msp430AD采集數(shù)據(jù)記錄及分析

其中測(cè)試管腳的信號(hào)為：周期為2.4S 高電平時(shí)間為0.3s
設(shè)置AD時(shí)：P6SEL |= 0x08;
ADC12CTL0 = ADC12ON+MSC+REFON+REF2_5V + SHT0_8;
ADC12CTL1 = SHP + CONSEQ_2 + ADC12SSEL_3 +ADC12DIV_7;
ADC12MCTL0 = SREF_1 + INCH_3;
ADC12IE = 0X01;
ADC12CTL0 |= ENC;
ADC12CTL0 |= ADC12SC;
即采用第3通道，選用SMCLK（DCO） 并對(duì)其進(jìn)行8分頻，SHT0_8（256）選用內(nèi)部參考電壓2.5v

測(cè)試1，基于DCO進(jìn)行的測(cè)試

經(jīng)過(guò)實(shí)際測(cè)試：
周期：869 高電平：108 占空比：108/869 = 0.124
周期：870 高電平：109 占空比：109/870 = 0.125
標(biāo)準(zhǔn)：300/2400 = 0.125

理論分析：初始DCO為800K，8分頻為：100K,周期為：10us
而轉(zhuǎn)換一個(gè)數(shù)需要的周期數(shù)據(jù)為256+13+3=272個(gè)ADC12CLK ,
SO 轉(zhuǎn)換一個(gè)數(shù)的時(shí)間為2.72ms
綜上，2.4s內(nèi)能完成2400/2.72=882.35個(gè)數(shù)的轉(zhuǎn)換，與實(shí)測(cè)的870基本吻合。

若不考慮Tsync:則轉(zhuǎn)換一個(gè)數(shù)需要的周期數(shù)據(jù)為256+13=269個(gè)ADC12CLK ,
SO 轉(zhuǎn)換一個(gè)數(shù)的時(shí)間為2690ms
從而2.4S內(nèi)能完成2400/2.69 = 892 (與實(shí)測(cè)的相差大)

測(cè)試2，基于外部8MHz晶體進(jìn)行的測(cè)試

設(shè)置AD時(shí)：
BCSCTL1 &= ~XT2OFF; // 打開(kāi)XT2高頻晶體振蕩器

do
{
IFG1 &= ~OFIFG; //清除晶振失敗標(biāo)志
for (i = 0xFF; i > 0; i--); // 等待8MHz晶體起振
}
while ((IFG1 & OFIFG)); // 晶振失效標(biāo)志仍然存在？

BCSCTL2 = SELM_2+DIVM_3; //select XT2，并對(duì)其進(jìn)行8分頻，然后供給MCLK;
ADC12CTL0 = ADC12ON+MSC+REFON+REF2_5V + SHT0_8; // Turn on ADC12, extend sampling timeSHT0_8

ADC12CTL1 = SHP + CONSEQ_2 + ADC12SSEL_2 +ADC12DIV_7;// Use sampling timer, repeated sequence,并對(duì)ADC時(shí)鐘進(jìn)行8分頻

ADC12MCTL0 = SREF_1 + INCH_3;
ADC12IE = 0X01;
ADC12CTL0 |= ENC; // Enable conversions
ADC12CTL0 |= ADC12SC; // Start conversion

理論分析：
初始XT2為8MHz 8分頻為1MHz ,再對(duì)其進(jìn)行8分頻為125KHz 所以ADC12CLK的周期為8us
so 轉(zhuǎn)換一個(gè)數(shù)的時(shí)間為：（256+3+13）* 8 = 2.176ms
SO 2.4S的周期能轉(zhuǎn)換2400/2.176=1102.9 也即1102個(gè)數(shù)

若不考慮Tsync 則轉(zhuǎn)換一個(gè)數(shù)的時(shí)間為：（256+13）* 8 = 2.152ms
SO 2.4S的周期能轉(zhuǎn)換2400/2.152=1115.2 也即1115個(gè)，與實(shí)際測(cè)試僅差一個(gè)數(shù)。

實(shí)際測(cè)試：
周期：1114 高電平：139 占空比：139/1114 = 0.12477
標(biāo)準(zhǔn)：300/2400 = 0.125

2、把周期為2.4ms 高電平為300ms的脈沖信號(hào)加到另一塊板子上

另一塊板子采用DCO800k ,其余設(shè)置參數(shù)同上 其測(cè)試結(jié)果是：
周期：801 高電平：100 占空比：100/801 =0.1248
周期：799 高電平：99 占空比：99/799 = 0.1239
標(biāo)準(zhǔn)：300/2400 = 0.125

另一塊板子采用XT2=6MHz時(shí)的測(cè)試結(jié)果：
周期：836 高電平： 104 占空比：104/836 = 0.1244
周期：836 高電平： 104 占空比：104/836 = 0.1244 可以看出（利用外部晶體重復(fù)性好）
標(biāo)準(zhǔn)：300/2400 = 0.125

理論分析：
初始XT2為6MHz 8分頻為750KHz ,再對(duì)其進(jìn)行8分頻為93.75KHz 所以ADC12CLK的周期為10.7us
so 轉(zhuǎn)換一個(gè)數(shù)的時(shí)間為：（256+3+13）* 10.7 = 2.91ms
SO 2.4S的周期能轉(zhuǎn)換2400/2.91=824.7 也即824個(gè)數(shù) {與實(shí)際測(cè)試的836基本相符}

若不考慮Tsync 則 2.4S的周期能轉(zhuǎn)換2400/（269*10.67）=836.2 也即836 與實(shí)際測(cè)試完全相符

總結(jié)：就以上測(cè)試分析，可知，基本達(dá)到要求，但對(duì)DCO來(lái)說(shuō)，稍有偏移，
根據(jù)DATASHEET：采樣的總時(shí)間為T(mén)sample +Tsync 但如果，不考慮Tsync,則對(duì)上面的采用外部晶體采集數(shù)據(jù)時(shí)
理論與實(shí)際完全相符。
但對(duì)DCO就不同，并且DCO,對(duì)不同的板子，雖然占空比相同，但采集數(shù)據(jù)個(gè)數(shù)也有很大的差別。這可能與DCO本身,所以為了把2.4S內(nèi)的數(shù)據(jù)都采集到，應(yīng)該取較大的采樣數(shù)據(jù)。
隨溫度及環(huán)境而變化有關(guān)。