人員提供了一個直觀的編程環(huán)境。它可以充分發(fā)揮計算機的能力,具有強大的數(shù)據(jù)處理功能,用戶可以根據(jù)自己的需要來創(chuàng)造并模擬出各種儀器。

          在LabVIEW中,VISA稱為虛擬儀器軟件體系結(jié)構(gòu)(Virtual Instrument Software Architecture),作為LabVIEW程序中驅(qū)動程序間相互通信的底層功能模塊,可以連接不同標準的I/O設(shè)備,是一個用來在串口通信設(shè)備、VXI設(shè)備、GPIB設(shè)備以及其它基于計算機設(shè)備之間通信的函數(shù)庫。在本次設(shè)計中,所選用的三種型號的儀器在LabVIEW中的Instrume nt Drivers選項卡中都可以安裝已經(jīng)開發(fā)好的驅(qū)動模塊,這樣就簡化了驅(qū)動開發(fā)的過程。

          2.2.1 圖形功能界面設(shè)計

          利用LabVIEW的圖形操作界面設(shè)計功能,為該系統(tǒng)設(shè)計了一個友好的人機操作界面,如圖4所示。

          基于LabView的晶體振蕩器測試系統(tǒng)

          1)參數(shù)設(shè)置部分,其中包括:頻率精度判限、重測頻率精度判限、電源電壓、鉗位電流、標稱頻率。其中頻率精度判限用來判斷頻率精度是否超出范圍;電源電壓是設(shè)置晶體振蕩器的供電電壓;鉗位電流是限制最大電流的參數(shù);標稱頻率為晶體振蕩器的標準頻率。

          2)路徑設(shè)置,為數(shù)據(jù)存儲提供存儲位置。

          3)波形示意圖,可讀取示波器信號,供測試人員分析波形。

          4)輸出結(jié)果部分,該部分包括:測試頻率、最高電平、最低電平、上升時間和下降時間??蓴U展其他數(shù)據(jù)結(jié)果。

          5)控制部分,該部分包含兩個按鈕,“測試”和“重測”,還有一個超范圍指示燈,用來提醒是否超出范圍,由測試人員決定是否進行重測。

          6)數(shù)據(jù)記錄窗口。在該窗口中,會橫向顯示每個晶振的五種測試數(shù)據(jù),在第一列會為每次測量的晶振自動編號,重測不計入其中,方便測試人員核對數(shù)量。

          2.2.2 DC穩(wěn)壓電源控制模塊

          在該設(shè)計中,分別為DC穩(wěn)壓電源、示波器、頻率計設(shè)計了3個控制模塊的子VI,用來單獨調(diào)用。其中電源控制模塊的程序如圖5所示。電源模塊只需要輸入兩個參數(shù),分別是“電源輸出電壓”和“鉗位電流”。從程序中可以看到,安裝的驅(qū)動中已經(jīng)集成了驅(qū)動和設(shè)置的模塊,例如“HPE363Xa Initialize.vi”,“HPE363Xa close.vi”,“HPE363 1a getting started.vi”等,這些模塊可以在程序中直接調(diào)用,只需設(shè)置所需的參數(shù)即可。如果模塊中沒有預留所需功能的連線端,只需重新引出即可,極大地簡化了開發(fā)的過程,其他設(shè)備的編程也類似。

          基于LabView的晶體振蕩器測試系統(tǒng)

          2.2.3 示波器控制模塊

          示波器控制部分的程序如圖6所示。這里調(diào)用的模塊主要有:“ag6000a Initialize.vi”,用于初始化設(shè)備的各種參數(shù);“ag6000a Autosetup.vi”,用于將示波器設(shè)置為自動讀取模式;“ag6000a Read Single Waveform.vi”,用于讀取示波器采集到的波形;“ag6000a Read Waveform Measurement.vi”,用于讀取波形中所包含的數(shù)據(jù)。該部分主要功能是控制示波器輸出“最高電平”、“最低電平”、“上升時間”和“下降時間”4種參數(shù)并讀取示波器的波形。在這里也設(shè)置了超時參數(shù),如果5秒內(nèi)沒有控制信號傳輸進來,程序?qū)⒂捎诔瑫r自動終止。

          基于LabView的晶體振蕩器測試系統(tǒng)

