JATG調(diào)試器詳解

通常所說的JTAG大致分兩類：
一類用于測(cè)試芯片的電氣特性，檢測(cè)芯片是否有問題；
一類用于Debug；
一般支持JTAG的CPU內(nèi)都包含了這兩個(gè)模塊。
一個(gè)含有JTAG Debug接口模塊的CPU，只要時(shí)鐘正常，就可以通過JTAG接口訪問CPU的內(nèi)部寄存器和掛在CPU總線上的設(shè)備，如FLASH，RAM，SOC（比如4510B，44Box，AT91M系列）內(nèi)置模塊的寄存器，象UART，Timers，GPIO等等的寄存器。
上面說的只是JTAG接口所具備的能力，要使用這些功能，還需要軟件的配合，具體實(shí)現(xiàn)的功能則由具體的軟件決定。
下面我首先介紹一個(gè)JTAG幾條線的作用：
Test Clock Input(TCK)
TCK為TAP的操作提供了一個(gè)獨(dú)立的、基本的時(shí)鐘信號(hào)，TAP的所有操作都是通過這個(gè)時(shí)鐘信號(hào)來驅(qū)動(dòng)的，TCK在IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)里是強(qiáng)制要求的。
Test Mode Selection Input(TMS)
TMS信號(hào)用來控制TAP狀態(tài)機(jī)的轉(zhuǎn)換。通過TMS信號(hào)，可以控制TAP在不同的狀態(tài)間互相轉(zhuǎn)換。TMS信號(hào)在TCK的上升沿有效。TMS在IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)里是強(qiáng)制要求的。
Test Data Input(TDI)
TDI是數(shù)據(jù)輸入的接口，所有要輸入到特定寄存器的數(shù)據(jù)都是用過TDI接口一位一位串行輸入的(由TCK驅(qū)動(dòng))，TDI在IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)里是強(qiáng)制要求的。
Test Data Output(TDO)
TDO是數(shù)據(jù)輸出的接口。所有要從待定的寄存器中輸出的數(shù)據(jù)都是通過TDO接口一位一位串行輸出的(由TCK驅(qū)動(dòng))。TDO在IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)里是強(qiáng)制要求的。
Test Reset Input(TRST)
TRST可以用來對(duì)TAP Controller進(jìn)行復(fù)位(初始化)。不過這個(gè)信號(hào)接口在IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)里是可選的，并不是強(qiáng)制要求的。通過TMS可以對(duì)TAP Controll進(jìn)行復(fù)位(初始化)。所以有四線JTAG和五線JATG之分