<meter id="pryje"><nav id="pryje"><delect id="pryje"></delect></nav></meter>
          <label id="pryje"></label>

          新聞中心

          EEPW首頁 > 嵌入式系統(tǒng) > 業(yè)界動態(tài) > 內存測試與ISO 26262的關聯(lián)性

          內存測試與ISO 26262的關聯(lián)性

          作者: 時間:2016-10-28 來源:電子產品世界 收藏

            隨著 Google、Apple 等國際資通訊大廠跨入車用電子產業(yè),電子化產品應用車內比例逐漸攀升,根據(jù)工研院 IEK 分析,全球在 2019年可達 3,011 億美元,其中車用安全電子系統(tǒng)為 240.6 億美元,是新興電子市場中成長最為強勁的區(qū)塊,這對臺灣想進入車用電子產業(yè)的廠商創(chuàng)造了絕佳的機會。自從 ISO 26262 于 2011 年底發(fā)布后,已迅速成為全球各大車廠全力推動的車用電子安全性標準;此安全標準定義了 3.5 噸以下乘用車中有關電子系統(tǒng)的功能安全規(guī)范,并依據(jù)汽車安全整合等級(ASIL)區(qū)分成 A(最低)至 D(最高)不同等級,等級愈高的系統(tǒng)安全考慮愈嚴謹。國內業(yè)者可藉由通過全球共通的產品標準認證,切入國際車廠的供應鏈,彌補臺灣缺乏強大車輛工業(yè)的產業(yè)缺口。

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/201610/312002.htm

            「道路車輛的功能安全標準(Road Vehicle - Functional Safety)」,于 2011 年11 月 14 日正式發(fā)布第一版,內容自 IEC 61508 功能安全標準延伸,算是汽車領域的特別版。此安全標準定義了 3.5 噸以下乘用車中有關電子系統(tǒng)的功能安全規(guī)范,并依據(jù)安全性區(qū)分了 QM、ASIL A 至 ASIL D 各種安全等級,以 ASIL D 為最高安全等級,目前已廣泛被歐、美、日系車廠所接受,中國也規(guī)劃于 2016年納入國家標準。

            BIST (Built-In Self-Test) 是內嵌式測試的一種標準。過去幾年來,記憶體的 BIST 需求,隨著各種新興市場包括車用電子的需求日益增高?,F(xiàn)今的記憶體測試解決方案需要支持各種先進檢測與診斷方案和利用內嵌式修復技術 (BISR, Built-In Self-Repair) 來提高良率等。

            車用電子產業(yè)日益蓬勃發(fā)展,其電子產品可靠度的需求被定義在ISO 26262內。車用電子 IC 須具備更高的可靠度與質量才能進入對于產品安全性要求極高的車用電子的市場。針對車用電子的 IC,ISO 26262 規(guī)范此類 IC 需要更高的可靠度的測試等級, BIST 的功能被要求可支持 Power-On Self-Test。Power-On Self-Test 就是當 3.5 噸以下乘用車被啟動時,所有的電子零件必須被檢測以確保電子零件是否安全,這樣的測試流程就是所謂的Power-On Self-Test。

            圖一:Power-On Self-Test 架構圖

            厚翼科技扮演內存測試產業(yè)先驅的角色,Brains 為內嵌式內存自我測試(BIST) 解決方案,HEART 為內嵌式內存修復 (BISR) 解決方案。結合 Brains (內存測試解決方案) 與 HEART (高效率累加式內存修復技術) ,即可達到 Power-On Self-Test 的要求。圖一為 Power-On SelfTest 架構圖,圖二為 Brain 加上 HEART 的架構圖。

            圖二:Brain 加上 HEART 的架構圖

            厚翼科技在內存測試的解決方案中擁有許多專利,Brains 是基于這些專利所開發(fā)出的內存測試解決方案,Brains 將傳統(tǒng)的 BIST 架構做了很大的變革,Brains 充分利用硬件架構分享 (Hardware Sharing) 的設計來達到優(yōu)化的面積和測試時間。Brains 由控制單元 (Controller)、序列控制單元 (Sequencer)和測試樣本產生單元 (Test Pattern Generator) 所構成。其中控制單元負責 Brains 的功能與測試算法的選擇,序列控制單元負責硬件架構分享、測試算法的執(zhí)行和內存分群測試順序安排,測試樣本產生單元則負責測試結果比對與快速內存測試。此外Brains 采用管線式 (Pipeline) 架構設計,所以可以達到快速 (At-Speed) 內存測試以滿足許多車用電子 IC 的測試需求。此外,Brains 可以自動做系統(tǒng)芯片 (SoC) 內的內存分群與判別,更提供使用者自行定義記憶體模式 (User Defined Memory) 滿足客戶使用自行定義的內存。并且 Brains 提供圖形界面 (GUI) 和命令模式 (Command Mode) 兩種操作模式滿足各類工程人員的開發(fā)需求。

            厚翼科技除了在內存測試領域擁有許多專利外,對于內存修復技術也有 很深入的著 墨與許多 專利。厚翼科技 的 HEART (High Efficient Accumulative Repair Technical) 乃是基于 Brains 的檢測結果進行記憶體的修復工程。HEART 采用累加式 (Accumulative) 內存修復技術,結合軟件修復 (Soft-Repair) 和硬件修復 (Hard-Repair) 的優(yōu)點,讓整體的內存修復可以彈性化的重復修復,HEART 的累加式修復技術可以針對安全性與可靠度需求極高的車用電子 IC,提供更完整的內存測試與修復方案。

            厚翼科技的 Brains 加上 HEART 可以達到 Power-On Self-Test 的要求。當交通工具啟動時,Brains 立刻進行內存檢測,HEART 則利用 Brains的檢測結果進行錯誤內存 (Faulty Memory) 的修復工作。以上的流程即可滿足 ISO 26262 中的功能安全 (Functional Safety) 中針對車用電子產品的安全性與可靠度的在線測試需求。

            雖說 ISO 26262 有助于汽車 OEM 廠商和 IC 供貨商研發(fā)車輛安全性相關系統(tǒng),但是有許多廠商卻在遵循這套嚴格規(guī)范的新標準過程中遇上不少困難,原因就在于,車用電子 IC 中所用的內存數(shù)量與日俱增,導致系統(tǒng)愈來愈復雜?;?90%的汽車功能、差異性區(qū)隔和創(chuàng)新都要仰賴儲存于內存中的軟件和一些電子組件,這些廠商就會面臨缺乏安全性生命周期測試流程的支持和自動化的挑戰(zhàn)。面對這些棘手的問題,厚翼科技的 Brains 和 HEART 可協(xié)助汽車制造業(yè)者克服這些難題,使他們減少為符合 ISO26262 標準所花費的成本和時間。



          關鍵詞: 汽車電子 內存

          評論


          相關推薦

          技術專區(qū)

          關閉
          看屁屁www成人影院,亚洲人妻成人图片,亚洲精品成人午夜在线,日韩在线 欧美成人 (function(){ var bp = document.createElement('script'); var curProtocol = window.location.protocol.split(':')[0]; if (curProtocol === 'https') { bp.src = 'https://zz.bdstatic.com/linksubmit/push.js'; } else { bp.src = 'http://push.zhanzhang.baidu.com/push.js'; } var s = document.getElementsByTagName("script")[0]; s.parentNode.insertBefore(bp, s); })();