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          泛華測控參加第六屆國際測試自動化與儀器儀表學(xué)術(shù)會議

          作者: 時間:2016-10-10 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

            9月19日~21日,由中國儀器儀表學(xué)會和北京信息科技大學(xué)主辦的“2016第六屆國際測試與儀器儀表學(xué)術(shù)會議”在北京召開,泛華受邀攜便攜式測試平臺(TU-9106)及助力于智慧研究所的測試數(shù)據(jù)管理平臺(Data On Demand)參加活動,并做題為《打造智慧研究所的關(guān)鍵技術(shù)》的演講。

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/201610/311115.htm



          關(guān)鍵詞: 泛華測控 自動化

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