          2.2.4 頻率計控制模塊

          頻率計控制部分的程序設(shè)置如圖7所示。圖中用到的模塊的功能與上一部分類似,其中“pecnt90 Configure Measurement.vi”,模塊可以設(shè)置儀器測量時的各種參數(shù),在測試類型一項應(yīng)該選擇“頻率(Frequency)”,該模塊也可修改采樣時間等參數(shù)。該部分的主要功能是控制頻率計采集晶體振蕩器的頻率并將其輸出。同樣地,這里也設(shè)置了5秒超時功能。

          基于LabView的晶體振蕩器測試系統(tǒng)

          由于系統(tǒng)在為晶體振蕩器加電時,電壓瞬間達到設(shè)定值,為了避免瞬間電壓不穩(wěn)定對測試結(jié)果造成影響,特別在這里添加了延時1秒讀數(shù)的設(shè)計,使系統(tǒng)在晶體振蕩器穩(wěn)定工作后,才開始讀數(shù)。延時部分程序如圖8所示。

          基于LabView的晶體振蕩器測試系統(tǒng)

          3 實際測試與數(shù)據(jù)分析

          為了驗證系統(tǒng)測試的可靠性,進行了大量的實際測試。通過實際測試,對系統(tǒng)做出了諸多改進。該系統(tǒng)具有如下優(yōu)點:

          1)速度快

          在實際測試中,我們對比了手動測試和系統(tǒng)自動測試所花費的時間。正常情況下,手動測試1個晶體振蕩器平均需要1分鐘,在進行批量測試時,必然會耗費大量時間和精力。而使用該系統(tǒng)進行測試,平均測試一個晶體振蕩器的時間為5秒,節(jié)省了90%的時間,這是因為自動測試節(jié)省了人工觀察、記錄示波器數(shù)據(jù)和等待頻率計讀數(shù)穩(wěn)定的時間,也節(jié)省了計算數(shù)據(jù)的時間。

          2)精度高

          人工測試時,由于測試頻率一直在細微地變化,導致測試人員在記錄數(shù)據(jù)時晶體振蕩器的各項數(shù)據(jù)已經(jīng)發(fā)生變化,這就使得各項測試結(jié)果不匹配,導致計算時產(chǎn)生誤差。而該系統(tǒng)由于使用計算機控制,各個設(shè)備協(xié)調(diào)工作,處理速度非??欤x數(shù)準確,不會出現(xiàn)上述情況,這就大大提升了測試的精度。此外該系統(tǒng)計算的數(shù)據(jù)精確度非常高,讀數(shù)精確到小數(shù)點后六位,實際測試中,例如計算頻率精度,計算公式為:

          基于LabView的晶體振蕩器測試系統(tǒng)

          計算結(jié)果的單位為ppm,由公式可知:該計算結(jié)果精確到百萬分之一。在手工測試的條件下,例如一種精度要求在1 ppm以內(nèi)的晶體振蕩器,通常計算結(jié)果為20 ppm以上,計算準確性非常低,而該系統(tǒng)計算結(jié)果全部在要求范圍內(nèi)。測試結(jié)果如表1所示。

          基于LabView的晶體振蕩器測試系統(tǒng)

          3)可靠性強

          為了檢驗可靠性,我們特別對同一批晶體振蕩器進行了10次測試,每次測試間隔10分鐘以上,實驗結(jié)果表明,每次試驗結(jié)果的偏差都不超過0.00001%。此外,使用該系統(tǒng)連續(xù)測試200個已檢驗合格的晶體振蕩器,并保持系統(tǒng)持續(xù)工作5小時,沒有發(fā)現(xiàn)任何異常,可見該系統(tǒng)的可靠性非常強。

          4 結(jié)束語

          晶體振蕩器的測試技術(shù)在電子工業(yè)領(lǐng)域是非常實用的。傳統(tǒng)的手工測試、人工記錄已經(jīng)滿足不了更高的生產(chǎn)效率。該系統(tǒng)可以很好地解決這一問題,并具備高精度、高速度等特點,可以滿足正常的測量需求,達到了的目的。該系統(tǒng)也具備一定的擴展性,例如可以連接多個測試通道,讓系統(tǒng)自動切換通道進行測試等。本文對其他系統(tǒng)的開發(fā)也具有一定參考價值。



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