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          Kilopass推出VLT技術(shù),欲改變DRAM產(chǎn)業(yè)格局

          作者: 時間:2016-10-16 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

            半導(dǎo)體嵌入式非易失性存儲器(eNVM)知識產(chǎn)權(quán)(IP)產(chǎn)品提供商 Technology, Inc.近日推出垂直分層晶閘管(Vertical Layered Thyristor, )技術(shù)。該技術(shù)顯著降低了存儲芯片的成本且與DDR SDRAM完全兼容,使用標(biāo)準(zhǔn)CMOS工藝制造且無需昂貴的電容結(jié)構(gòu)。

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/201610/311396.htm

            由于當(dāng)前基于1個晶體管+1個電容器(1T1C)存儲單元結(jié)構(gòu)的DRAM解決方案不夠合理,電容器無法進(jìn)一步縮小,尺寸太大,在20nm工藝上,電容量太低,DRAM技術(shù)自2010年以來已放緩了前進(jìn)的步伐,預(yù)計在2017年之前,SoC將在7nm工藝上實(shí)現(xiàn),3D NAND將實(shí)現(xiàn)64/96層堆疊,而DRAM將停滯于10nm以上的工藝。 Technology首席執(zhí)行官Charlie Cheng介紹道。

            存儲器技術(shù)省去了傳統(tǒng)存儲單元中的電容器,采用垂直分層晶閘管結(jié)構(gòu)(如圖1),從而使存儲單元更緊湊,減小了存儲單元的尺寸,同時也省去了數(shù)據(jù)刷新。由公式(1)和公式(2)對比可見, 8Gb DRAM相較1T1C 8Gb DRAM減小了31%的存儲單元面積。

            圖1 VLT垂直分層晶閘管結(jié)構(gòu)及原理圖

            1T1C 8Gb DRAM的尺寸為:9.7mm×5.8mm=56.26mm2 (1)

            VLT 8Gb DRAM的尺寸為:8.4mm×4.6mm=38.64mm2 (2)

            VLT無需新的材料,與邏輯CMOS工藝兼容,存儲速度快(十幾ps),功耗低(低于0.1pA),“0”和“1”之間的信號區(qū)別高達(dá)108倍,同時已經(jīng)經(jīng)過芯片產(chǎn)品的驗(yàn)證。

            由于沒有帶漏電的、高功耗的電容結(jié)構(gòu),因而VLT技術(shù)省去了數(shù)據(jù)刷新并且在120℃高溫下仍可以改善功耗,這使得其較適用于工作溫度較高的服務(wù)器存儲器。1T1C和VLT的待機(jī)功耗和刷新周期影響下的凈帶寬利用率對比如圖2所示。

            圖2 1T1C和VLT的待機(jī)功耗和刷新周期影響下的凈帶寬利用率對比圖

            由于無需新的物理材料,其全部材料是在芯片工廠中已經(jīng)應(yīng)用過的,因而模擬軟件可以寫得很快,這一點(diǎn)與現(xiàn)在市場上的EDA軟件有所不同。這也使得其模擬器的速度提升高達(dá)1000倍,從而將提前15個月確定出產(chǎn)品的良率及其需要考慮的地方。Charlie Cheng先生稱。

            據(jù)Charlie Cheng先生介紹,VLT的成本很低、制造技術(shù)簡單,而且無需與電容相關(guān)的專利授權(quán)是VLT的優(yōu)勢。這項(xiàng)新技術(shù)將會首先進(jìn)入PC和服務(wù)器市場。同時,VLT將不會大量授權(quán),預(yù)計將只會授權(quán)幾家公司。

            VLT存儲單元在2015年已通過驗(yàn)證,目前一款新的完整存儲器測試芯片正處于早期測試階段。一直致力于推廣這項(xiàng)技術(shù),并正與DRAM制造商進(jìn)行許可協(xié)商?,F(xiàn)在已可以向數(shù)量有限的特許受讓人提供VLT DRAM技術(shù),用于20nm到31nm工藝技術(shù)節(jié)點(diǎn)。Kilopass已使用其TCAD模擬器,在半導(dǎo)體制造工藝細(xì)節(jié)上對這兩個節(jié)點(diǎn)進(jìn)行了詳盡的模擬,新一代10nm技術(shù)的驗(yàn)證有望在2017年完成。這也為中國廠商在DRAM市場的發(fā)展帶來新的機(jī)遇。



          關(guān)鍵詞: Kilopass VLT

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