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          羅德與施瓦茨應(yīng)邀參加2016 APAC IIA 會議,展示其先進(jìn)的PCB 測試解決方案

          作者: 時(shí)間:2016-10-11 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

            2016年9月21日,INTEL 公司在深圳舉辦了2016 APAC IIA研討會,羅德與施瓦茨公司(R&S公司)應(yīng)邀參加本次會議,并展示了其基于Delta-L+的 測試解決方案。本次APAC IIA (APAC Interconnect Industry Association )會議針對印刷電路板的電氣特性方法與驗(yàn)證(如傳輸線損耗)展開探討,參會者主要來自于 廠商、材料廠商、儀器廠商和終端使用者。

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/201610/311178.htm

            INTEL依據(jù)產(chǎn)業(yè)的需要,加速開發(fā)系統(tǒng)化的實(shí)現(xiàn)流程,來滿足PCB設(shè)計(jì)和不同階段驗(yàn)證的需求,以供業(yè)界使用參考。本次會議INTEL介紹了Delta-L+等技術(shù)方法的最近進(jìn)展情況,來幫助PCB廠商、材料廠商和儀器廠商更好的理解INTEL的印刷電路板電學(xué)需求和電氣特性驗(yàn)證方法的路線圖,具備進(jìn)行傳輸線特性測量和分析的能力,這對于PCB精確的測試和建模是至關(guān)重要的。

            根據(jù)INTEL的PCB 測試方法和規(guī)范,R&S公司聯(lián)合Packetmicro公司和MST公司,共同開發(fā)了一整套PCB特性測試的解決方案,本方案基于R&S公司的ZNB 矢量網(wǎng)路分析儀,內(nèi)嵌MST的EMStar測試分析軟件,再結(jié)合PacketMicro公司的高性能高可靠的探針,最后使用Delta-L+算法,可精確測試PCB的傳輸線損耗和相關(guān)參數(shù),該方案精確,快速,便捷,不僅滿足INTEL最新的PCB測試標(biāo)準(zhǔn),還滿足對通用PCB的電學(xué)特性測試。

            

           

            本次活動是R&S公司首次展示其領(lǐng)先的PCB 測試整體解決方案,該方案支持高達(dá)20GHz的高速PCB 探針測試以及更高頻的同軸測試,可以很好的服務(wù)于整個(gè)PCB行業(yè)的測試驗(yàn)證工作。該方案也得到了與會者的廣泛關(guān)注,與會者與R&S技術(shù)專家進(jìn)行了深入的交流和溝通,反應(yīng)熱烈。

            



          關(guān)鍵詞: R&S PCB

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