stm32 BKP寄存器操作操作寄存器+庫函數(shù)
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BKP在實際應用中可以存入重要數(shù)據(jù)，防止被惡意查看，或用于斷電等。
本例實現(xiàn)對BKP寄存器的讀寫操作，和入侵檢測和處理。主程序中寫入寄存器后，依次打印出10個BKP寄存器數(shù)據(jù)，然后觸發(fā)GPIOC13的入侵中斷（輸入低電平），在中斷中打印出入侵事件發(fā)生后的寄存器內(nèi)容（復位為0 ）。
直接操作寄存器
用到的寄存器描述如下：
備份數(shù)據(jù)寄存器x(BKP_DRx) (x = 1 … 10)：低16位[15:0]有效，用來寫入或讀出備份數(shù)據(jù)。
備份控制寄存器(BKP_CR)：
低兩位有效。
TPAL[1]：侵入檢測TAMPER引腳有效電平(TAMPER pin active level)
- 0：侵入檢測TAMPER引腳上的高電平會清除所有數(shù)據(jù)備份寄存器(如果TPE位為1)
- 1：侵入檢測TAMPER引腳上的低電平會清除所有數(shù)據(jù)備份寄存器(如果TPE位為1)
TPE[0]：啟動侵入檢測TAMPER引腳(TAMPER pin enable)
- 0：侵入檢測TAMPER引腳作為通用IO口使用
- 1：開啟侵入檢測引腳作為侵入檢測使用
備份控制/狀態(tài)寄存器(BKP_CSR):
TIF[9]：侵入中斷標志(Tamper interrupt flag) 0：無侵入中斷 1：產(chǎn)生侵入中斷
當檢測到有侵入事件且TPIE位為1時，此位由硬件置1。
通過向CTI位寫1來清除此標志位(同時也清除了中斷)。如果TPIE位被清除，則此位也會被清除。
TEF[8]：侵入事件標志(Tamper event flag) 0：無侵入事件 1：檢測到侵入事件
當檢測到侵入事件時此位由硬件置1。通過向CTE位寫1可清除此標志位
TPIE[2]：允許侵入TAMPER引腳中斷(TAMPER pin interrupt enable)
0：禁止侵入檢測中斷 1：允許侵入檢測中斷(BKP_CR寄存器的TPE位也必須被置1)
注1：侵入中斷無法將系統(tǒng)內(nèi)核從低功耗模式喚醒。 注2：僅當系統(tǒng)復位或由待機模式喚醒后才復位該位。
CTI[1]：清除侵入檢測中斷(Clear tamper interrupt)
0：無效 1：清除侵入檢測中斷和TIF侵入檢測中斷標志
CTE[0]：清除侵入檢測事件(Clear tamper event)
0：無效 1：清除TEF侵入檢測事件標志(并復位侵入檢測器)。
要寫入BKP寄存器數(shù)據(jù)必須在 PWR->CR中取消備份區(qū)寫保護，才可以寫入BKP數(shù)據(jù)。stm32開啟入侵檢測也不需要設(shè)置GPIOC的時鐘和輸入輸出模式。
代碼如下：（system.h 和stm32f10x_it.h等相關(guān)代碼參照stm32 直接操作寄存器開發(fā)環(huán)境配置）
User/main.c
Library/src/bkp.c
Library/inc/bkp.h
stm12f10x_it.c
}
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